本发明专利技术适用于手势识别领域，提供了一种基于手势识别的异常触摸点去除方法、装置及触摸屏，所述方法通过根据触摸点的坐标信息，获取触摸点的变化率，查找出触摸点的变化率出现异常的异常触摸点，去除异常触摸点；本发明专利技术查找出触摸点的异常变化率，去除了用于手势识别的手势操作中存在异常变化率的异常触摸点，从而提高了手势识别的正确率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于手势识别领域，尤其涉及一种基于手势识别的异常触摸点去除方法、装置及触摸屏。
技术介绍
目前，触摸屏的应用已深入到人们的日常生活和工作中。当用户进行手势操作时，若触摸屏出现了异常情况，触摸屏获取到异常的触摸点坐标值，从而影响了手势识别结果，识别出错误的手势
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供手势识别方法，以解决触摸屏中的异常触摸点坐标影响手势识别的问题。本专利技术实施例是这样实现的，一种基于手势识别的异常触摸点识别方法，所述方法包括根据触摸点的坐标信息，获取触摸点的变化率；查找出触摸点的变化率出现异常的异常触摸点，去除异常触摸点。进一步地，根据触摸点的坐标信息，获取触摸点的变化率的步骤，具体为第一触摸点A的变化率模型为人(4)=-:--， ' X{B)-X{A)所述变化率模型适用于平面直角坐标系，所述第一触摸点A和第二触摸点B为连续的触摸点，且所述第一触摸点A为所述第二触摸点B的前一触摸点，其中，所述K (A)为第一触摸点A的变化率，所述Y (B)为第二触摸点B的纵轴坐标，所述Y (A)为第一触摸点A的纵轴坐标，所述X (B)为第二触摸点B的横轴坐标，所述X (A)为第一触摸点A的横轴坐标； 根据变化率模型和触摸点的坐标信息，获取第一触摸点A的变化率。进一步地，所述查找出触摸点的变化率出现异常的异常触摸点，具体为获取第一触摸点、第二触摸点和第三触摸点的变化率，所述第一触摸点、第二触摸点和第三触摸点为连续的触摸点，且所述第一触摸点为所述第二触摸点的前一触摸点，所述第三触摸点为所述第二触摸点的后一触摸点；若所述第二触摸点的变化率与所述第一触摸点的变化率的差值的绝对值大于第一阈值、所述第二触摸点的变化率与所述第三触摸点的变化率的差值的绝对值大于第一阈值、所述第二触摸点的变化率分别与所述第一触摸点的变化率和所述第三触摸点的变化率的正负号相反、所述第一触摸点的变化率和所述第三触摸点的变化率的差值的绝对值小于第二阈值、所述第一触摸点的变化率和所述第三触摸点的变化率的正负号相同，则判定所述第二触摸点为异常触摸点。进一步地，在根据触摸点的坐标信息，获取触摸点的变化率的步骤之前，还包括以下步骤获取触摸屏上的触摸点的坐标信息，所述触摸点的坐标信息为用于手势识别的手势操作包含的触摸点的坐标信息。本专利技术的另一目的在于提供一种基于手势识别的异常触摸点识别装置，所述装置包括变化率获取单元，用于根据触摸点的坐标信息，获取触摸点的变化率；异常触摸点去除单元，用于查找出触摸点的变化率出现异常的异常触摸点，去除异常触摸点。进一步地,所述变化率获取单元,具体为 第一触摸点A的变化率模型为「 1 f、 Y(B)-Y(A)人.(W) =- 3 XiB)~ X{A)所述变化率模型适用于平面直角坐标系，所述第一触摸点A和第二触摸点B为连续的触摸点，且所述第一触摸点A为所述第二触摸点B的前一触摸点，其中，所述K (A)为第一触摸点A的变化率，所述Y (B)为第二触摸点B的纵轴坐标，所述Y (A)为第一触摸点A的纵轴坐标，所述X (B)为第二触摸点B的横轴坐标，所述X (A)为第一触摸点A的横轴坐标；根据变化率模型和触摸点的坐标信息，获取第一触摸点A的变化率。进一步地,所述异常触摸点去除单元还包括获取单元，用于获取第一触摸点、第二触摸点和第三触摸点的变化率，所述第一触摸点、第二触摸点和第三触摸点为连续的触摸点，且所述第一触摸点为所述第二触摸点的前一触摸点，所述第三触摸点为所述第二触摸点的后一触摸点；异常触摸点判定单元，用于若所述第二触摸点的变化率与所述第一触摸点的变化率的差值的绝对值大于第一阈值、所述第二触摸点的变化率与所述第三触摸点的变化率的差值的绝对值大于第一阈值、所述第二触摸点的变化率分别与所述第一触摸点的变化率和所述第三触摸点的变化率的正负号相反、所述第一触摸点的变化率和所述第三触摸点的变化率的差值的绝对值小于第二阈值、所述第一触摸点的变化率和所述第三触摸点的变化率的正负号相同，则判定所述第二触摸点为异常触摸点。进一步地，所述装置还包括坐标信息获取单元，用于获取触摸屏上的触摸点的坐标信息，所述触摸点的坐标信息为用于手势识别的手势操作包含的触摸点的坐标信息。本专利技术实施例的另一目的在于一种触摸屏，所述触摸屏包括上述的基于手势识别的异常触摸点识别装置。本专利技术提供了一种基于手势识别的异常触摸点去除方法、装置及触摸屏，所述方法通过根据触摸点的坐标信息，获取触摸点的变化率，查找出触摸点的变化率出现异常的异常触摸点，去除异常触摸点；本专利技术去除了用于手势识别的手势操作中的异常触摸点，从而提高了手势识别的正确率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术实施例一提供的基于手势识别的异常触摸点去除方法的实现流程图；图2是本专利技术实施例二提供的基于手势识别的异常触摸点去除装置的组成结构图。具体实施例方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并 不用于限定本专利技术。为了说明本专利技术所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。实施例一:图1示出了本专利技术第一实施例提供的基于手势识别的异常触摸点去除方法的实现流程，其过程详述如下步骤SlOl，根据触摸点的坐标信息，获取触摸点的变化率。在数学领域，线是连续的。在触摸屏中，线是由点组成的，并且这些点是离散的而非连续的；为了模仿数学中的连续线，这些连续获取到的离散点应该在数学中的连续线的附近，不会出现远离所述数学中的连续线的状态，所述远离所述数学中的连续线的离散点为异常触摸点。在获取到触摸点的坐标信息后，可以根据去除异常触摸点的需要，选择不同的触摸点的变化率的获取算法以得到触摸点的变化率。优选的是，根据触摸点的坐标信息，获取触摸点的变化率的步骤，可以为第一触摸点A的变化率模型为A (A) = ~，X(B)-X(A)所述变化率模型适用于平面直角坐标系，所述第一触摸点A和第二触摸点B为连续的触摸点，且所述第一触摸点A为所述第二触摸点B的前一触摸点，其中，所述K (A)为第一触摸点A的变化率，所述Y (B)为第二触摸点B的纵轴坐标，所述Y (A)为第一触摸点A的纵轴坐标，所述X (B)为第二触摸点B的横轴坐标，所述X (A)为第一触摸点A的横轴坐标；根据变化率模型和触摸点的坐标信息，获取第一触摸点A的变化率。在本实施例中，在获取当前触摸点的变化率时，是通过将当前触摸点的后一触摸点与当前触摸点的纵坐标差值除以当前触摸点的后一触摸点与当前触摸点的横坐标差值，作为当前触摸点的变化率。在本实施例中，采用第一触摸点A的变化率模型依次获取各触摸点的变化率。优选的是，在根据触摸点的坐标信息，获取触摸点的变化率的步骤之前，还包括以下步骤获取触摸屏上的触摸点的坐标信息，所述触摸点的坐标信息为用于手势识别的手势操作包含的触摸点的坐标信息；当用户在触摸屏上进行手势操作时,获取手势操作。所述手势操作本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基于手势识别的异常触摸点去除方法，其特征在于，所述方法包括：根据触摸点的坐标信息，获取触摸点的变化率；查找出触摸点的变化率出现异常的异常触摸点，去除异常触摸点。
【技术特征摘要】
1.一种基于手势识别的异常触摸点去除方法，其特征在于，所述方法包括 根据触摸点的坐标信息，获取触摸点的变化率； 查找出触摸点的变化率出现异常的异常触摸点，去除异常触摸点。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据触摸点的坐标信息，获取触摸点的变化率的步骤，具体为 第一触摸点A的变化率模型为3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述查找出触摸点的变化率出现异常的异常触摸点，具体为 获取第一触摸点、第二触摸点和第三触摸点的变化率，所述第一触摸点、第二触摸点和第三触摸点为连续的触摸点，且所述第一触摸点为所述第二触摸点的前一触摸点，所述第三触摸点为所述第二触摸点的后一触摸点； 若所述第二触摸点的变化率与所述第一触摸点的变化率的差值的绝对值大于第一阈值、所述第二触摸点的变化率与所述第三触摸点的变化率的差值的绝对值大于第一阈值、所述第二触摸点的变化率分别与所述第一触摸点的变化率和所述第三触摸点的变化率的正负号相反、所述第一触摸点的变化率和所述第三触摸点的变化率的差值的绝对值小于第二阈值、所述第一触摸点的变化率和所述第三触摸点的变化率的正负号相同，则判定所述第二触摸点为异常触摸点。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据触摸点的坐标信息，获取触摸点的变化率的步骤之前，还包括以下步骤 获取触摸屏上的触摸点的坐标信息，所述触摸点的坐标信息为用于手势识别的手势操作包含的触摸点的坐标信息。5.一种基于手势识别的异常触摸点去除装置，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：张强，
申请(专利权)人：广东欧珀移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：
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