一种阵列基板检测设备的探针框架及检测设备制造技术

本发明专利技术公开了一种探针框架，包括架体和设置在架体上的信号分配电路板，还包括：设置在架体上的电路板，电路板上设置有通孔，且电路板内设置有与通孔一一对应的多条信号传输线路，每一条信号传输线的一端伸入与其对应的通孔内，另一端与信号分配电路板的输出端电性连接；与所述通孔一一对应的多个探针，每一对所述探针与所述通孔，所述探针的一端插入所述通孔、且所述探针插入通孔的一端与该通孔内的信号传输线电性连接。各个探针与信号分配电路板之间的电性连接均通过电路板内的信号传输线实现，探针框架上的布线简单，且能够提高探针与信号分配电路板之间信号连接的稳定性。本发明专利技术还提供了一种具有上述探针框架的阵列基板检测设备。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及阵列基板电学性质测试
，特别涉及一种阵列基板检测设备的探针框架及检测设备。
技术介绍
TFT-1XD在制造过程大概可以分为三个阶段IArray工艺，在一张较大的玻璃基板上形成若干独立的TFT像素阵列电路区，每个像素阵列电路区对应一个液晶显示屏panel ；2cell工艺，在TFT阵列基板上涂布液晶，并覆盖彩色滤光片，拼合成LCD面板并切割成独立的液晶显示屏；3为液晶显示屏安装背光源，偏振片以及周边电路等，形成完整的TFT-LCD显示模块。如图1所示，Array工艺中，在玻璃基板01上沉积形成多个TFT像素阵列电路区 02，每一个TFT像素阵列电路区对应一块阵列基板，为了实现对每一块阵列基板的电学特性检测，玻璃基板01上还设计有与每一个阵列基板对应的多个检测引脚pad03，且这些检测pad03通过导线与对应的显示屏信号引线连接。阵列基板电学参数的测量通过阵列基板检测设备进行。如图2所示，上述检测设备包括探针框架，上述探针框架包括架体04，设置在架体04上的多个探针05，上述多个探针05与上述检测pad03——对应，，设置在架体04上的信号分配电路板06，以及与所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列基板检测设备的探针框架，包括架体和设置在架体上的信号分配电路板，其特征在于，还包括：设置在架体上的电路板，所述电路板上设置有与阵列基板的检测引脚一一对应的通孔，且所述电路板内设置有与所述通孔一一对应的多条信号传输线路，每一条信号传输线的一端伸入与其对应的通孔内，另一端与信号分配电路板的输出端电性连接；与所述通孔一一对应的多个探针，每一对所述探针与所述通孔，所述探针的一端插入所述通孔、且所述探针插入通孔的一端与该通孔内的信号传输线电性连接。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板检测设备的探针框架，包括架体和设置在架体上的信号分配电路板，其特征在于，还包括 设置在架体上的电路板，所述电路板上设置有与阵列基板的检测引脚一一对应的通孔，且所述电路板内设置有与所述通孔一一对应的多条信号传输线路，每一条信号传输线的一端伸入与其对应的通孔内，另一端与信号分配电路板的输出端电性连接； 与所述通孔一一对应的多个探针，每一对所述探针与所述通孔，所述探针的一端插入所述通孔、且所述探针插入通孔的一端与该通孔内的信号传输线电性连接。2.根据权利要求1所述的探针框架，其特征在于，所述电路板的信号传输线与所述信号分配电路板的输出端之间通过排线电性连接。3.根据权利要求1所述的探针框架，其特征在于，所述电路板与所述架体固定连接，所述架体上设置有与所述探针一一对应的圆孔。4.根据权利要求1所述的探针框架，其特征在于，所述电路板与所述架体滑动...

【专利技术属性】
技术研发人员：葛兴，魏振，朱承达，盛俭，蔡元一，张力行，李清生，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：