【技术实现步骤摘要】
一种高速高精度的超声显微扫查装置
本专利技术设计制造了一种应用于超声显微检测中的高速高精度的超声显微扫查系统,适用于电子封装和复合材料的超声显微检测领域。二、
技术介绍
超声显微检测技术是检测电子封装等精密结构内部缺陷的一种非常有效的手段, 它是一种利用聚焦高频超声,通常为20MHz 300MHz,对物体表面、亚表面及其内部一定深度内的细微结构显微成像,进行可视化观察的技术,它主要是针对半导体器件、芯片、材料内部的失效分析,可以检查材料内部的晶格结构,杂质颗粒、内部裂纹、分层缺陷、空洞、气泡等。在超声显微检测中,要提高检测精度,首先需要高频率、小直径的换能器,制作稳定的高频换能器目前是一个技术难点。超声波频率的提高使得超声波的穿透能力下降,衰减迅速,检测信号强度很弱,所以高频超声检测对信号放大技术、信号防屏蔽技术、信号处理算法等都是一个挑战。其次,超声显微扫查需要高精度、高平稳性机械扫查装置,以及高度稳定的扫查平台,以及精确的运动控制算法,才能保证足够的缺陷检出率。另外,由于扫查精度很高,扫查点数多,数据量大,超声显微扫查系统必须采用高效率的触发与采集模式以及存储模式。三、
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一整套高速高精度的超声显微扫查装置及配套扫查软件的设计和制造方案。本专利技术使用聚焦声透镜,利用超声脉冲回波扫查原理,设计制造一套超声显微扫查装置,理论检测分辨率达到3 μ m。根据检测精度的需要,计算所需换能器的形式、频率、聚焦等参数,选取高精度的电机和丝杠,组成工作平台,并采用高性能的运动控制卡、高频数据采集卡,及高频脉冲收发仪,组建超声显微扫查系统 ...
【技术保护点】
一种高速高精度的超声显微扫查装置,其特征在于:它包括基于高频聚焦超声换能器和高频数据采集卡的脉冲回波扫查,直接内存存取(DMA)技术,基于光栅尺编码器触发的高速扫查技术。
【技术特征摘要】
1.一种高速高精度的超声显微扫查装置,其特征在于它包括基于高频聚焦超声换能器和高频数据采集卡的脉冲回波扫查,直接内存存取(DMA)技术,基于光栅尺编码器触发的高速扫查技术。2.根据权利要求1所述的基于高频聚焦超声换能器和高频数据采集卡的脉冲回波扫查,其特征在于高频聚焦超声换能器频率达到50-500MHZ,理论分辨力最高可达3iim ;高频数据采集卡采集频率可达4GHz。3.根据权利要求1所述的基于直接内存存取技术的高速扫...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐春广,门伯龙,刘中柱,赵新玉,肖定国,郭祥辉,杨柳,王宏博,阎红娟,
申请(专利权)人:北京理工大学,
类型:发明
国别省市:
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