【技术实现步骤摘要】
—种LED缺陷检测系统
本专利技术涉及LED，特别是涉及一种LED缺陷检测系统。
技术介绍
以发光二极管(Light Emitting Diode，简称LED)为核心构成的固态照明光源，具有发光效率高、光色纯、能耗小、寿命长、绿色环保等独特优点，被广泛应用在室内照明、道路照明、背光源等方面。随着GaN基LED功率的不断增大以及向更多的照明应用领域拓展，LED的性能优劣成为制约整个LED产业发展的最重要因素，而决定LED质量优劣的根本因素是LED芯片中的缺陷。基于LED芯片级的缺陷检测，可以在封装前后实现批量LED质量的快速区分，因此成为LED生产应用过程中的重要一环。 现有的LED芯片级的缺陷检测，公开号CN101581756，申请号CN200910138900. 1，名称为一种LED芯片的非接触式检测方法的专利申请，提出一种LED芯片级的检测方法，利用LED芯片PN结的光电特性和光生伏特效应，提取光生伏特效应产生的自发光从而分析LED芯片的质量好坏。但这种方法只能定性的讨论LED芯片质量，并不能给出具体的LED芯片性能指标，比如缺陷密度、非辐射复合系数等。同时，...
【技术保护点】
一种LED缺陷检测系统，其特征在于：包括驱动恒流源（100）、屏蔽装置（300）、LED固定装置（500）、光汇聚装置（700）、光检测装置（800）、信号处理装置（900）；所述LED固定装置（500）用于承载固定待检测的LED；所述驱动恒流源（100）用于施加范围在1pA～1mA的电流至所述LED，使所述LED电致发光；所述屏蔽装置（300）用于屏蔽周围环境中的背景光，使所述LED发出的光不受背景光的干扰；所述光汇聚装置（700）用于将所述LED发出的光汇聚至所述光检测装置（800）；所述光检测装置（800）检测所述LED发出的光，将检测的光信号转换为电信号输出至所述信...
【技术特征摘要】
1.一种LED缺陷检测系统，其特征在于包括驱动恒流源(100)、屏蔽装置(300)、LED 固定装置(500)、光汇聚装置(700)、光检测装置(800)、信号处理装置(900)；所述LED固定装置(500)用于承载固定待检测的LED ；所述驱动恒流源(100)用于施加范围在IpA ImA的电流至所述LED,使所述LED电致发光;所述屏蔽装置(300)用于屏蔽周围环境中的背景光，使所述LED发出的光不受背景光的干扰；所述光汇聚装置(700)用于将所述LED发出的光汇聚至所述光检测装置(800)；所述光检测装置(800)检测所述LED发出的光，将检测的光信号转换为电信号输出至所述信号处理装置(900)；所述信号处理装置(900)接收所述LED刚好有光子发出时所述光检测装置(800)输出的电信号，同时存储所述LED刚好有光子发出时所述驱动恒流源(100)施加的电流值，根据所述电流值和所述电信号计算得到所述LED的缺陷密度。2.根据权利要求1所述的LED缺陷检测系统，其特征在于所述信号处理装置(900)将所述电信号转换为对应的光通量Q，将所述电流值转换为对应的注入电子数M，根据如下方 程计算得到所述LED的非辐射复合系数A3.根据权利要求1所述的LED缺陷检测系统，其特征在于所述光汇聚装置(700)包括抛物线型反光罩(701)和凸透镜(702)，所述抛物线型反光罩(701)用于将入射的光线反射至所述凸透镜(702)，所述凸透镜(702)用于将入射的光线折射后汇聚至所述光检测装置 (800)。4.根据权利要求1所述的LED缺陷检测系统，其特征在于所述光汇聚装置(700)包括准直透镜(703 )，所述准直透镜(703 )用于将所述LED发出的光准直处理后汇聚至所述光检测装置(800)。5.根据权利要求1所述的LED缺陷检测系统，其特征在于所述光检测装置(800)包括光电探头和A/D转换器,所述光电探头探测所述LED发出的光,将光信号转换为模拟电信号输出，所述A/D转换器接收所述光电探头输出的模拟电信号，将所述模拟电信号转换为数字电信号后输出至信号处...
【专利技术属性】
技术研发人员：钱可元，罗毅，郭祖强，
申请(专利权)人：清华大学深圳研究生院，
类型：发明
国别省市：
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