【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种暗电平指标可控的成像系统，其特征在于：包括暗电平测试环境、实时图像采集与显示系统以及放置于暗电平测试环境中的光电成像传感器、运算放大器、图像信号处理芯片、开关控制电路、模拟开关和参考电平补偿网络，所述光电成像传感器的模拟图像信号输出端与运算放大器的输入端+IN连接，所述运算放大器的输出端OUTPUT通过电容与图像信号处理芯片的输入端连接，所述图像信号处理芯片的数字图像信号输出端与实时图像采集与显示系统的输入端连接，所述参考电平补偿网络通过模拟开关与运算放大器的输入端?IN连接，所述开关控制电路根据光电成像传感器所输出模拟图像信号的哑像元段与有效像元段的时序关系控制模拟开关的闭合与断开。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：许哲，张健，李爱玲，单金玲，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：实用新型
国别省市：
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