一种天线时延测试方法技术

技术编号:8491891 阅读:240 留言:0更新日期:2013-03-28 22:45
本发明专利技术公开了一种天线时延测试方法,该方法首先在满足天线远场条件的微波暗室环境,引入与被测天线同频段,同极化的三个形式一致的标准时延天线,并将其中每两个标准时延天线组成收发链路,链路满足天线远场条件,用矢量网络分析仪测出其组合时延,再利用三组测出的组合时延值,联立方程组,求出任意一个标准时延天线的时延值,最后将时延已知的标准时延天线与被测天线组成收发链路,链路满足天线远场条件,用矢量网络分析仪测出其组合时延,再利用标准时延天线时延为已知量,解出被测天线的时延值。本发明专利技术的测试方法简单、测试精度高,并且适用范围广。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种天线时延测试方法,其特征在于步骤如下:(1)在微波暗室环境,引入三个形式一致且与被测天线同频段、同极化的标准时延天线A,B,C;(2)将标准时延天线A和标准时延天线B组成收发链路,标准时延天线A和标准时延天线B之间的距离R满足,R≥2D2/λ,利用矢量网络分析仪测出收发链路的组合时延值T1,得到TA+TB=T1?TAB...............................................................(1);其中:D为标准时延天线的最大口径,λ为标准时延天线的工作波长,TA为标准时延天线A的时延,TB为标准时延天线B的时延,TAB为标准时延天线A与...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李黎冯德会赵东升吴春邦刘灵鸽杨文丽
申请(专利权)人:西安空间无线电技术研究所
类型:发明
国别省市:

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