【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及到液晶显示领域,特别涉及到一种彩色滤光片穿透频谱量测偏差补正的系统和方法。
技术介绍
TFT-LCD (Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,薄膜晶体管液晶显示器)因其体积薄、重量轻、画面质量优异、功耗低、寿命长、数字化和无辐射等优点在各种大、中、小的产品上得到广泛应用,几乎涵盖了当今信息社会的主要电子产品,例如,电视、电脑、手机、GPS (全球定位系统)、车载显示、公共显示等。TFT-1XD是半导体技术和液晶显示技术相结合的产物,CF (Color Filter,彩色滤光片)的制作是整个项目中技术难度较大的部分。在CF的制作过程中,其品质的高低由其个膜层的色度特性值来体现,而色度需通过显微分光仪(色度计)来量测,量测步骤如图1所示。速度计的卤素灯一般使用期限为1500小时,约两个月或者在Lamp (灯)异常衰减和烧毁时进行更换。而在更换新Lamp后由于Lamp的差异,导致在第4步(如图1)得到的信号值光强曲线变化较大,导致第5步计算的到的穿透频谱出现差值,从而导致第6步的色度特性值发生变化,变异严 ...
【技术保护点】
一种彩色滤光片穿透频谱量测偏差补正方法,其特征在于,该方法包括步骤:A、取色度特性值正常的彩色滤光片标准片;B、标准片自动进行穿透频谱量测以获得标准片的穿透频谱标准数据;C、分析是否需要启动量测补正;D、在需要启动量测补正时,对标准片自动进行穿透频谱量测以获得标准片的穿透频谱即时量测数据;E、计算穿透频谱即时量测数据与穿透频谱标准数据的偏差;F、根据计算的偏差对量测单元进行量测补正。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:黄文德,叶巧云,张岳妍,
申请(专利权)人:深圳市华星光电技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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