【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及太赫兹探测与成像
,具体涉及一种。
技术介绍
太赫兹(Terahertz, THz)波指频率介于O.1 IOTHz (波长3mnT30 m)的电磁福射,其电磁波谱位于微波和红外波段之间,因此,太赫兹系统兼顾电子学和光学系统的优势。长期以来,由于缺乏有效的THz辐射产生和检测方法,人们对于该波段电磁辐射性质的了解非常有限,以至于该波段被称为电磁波谱中的THz空隙。该波段也是电磁波谱中有待进行全面研究的最后一个频率窗口。近年来由于自由电子激光器和超快激光技术的发展, 为THz脉冲的产生提供了稳定、可靠的激发光源,使THz辐射的产生机理、检测技术和应用技术的研究得到蓬勃发展。与其它波段的电磁波相比,THz电磁波具有如下独特特点①THz波的波长处于微波及红外光之间,因此在应用方面相对于其它波段的电磁波,如微波和X射线等,具有非常强的互补特征THz波的典型脉宽在亚皮秒量级,不但可以进行亚皮秒、飞秒时间分辨的瞬态光谱研究,而且通过取样测量技术,能够有效地防止背景辐射噪音的干扰THz波具有很高的时间和空间相干性,这一特点在研究材料的瞬态相干动力学问题时具 ...
【技术保护点】
一种用于吸收太赫兹辐射的粗糙黑化金属薄膜,其特征在于:①所述金属薄膜表面被粗糙黑化;②所述金属薄膜的黑化表面为晶体缺陷;③所述金属薄膜为位于太赫兹探测器敏感单元顶层的太赫兹吸收层。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:王军,苟君,杨明,闫淼,蒋亚东,黎威志,
申请(专利权)人:电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
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