活动模拟块检测结构制造技术

本发明专利技术提供了活动模拟块检测结构，其使得对零件表面的大块凹坑的检测精准度高、且检测的效率高。其包括检具、零件，所述零件压装于所述检具，其特征在于：所述检具的两侧设置有基准平面，所述检具对应所述零件的表面的凹坑的位置设置有下部凹坑模拟块，所述凹坑配合嵌装于所述下部凹坑模拟块，上部模拟块为活动部件，所述上部模拟块的下端、侧部形状和所述凹坑相吻合，所述上部模拟块置于所述凹坑的上表面，所述上部模拟块的上表面为平面，当检测合格时，所述上部模拟块的上表面和两侧的基准平面相平齐。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及汽车零部件检具结构的
，具体为活动模拟块检测结构。
技术介绍
当汽车的零件出现表面大块凹坑需要检测时，现有的检具一般通过检测凹坑上的点的位置是否到位来检测凹坑是否符合要求，其精准度差；且需要多个检测点才能够判断出凹坑是否符合要求，检测的效率低。
技术实现思路
针对上述问题，本专利技术提供了活动模拟块检测结构，其使得对零件表面的大块凹坑的检测精准度高、且检测的效率高。活动模拟块检测结构，其技术方案是这样的其包括检具、零件，所述零件压装于所述检具，其特征在于所述检具的两侧设置有基准平面，所述检具对应所述零件的表面的凹坑的位置设置有下部凹坑模拟块，所述凹坑配合嵌装于所述下部凹坑模拟块，上部模拟块为活动部件，所述上部模拟块的下端、侧部形状和所述凹坑相吻合，所述上部模拟块置于所述凹坑的上表面，所述上部模拟块的上表面为平面，当检测合格时，所述上部模拟块的上表面和两侧的基准平面相平齐。采用本专利技术后，当需要检测零件表面的大块凹坑结构时，将零件置于下部凹坑模拟块的上方之后，将上部模拟块放置于凹坑的上表面，不能使用蛮力确保其互相贴合，通过观察上部模拟块的上表面和两侧的基准平面是否平齐，检测出凹坑是否合格，其使得对零件表面的大块凹坑的检测精准度高、且检测的效率高。附图说明图1是本专利技术的主视图结构示意图。具体实施例方式见图1，其包括检具1、零件2，零件2压装于检具1，检具I的两侧设置有基准平面3，检具2对应零件2的表面的凹坑4的位置设置有下部凹坑模拟块5，凹坑4配合嵌装于下部凹坑模拟块5，上部模拟块6为活动部件，上部模拟块6的下端、侧部形状和凹坑4相吻合，上部模拟块6置于凹坑4的上表面，上部模拟块6的上表面7为平面，当检测合格时，上部模拟块6的上表面7和两侧的基准平面3相平齐。权利要求1.活动模拟块检测结构，其包括检具、零件，所述零件压装于所述检具，其特征在于所述检具的两侧设置有基准平面，所述检具对应所述零件的表面的凹坑的位置设置有下部凹坑模拟块，所述凹坑配合嵌装于所述下部凹坑模拟块，上部模拟块为活动部件，所述上部模拟块的下端、侧部形状和所述凹坑相吻合，所述上部模拟块置于所述凹坑的上表面，所述上部模拟块的上表面为平面，当检测合格时，所述上部模拟块的上表面和两侧的基准平面相平齐。全文摘要本专利技术提供了活动模拟块检测结构，其使得对零件表面的大块凹坑的检测精准度高、且检测的效率高。其包括检具、零件，所述零件压装于所述检具，其特征在于所述检具的两侧设置有基准平面，所述检具对应所述零件的表面的凹坑的位置设置有下部凹坑模拟块，所述凹坑配合嵌装于所述下部凹坑模拟块，上部模拟块为活动部件，所述上部模拟块的下端、侧部形状和所述凹坑相吻合，所述上部模拟块置于所述凹坑的上表面，所述上部模拟块的上表面为平面，当检测合格时，所述上部模拟块的上表面和两侧的基准平面相平齐。文档编号G01B5/00GK102997780SQ20121042316公开日2013年3月27日 申请日期2012年10月30日 优先权日2012年10月30日专利技术者朱建平 申请人:无锡市麦希恩机械制造有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
活动模拟块检测结构，其包括检具、零件，所述零件压装于所述检具，其特征在于：所述检具的两侧设置有基准平面，所述检具对应所述零件的表面的凹坑的位置设置有下部凹坑模拟块，所述凹坑配合嵌装于所述下部凹坑模拟块，上部模拟块为活动部件，所述上部模拟块的下端、侧部形状和所述凹坑相吻合，所述上部模拟块置于所述凹坑的上表面，所述上部模拟块的上表面为平面，当检测合格时，所述上部模拟块的上表面和两侧的基准平面相平齐。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱建平，
申请(专利权)人：无锡市麦希恩机械制造有限公司，
类型：发明
国别省市：