铅浓度对凤梨叶片影响的测定方法技术

本发明专利技术提供一种铅浓度对凤梨叶片影响的测定方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)、用蛭石和草炭以1∶1的重量比配制栽培基质；(2)、将栽培基质放入事先已经标记好的方盆中称量，Pb(NO3)2以水溶液的形式均匀拌入土壤中，得到培养基质；(3)、将凤梨植株种植在混有不同浓度的Pb2+培养基质和不含Pb2+的培养基质上，每个处理重复三次。本发明专利技术提供了一种合理的测定方法，可以简单方便的测定铅浓度对凤梨叶片的影响，从而找到凤梨的最大铅胁迫浓度，为进一步进行科学研究提供有力的数据支撑。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于植物生理生长领域，尤其是涉及一种。
技术介绍
随着现代经济的高速发展，环境污染物的排放量与日剧增，汽油中加入的抗暴剂， 经燃烧后，烷基铅分解为铅的氧化物，随废气排入大气，成为空气中铅污染的主要来源。叶绿素含量是植物光合作用密切相关，是植物叶片的主要光合色素，其含量是植物生理研究中的重要指标。诸多报道表明铅胁迫下植物的叶绿素(Chl)含量减少，主要是铅处理抑制了 Chl的生物合成。查阅相关的文献得知，过量的Pb2+能导致叶绿体基粒垛叠结构解体及与片层结构有关的基质明显减少，破坏叶绿体结构；由于铅对其他营养元素的拮抗作用，影响了营养元素向叶部运输，使叶绿素正常合成受阻；铅还可增加叶绿素酶的活性，使叶绿素分解，这些均导致叶绿素的含量下降。凤梨属于观赏型植物，有时凤梨植物会被摆在不同的场合，尤其在室外的时候，受大气中铅的影响会比较严重，这时就会对凤梨造成不同程度的损伤。需要提供一种测定铅浓度对凤梨叶片影响的方法，进而为修复凤梨重金属污染的应用提供理论依据。
技术实现思路
本专利技术要解决的问题是提供一种试验方法简单、易操作、数据可，可靠的。为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种铅浓度对凤梨叶片影响的测定方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)、用蛭石和草炭以1∶1的重量比配制栽培基质；(2)、将栽培基质放入事先已经标记好的方盆中称量，Pb(NO3)2以水溶液的形式均匀拌入土壤中，得到培养基质，以不加Pb(NO3)2为对照组，处理组Pb2+浓度分别为500mg·kg?1、1000mg·kg?1、1500mg·kg?1，溶液pH?5.6；(3)、将凤梨植株种植在混有不同浓度的Pb2+培养基质和不含Pb2+的培养基质上，每个处理重复三次，种植前充分灌溉培养液至基质达到80％饱和湿度，保持温度白天22°C～28°C，夜间19°C～21°C；湿度白天70％～80％，夜间80...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨铁顺，赵亮，柯盛发，冯常新，刘青，吴建平，闵宇，
申请(专利权)人：天津滨海国际花卉科技园区股份有限公司，
类型：发明
国别省市：