光学气体分析装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种光学气体分析装置，其包括至少一个在管形测量样品池(1)中形成的、由被测气体流过的测量腔(M)，所述至少一个测量腔被至少一个设置在输入侧的红外射线源(2)纵向照射，所述红外射线源的通过吸收损失而减弱的光束用至少一个设置在输出侧的、用于按照NDIR光谱原理进行气体浓度分析的光-气动检测器(5)测量，设有用于改进在气体混合物分析时的选择性的光学装置，用于改进选择性的光学装置包括一个带有前置的光学干涉滤光片(7)的宽带接收器(6)，该光学干涉滤光片附加于光-气动检测器(5)地使用，用以抑制在被测气体中的杂质成分造成的干扰影响。

【技术实现步骤摘要】
光学气体分析装置
本专利技术涉及一种光学气体分析装置，其包括至少一个在至少一个管形测量样品池中形成的由被测气体流过的测量腔，所述至少一个测量腔被至少一个设置在输入侧的红外射线源纵向照射，至少一个设置在输出侧的用于按照NDIR光谱测量原理工作的分析气体浓度的光-气动(opto-pneumatisch)检测器测量所述红外射线源的因吸收损失而减弱的光束，设有用于在气体混合物分析时改善选择性的光学装置。
技术介绍
这种按照NDIR光谱学原理工作的气体分析装置的应用范围从气体——例如一氧化碳或者二氧化碳——的浓度分析至空气监控直至复杂气体混合物的微量分析。就在这方面，NDIR光谱测量，与其他分析方法诸如FTIR光谱法或者气体色谱分析法相比，用测量技术上较少的消耗提供小的指示极限，因此提供小的灵敏度。借助于按照非发散性红外光谱(NDIR)原理工作的气体分析装置的气体分析被广泛采用。气体分析装置的原理结构总是相同的。从红外射线源发射的光束透射包含被测气体的测量样品池，并在光线的输出侧上照在光电转换器上，该转换器主要形成为光-气动检测器。以足够的信噪比产生检测信号主要要求对射线源发出的光束进行调制。本文档来自技高网...

【技术保护点】
光学气体分析装置，其包括在管形测量样品池(1，1a、1b)中形成的、由被测气体流过的至少一个测量腔(M)，所述至少一个测量腔被至少一个设置在输入侧的红外射线源(2，2a、2b)纵向照射，所述红外射线源的通过吸收损失而减弱的光束用至少一个设置在输出侧的、用于按照NDIR光谱原理进行气体浓度分析的光?气动检测器(5)测量，设有在气体混合物分析时用于改进选择性的光学装置，其特征在于，用于改进选择性的光学装置包括一个带有前置的光学干涉滤光片(7)的宽带接收器(6)，该光学干涉滤光片附加于光?气动检测器(5)地使用，用以抑制在被测气体中的杂质成分造成的干扰影响。

【技术特征摘要】
2011.07.29 DE 102011108941.51.光学气体分析装置，其包括至少一个在至少一个管形测量样品池(1，1a、1b)中形成的、由被测气体流过的测量腔(M)，所述至少一个测量腔被至少一个设置在输入侧的红外射线源(2，2a、2b)纵向照射，所述红外射线源的通过吸收损失而减弱的光束用至少一个设置在输出侧的、用于按照NDIR光谱原理进行气体浓度分析的光-气动检测器(5)测量，设有在气体混合物分析时用于改进选择性的光学装置，其特征在于，用于改进选择性的光学装置包括一个带有一个前置的光学干涉滤光片(7)的、设置在测量样品池(1，1a、1b)下游的宽带接收器(6)，所述光学干涉滤光片按照预先确定的样本具有多个透射范围，该光学干涉滤光片附加于光-气动检测器(5)地使用，用以抑制在被测气体中的杂质成分造成的干扰影响。2.按照权利要求1的光学气体分析装置，其特征在于，所述宽带接收器(6)形成为热电检测器。3.按照权利要求1的光学气体分析装置，其特征在于，由光-气动检测器(5)给出的、用于探测待测气体成分的第一信号(S1)以及由宽带接收器(6)给出的、与在光-气动检测器(5)上测量的横向灵敏度成正比的...

【专利技术属性】
技术研发人员：C·拉特克，J·卡普勒，
申请(专利权)人：ABB技术股份公司，
类型：发明
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