基于ENZ理论的激光光束检测装置及方法制造方法及图纸

基于ENZ理论的激光光束检测装置及方法属于激光技术领域。现有技术操作步骤繁琐、检测精度低、分辨率难以提高、信噪比低、成本高。本发明专利技术之装置CCD探测器与数据处理计算机相连，成像透镜位于CCD探测器前方，CCD探测器感光面与成像透镜焦平面c平行；CCD探测器固定在滑块上，滑块与导轨构成导轨滑块机构。本发明专利技术之方法取成像透镜焦平面c处及对称的前、后离焦面a、b处的被检激光光束光斑强度图像，采用ENZ多项式构造波前拟合系数求取方程组，求解该方程组得到拟合光瞳平面激光光束波前的复数波前拟合系数值，通过迭代算法，去除高阶误差，得到精确的波前拟合系数值，从而得到光瞳平面激光光束的相位和振幅，拟合波前；再根据相位信息、强度信息，通过矩法计算特征值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种基于ENZ理论的激光光束检测装置及方法，所述激光光束检测装置属于一种激光波前及特征值检测装置，能够完成激光波前的高精度测量，所述激光光束检测装置还能够作为激光通信中波前探测装置，所述激光光束检测方法能够完成激光相关特征值的计算，属于激光

技术介绍
激光已经被广泛应用于各行各业，激光检测设备也是各种各样。由于对激光的各项技术指标要求越来越高，对激光检测设备也就提出了越来越高的要求。现有波前探测装置为哈特曼波前传感器，用于激光测量、激光通信以及光学元件检测等。哈特曼波前传感器的前端需要配合扩束及缩束系统，同时，哈特曼波前探测器还需要在CCD探测器前端装调微透镜阵列。可见采用哈特曼波前传感器检测激光光束操作步骤繁琐；在CCD探测器前端装调微透镜阵列会给整个系统带来装调误差，影响整个波前的检测精度，微透镜阵列还会制约探测动态范围；哈特曼波前传感器的分辨率为前端微透镜阵列的阵列数，因此，采用哈特曼波前传感器波前探测分辨率难以提高；同样是由于微透镜阵列的存在，探测到的激光束的能量也会降低，从而使探测到的图像的信噪比降低；哈特曼波前传感器所使用的CCD探测器应当具有较本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于ENZ理论的激光光束检测装置，CCD探测器（1）与数据处理计算机（2）相连，其特征在于，成像透镜（3）位于CCD探测器（1）前方，CCD探测器感光面（4）与成像透镜（3）焦平面c平行；CCD探测器（1）固定在滑块（5）上，滑块（5）与导轨（6）构成导轨滑块机构。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘敏时，王晓曼，王斌，
申请(专利权)人：长春理工大学，
类型：发明
国别省市：