【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示
,特别涉及一种面板暗点检测电路。
技术介绍
目前,平面电场宽视角核心技术-高级超维场转换技术(ADvancedSuperDimension Switch, ADS)可以提高TFT-LCD产品的画面品质,具有高分辨率、高透过率、低功耗、宽视角、高开口率、低色差、无挤压水波纹(Push Mura)等优点。但在阵列基板生产工艺中会产生有源层残留(Active&N+Remain),到液晶成盒后会造成点状不良较多,此种残留微观显微镜下轻微,但是Remain造成的暗点不良相比TN (Twisted Nematic)型会更加直观的凸显出来,但是在面板切割形成面板状态时,暗点现象非常微弱,Module状态比较明显。因此在这种暗点在面板状态时不容易被检测出来,若这种暗点不良的面板流入Module则会产生较多不合格的产品,从而增加不必要的成本。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本专利技术要解决的技术问题是如何在面板状态下有效地检测出Remain造成的暗点不良。(二)技术方案为解决上述技术问题,本专利技术提供了一种面板暗点检测电路,包括预设电压产生 ...
【技术保护点】
一种面板暗点检测电路,其特征在于,包括:预设电压产生模块和选择电路模块,所述预设电压产生模块连接所述选择电路模块,用于将产生的N个预输入面板的预设电压传输至所述选择电路模块,所述选择电路模块包括N个用于分别接收所述N个预设电压的输入端口、一个输出端口及用于选通所述输出端口与其中一个输入端口的选通开关,N≥2。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:楚正勇,朴世赫,陈传雄,
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司,成都京东方光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。