一种低老化率超宽温恒温晶振制造技术

一种低老化率超宽温恒温晶振，其特征在于，包括晶体振荡器电路、恒温控制器电路和相关结构零部件。所述的晶体振荡器电路由振荡电路、幅度放大电路、波形变换电路三部分依次串接组成。所述的恒温控制器电路由热敏直流电桥、运算放大电路、功率放大电路三部分依次串接组成。所述的相关结构零部件由两块印制板(主板和副板)、一块紫铜导热板、一套保温层和一套金属外壳构成。低老化率超宽温恒温晶振的体积为30×30×15(mm)，典型频率为40MHz，老化率为10-10/日，频率稳定度为10-12/s，频率温度稳定度为10-9/-55℃-+85℃。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种低老化率超宽温恒温晶振，其特征在于，包括晶体振荡器电路，所述的晶体振荡器电路由振荡电路、幅度放大电路、波形变换电路三部分依次串接组成；还包括恒温控制电路，所述的恒温控制器电路由热敏直流电桥、运算放大电路和功率放大电路组成。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：单涨国，
申请(专利权)人：西安晶盛电子科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：