一种高精度时刻鉴别电路制造技术

本发明专利技术公开了一种高精度时刻鉴别电路，包括两个APD探测器，所述两个APD探测器的信号输出端分别与两个调理电路的信号输入端相连，两调理电路的输出端分别连接到第一电子开关的S1以及S2接口；所述时间间隔测量模块的信号输出端与CPU的信号输入口相连，CPU的两个I/O接口分别连接到两电子开关的控制信号接口上。本发明专利技术设置两个APD探测器，将发出信号与接收信号送入到同一套后续处理电路之中，由于同一套电子元件以及电子芯片的固有误差在相同的电路中的差别很小，因此，将发出信号与接收信号送入到同一套后续处理电路之中会减小测距系统的误差，提高测量的精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于时刻鉴别领域，涉及一种时刻鉴别电路，尤其是一种高精度时刻鉴别电路。
技术介绍
随着激光技术的发展，激光测距的技术已经趋于完善和成熟。激光测距一般采用两种方法脉冲法和相位法。其中脉冲激光测距法的发展迅速，应用也十分广泛。测距仪发射出的激光经被测量物体的反射后又被测距仪接收，测距仪同时记录激光往返的时间。光速和往返时间的乘积的一半，就是测距仪和被测量物体之间的距离。传统的方法是将脉冲激光发出产生的信号与接收产生的信号送入到两套不同的后续处理电路之中。然而，由于电子元件以及电子芯片存在的固有误差在不同的电路中会有差别，两套不同的后续处理电路的固有误差也有所不同。因此，将发出信号与接收信号送入到两套不同的后续处理电路之中会增加测距系统的误差，使精度有所下降。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供一种高精度时刻鉴别电路，该电路将发出信号与接收信号送入到同一套后续处理电路之中，可以抵消这方面增加的误差，提闻测量的精度。本专利技术的目的是通过以下技术方案来解决的一种高精度时刻鉴别电路，包括两个APD探测器，两个调理电路，两个电子开关，两个比较器，衰减模块，延时模块，时间间隔测量模块以及CPU模块；所述两个Aro探测器的信号输出端分别与两个调理电路的信号输入端相连，两调理电路的输出端分别连接到第一电子开关的SI以及S2接口，第一电子开关的输出端分别与第一比较器的正向输入端、衰减模块输入端以及延时模块输入端相连；所述衰减模块与延时模块的输出端分别连接到第二比较器的反向输入端与正向输入端；所述两个比较器的输出端均连接到与门的两个信号输入端，与门的输出与第二电子开关的输入端相连，第二电子开关的SI与S2接口均连接到时间间隔测量模块的两个输入端；所述时间间隔测量模块的信号输出端与CPU的信号输入口相连，CPU的两个I/O接口分别连接到两电子开关的控制信号接口上。上述比较器采用高速比较器MAX9600。上述时间间隔测量模块的信号输出端通过CPU的SPI接口与CPU相连。本专利技术设置两个Aro探测器，将发出信号与接收信号送入到同一套后续处理电路之中，由于同一套电子元件以及电子芯片的固有误差在相同的电路中的差别很小，因此，将发出信号与接收信号送入到同一套后续处理电路之中会减小测距系统的误差，提高测量的精度。附图说明图I为本专利技术的整体结构示意图。具体实施例方式下面结合附图对本专利技术做进一步详细描述参见图1，这种高精度时刻鉴别电路，包括两个APD探测器，两个调理电路，两个电·子开关，两个比较器，衰减模块，延时模块，时间间隔测量模块以及CPU模块；所述两个APD探测器的信号输出端分别与两个调理电路的信号输入端相连，两调理电路的输出端分别连接到第一电子开关5的SI以及S2接口，第一电子开关的输出端分别与第一比较器6的正向输入端、衰减模块输入端以及延时模块输入端相连；所述衰减模块与延时模块的输出端分别连接到第二比较器7的反向输入端与正向输入端；所述两个比较器的输出端均连接到与门8的两个信号输入端，与门8的输出与第二电子开关9的输入端相连，第二电子开关9的SI与S2接口均连接到时间间隔测量模块的两个输入端；所述时间间隔测量模块的信号输出端与CPU的信号输入口相连，CPU的两个I/O接口分别连接到两电子开关的控制信号接口上。比较器采用高速比较器MAX9600。时间间隔测量模块的信号输出端通过CPU的SPI接口与CPU相连。参见图I，本专利技术的具体实施过程如下CPU通过I/O 口输出低电平，使SI导通，当第一 APD探测器I接收到光照，产生方波A。此时SI导通，S2断开，所以方波A就能通过第一电子开关5进入到后续第一调理电路3之中。在激光从目标反射回来之前，CPU通过I/O 口输出高电平，使S2导通。当反射激光照射到第二 APD探测器2上，产生方波B。而此时S2导通，SI断开，所以方波B就能通过第一电子开关5进入到后续第二调理电路4之中。后续电路之中使用到了两个高速比较器MAX9600，其中一个用于时刻鉴别比较，另一个是用来抑制干扰。两个MAX9600的输出端接入一个与门(8)，当方波是由目标反射的激光产生时，高速比较后的产生的脉冲首先通过SI连入时间间隔测量模块，之后CPU将开关再切换至S2，等待方波B通过S2连入时间间隔测量模块，最后，时间间隔测量模块测量两个脉冲之间的时间间隔，并将时间间隔测量值通过SPI 口输入到CPU中并计算出距离值。权利要求1.一种高精度时刻鉴别电路，其特征在于包括两个Aro探测器，两个调理电路，两个电子开关，两个比较器，衰减模块，延时模块，时间间隔测量模块以及CPU模块；所述两个APD探测器的信号输出端分别与两个调理电路的信号输入端相连，两调理电路的输出端分别连接到第一电子开关(5)的SI以及S2接口，第一电子开关的输出端分别与第一比较器(6)的正向输入端、衰减模块输入端以及延时模块输入端相连；所述衰减模块与延时模块的输出端分别连接到第二比较器(7)的反向输入端与正向输入端；所述两个比较器的输出端均连接到与门(8)的两个信号输入端，与门(8)的输出与第二电子开关(9)的输入端相连，第二电子开关(9)的SI与S2接口均连接到时间间隔测量模块的两个输入端；所述时间间隔测量模块的信号输出端与CPU的信号输入口相连，CPU的两个I/O接口分别连接到两电子开关的控制信号接口上。2.根据权利要求I所述的一种高精度时刻鉴别电路，其特征在于所述比较器采用高速比较器MAX9600。3.根据权利要求I所述的一种高精度时刻鉴别电路，其特征在于所述时间间隔测量模块的信号输出端通过CPU的SPI接口与CPU相连。全文摘要本专利技术公开了一种高精度时刻鉴别电路，包括两个APD探测器，所述两个APD探测器的信号输出端分别与两个调理电路的信号输入端相连，两调理电路的输出端分别连接到第一电子开关的S1以及S2接口；所述时间间隔测量模块的信号输出端与CPU的信号输入口相连，CPU的两个I/O接口分别连接到两电子开关的控制信号接口上。本专利技术设置两个APD探测器，将发出信号与接收信号送入到同一套后续处理电路之中，由于同一套电子元件以及电子芯片的固有误差在相同的电路中的差别很小，因此，将发出信号与接收信号送入到同一套后续处理电路之中会减小测距系统的误差，提高测量的精度。文档编号H03K5/125GK102946242SQ20121043661公开日2013年2月27日 申请日期2012年11月5日 优先权日2012年11月5日专利技术者孙剑, 田征, 侯德门, 郭鹏斌 申请人:西安交通大学本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高精度时刻鉴别电路，其特征在于：包括两个APD探测器，两个调理电路，两个电子开关，两个比较器，衰减模块，延时模块，时间间隔测量模块以及CPU模块；所述两个APD探测器的信号输出端分别与两个调理电路的信号输入端相连，两调理电路的输出端分别连接到第一电子开关（5）的S1以及S2接口，第一电子开关的输出端分别与第一比较器（6）的正向输入端、衰减模块输入端以及延时模块输入端相连；所述衰减模块与延时模块的输出端分别连接到第二比较器（7）的反向输入端与正向输入端；所述两个比较器的输出端均连接到与门（8）的两个信号输入端，与门（8）的输出与第二电子开关（9）的输入端相连，第二电子开关（9）的S1与S2接口均连接到时间间隔测量模块的两个输入端；所述时间间隔测量模块的信号输出端与CPU的信号输入口相连，CPU的两个I/O接口分别连接到两电子开关的控制信号接口上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙剑，田征，侯德门，郭鹏斌，
申请(专利权)人：西安交通大学，
类型：发明
国别省市：