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用于测量剩场量绝对值的测量系统及其测量方法技术方案

技术编号:8366391 阅读:209 留言:0更新日期:2013-02-28 04:01
本发明专利技术公开了一种用于测量剩场量绝对值的测量系统及其测量方法。其中,系统包括光源、微处理器、滤光单元、共振吸收模块、光电检测单元、微波源、磁场控制模块及电流控制模块。光源与滤光单元连接,滤光单元与共振吸收模块连接,共振吸收模块依次与微波源、磁场控制模块、光电检测单元连接,微处理器依次与微波源、磁场控制模块、电流控制模块连接,电流控制模块与磁场控制模块连接。其测量方法是通过电流控制模块改变磁场控制模块中磁场电流的电流方向,并通过微处理器控制微波源输出信号频率,进而完成整个原子谱线的扫频,同时记录整个过程中共振吸收模块输出的光信号幅度值V与微波源的信号频率值F,最终实现对剩场量绝对值的测量计算。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于测量系统设计
,特别涉及一种。
技术介绍
在现有原子谱线探测应用领域中(如原子钟),物理系统提供一个频率稳定、线宽较窄的原子共振吸收线,原子钟正是通过将压控晶体振荡器的输出频率锁定在原子共振吸收峰上而获得高稳频率输出的。充制在物理系统中的元素原子平时能级是简并的,要想实现上述应用功能,需要给整个系统施加相应的磁场,称之为C场。C场线圈的作用是产生一个和微波磁场方向相平行的弱静磁场,使原子基态超精细结构发生塞曼分裂,并为原子跃 迁提供量子化轴,同时通过调节C场电流的大小,改变磁场的强度,微调系统的输出频率。以上谈及的C场是人为加到系统中的,但是系统本身存在着各种形式的干扰,它们通过闭合线路电磁交换形式,产生一定量的剩余磁场。这些磁场的存在是相当复杂的,是“塞曼分裂”及“量子化轴”用C场之外的附加磁场。在剩场作用下,由于塞曼效应,原子能级发生移动,最终导致输出频率发生变化。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种能够精确测量系统内部剩余磁场强度的剩场量绝对值测量系统及其测量方法。为解决上述技术问题,本专利技术提供了一种能够精确测量系统内部剩余磁场强度的剩场本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量剩场量绝对值的测量系统,包括光源(201)、微处理器(207),其特征在于,还包括:用于对所述光源(201)辐射的光束进行滤光的滤光单元(202)、用于为经过所述滤光单元(202)滤光处理的光束完成共振跃迁的共振吸收模块(203)、用于对所述共振吸收模块(203)输出的光信号进行检测的光电检测单元(206)、用于为所述共振吸收模块(203)提供能量的微波源(204)、用于为所述共振吸收模块(203)完成原子分裂及量子化轴提供磁场的磁场控制模块(205)及用于调节控制所述磁场控制模块(205)的电流控制模块(208);所述光源(201)与所述滤光单元(202)连接,所述滤光单元(20...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:雷海东
申请(专利权)人:江汉大学
类型:发明
国别省市:

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