【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种便携式中心遮拦结构杂散光检测装置，属于光学检测
技术介绍
目前，在高精尖的光学系统中，杂散光直接影响了系统的性能，而作为光学系统重要组成部分的光学透镜，其光洁度也一直影响着系统中杂散光的水平，但对于光学透镜的杂散光检测问题还没有直接的解决方法。通常是利用原子力显微镜等微观检测仪器进行表明微观检测，或者利用积分球等设备将透镜装配到镜头中以后再进行系统检测，这些方法都有成本高、设备便携性差和效率低等诸多缺点。系统杂散光问题也已经成为高端光学系统继续发展的瓶颈
技术实现思路
本专利技术为解决现有技术对光学透镜杂散光检测方法成本高、设备便携性差及效率低的问题。本专利技术提供一种便携式中心遮拦结构杂散光检测装置。本专利技术是通过以下技术方案实现的一种便携式中心遮拦结构杂散光检测装置，该装置由照明系统、中心遮拦、有限远距离成像系统和CXD系统组成，且各个组成部分同轴放置；照明系统发出的平行光入射到待检透镜上，光经待检透镜聚焦到有限远距离成像系统上的中心遮拦上；部分光被待检透镜表面的散射点散射，光经散射后再经有限远距离成像系统成像在CXD系统上。本专...
【技术保护点】
一种便携式中心遮拦结构杂散光检测装置，其特征是，该装置由照明系统（1）、中心遮拦（3）、有限远距离成像系统（4）和CCD系统（5）组成，且各个组成部分同轴放置；照明系统（1）发出的平行光入射到待检透镜（2）上，光经待检透镜（2）聚焦到有限远距离成像系统（4）上的中心遮拦（3）上；部分光被待检透镜（2）表面的散射点散射，光经散射后再经有限远距离成像系统（4）成像在CCD系统（5）上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张红鑫，孙明哲，卜和阳，卢振武，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：
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