探针形状检测装置和探针形状检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术的探针形状检测装置具有：第1和第2磁场检测部，它们检测由沿着细长形状的探针的长度方向设置的磁场产生元件产生的磁场，作为相互垂直的3个轴方向的磁场成分，输出与检测到该磁场成分时产生的电动势组对应的磁场检测信号；候选矢量运算部，其根据第1磁场检测部中产生的电动势组和一个候选位置信息，计算表示磁场产生元件的朝向的候选矢量；估计电动势运算部，其根据一个候选位置信息和候选矢量计算估计电动势；以及估计位置取得部，其取得第2磁场检测部中产生的电动势组与估计电动势之间的误差最小的候选位置，作为磁场产生元件的估计位置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及，特别涉及使用磁场检测探针形状的。
技术介绍
在将内窥镜等的探针插入被检体内进行对象部位的观察和处置的情况下，通过一并使用能够检测插入被检体内的探针的形状的检测装置，能够实现插入操作的圆滑化。而且，作为这种检测装置，例如公知有日本国特开平9-84745号公报所公开的装置。在日本国特开平9-84745号公报中公开了如下技术具有能够在磁场检测元件(读出线圈)中检测由配置在探针内的多个磁场产生元件(源线圈)产生的磁场的结构，以磁场检测元件中实际产生的电压的测定值与估计磁场检测元件中产生的电压的估计值之差最小的方式，估计各磁场产生元件的位置和朝向，根据估计结果检测探针的形状。并且，在所述检测装置中，例如，以往采用如下手法根据使用牛顿拉夫逊法或多变量解析进行运算而得到的位置信息的估计结果，检测探针的形状。这里，根据日本国特开平9-84745号公报所公开的技术，经由使用XYZ坐标系中的表示源线圈的位置和朝向的6个变量的运算，计算所述电压的估计值。因此，根据日本国特开平9-84745号公报所公开的技术，得到源线圈的位置和朝向的最终估计结果需要相当大的运算量，其结果，产生检测探针的形本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：牛房浩行，
申请(专利权)人：奥林巴斯医疗株式会社，
类型：
国别省市：