单元测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种单元测试设备，包括：探针单元，所述探针单元包括与被测面板上的接触块对应的探针；照明单元，对探针单元上的探针和被测面板上的接触块进行照明；图像摄取单元，对探针单元上的探针和被测面板上的接触块的对位情况进行摄取并将摄取的信息输送到显示单元；显示单元，对所述摄取的探针和接触块的对位情况进行显示。本实用新型专利技术通过图像摄取单元将探针与接触块的对位情况摄取到显示装置上，改善了精度调节的方法，使测试精度得到更容易更好的控制。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试设备
，尤其涉及一种单元测试设备。
技术介绍
目前液晶显示装置量产产线的单元测试(celltest)中，需要使用单元测试设备上的探针与被测面板(Panel)上的接触块(Pad)对应接触，以对接触块施加测试信号进行测试。但是现有技术中，如图I所示为现有单元测试设备的简化结构示意图，被测面板103(Q panel)固定于测试设备上，由于测试设备上的探针101和被测面板上接触块102都比较小，探针101很难与接触块102对位精准，对位精度调试比较困难。当探针101与接触块102的对位精度不够精准时，会导致单元测试设备对被测面板103的测试信号施加不正常， 无法进行正常测试。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本技术要解决的技术问题是提供一种单元测试设备，使得测试过程中探针与接触块的对位精度调节更容易，测试精度得到更容易更好的控制。(二)技术方案为解决上述问题，本技术提供了一种单元测试设备，包括探针单元,所述探针单元包括与被测面板上的接触块对应的探针；照明单元，对探针单元上的探针和被测面板上的接触块进行照明；图像摄取单元，对探针单元上的探针和被测面板上的接触块的对位情况进行摄本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种单元测试设备，包括：探针单元，所述探针单元包括与被测面板上的接触块对应的探针；其特征在于，还包括：照明单元，对探针单元上的探针和被测面板上的接触块进行照明；图像摄取单元，对探针单元上的探针和被测面板上的接触块的对位情况进行摄取并将摄取的信息输送到显示单元；显示单元，对所述摄取的探针和接触块的对位情况进行显示。

【技术特征摘要】
1.一种单元测试设备，包括 探针单元,所述探针单元包括与被测面板上的接触块对应的探针； 其特征在于，还包括 照明单元，对探针单元上的探针和被测面板上的接触块进行照明； 图像摄取单元，对探针单元上的探针和被测面板上的接触块的对位情况进行摄取并将摄取的信息输送到显示单元； 显示单元，对所述摄取的探针和接触块的对位情况进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈娟，柳在健，姚继开，马晓峰，李鑫，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：