【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光电成像
，特别是涉及到一种微通道板离子壁垒膜对图像噪声影响的评测方法。
技术介绍
在现有技术当中像增强器工作时，由光电阴极产生的光电子入射到离子壁垒膜的通道内，经多次倍增后，在离子壁垒膜的输出端会形成高密度的电子云。由于真空工艺及气体分子的吸附作用等原因，像管中必然存在残余的气体分子，它们在离子壁垒膜输出端受到密集的二次电子碰撞而电离，所产生的正离子在通道内电场的作用下反向撞击通道壁和轰击像管的光电阴极，从而产生的电子发射在荧光屏形成离子斑，它一方面破坏了离子壁垒膜的线性工作特性，同时也降低了光电阴极的寿命，这就是离子反馈所带来的危害。消除和减少离子反馈的有效方法是在离子壁垒膜的输入面上覆盖一层合适厚度的介质薄膜，它 可以使得质量很小并具有一定能量的电子透过，又能有效地阻止正离子和气体分子反馈到光电阴极，使其表面激活层免受正离子的轰击，从而有效地延长像管的使用寿命。但是离子壁垒膜对入射电子有一定的散射作用，从而使得透射电子的空间分布具有随机性，这导致透射电子空间分布随时间发生变化，从而产生由离子壁垒膜所引起的噪声。综上所述在现有技术当中亟需要一种方法来解决由于离子壁垒膜对入射电子有一定的散射作用，从而产生由离子壁垒膜所引起噪声的问题。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种评价微通道板的离子壁垒膜对图像噪声影响的模拟方法。，其特征是包括以下步骤步骤一、确定超低能电子与固体相互作用的基本过程针对低能电子与固体相互作用的特点选用Rutherford公式，并采用Joy修正公式，其中低能电子小于IOOOeV ；步骤二、确定低能电子...
【技术保护点】
一种用于评价离子壁垒膜对图像噪声影响的模拟方法，其特征是包括以下步骤：步骤一、确定超低能电子与固体相互作用的基本过程针对低能电子与固体相互作用的特点选用Rutherford公式，并采用Joy修正公式，其中低能电子小于1000eV；步骤二、确定低能电子在连续薄膜介质中的运行轨迹计算散射电子的空间坐标及能量分布，电子每次散射行为由四个变量决定，散射起点处的能量En、散射角θn、散射方位角Φn、散射步长Λn？，其中散射角θn？为第n次与第n？1次散射运动方向的夹角；步骤三、建立动态坐标系令第n+1次散射的坐标系原点取在散射矢量的末端，Zn+1与Λn方向一致，xn+1取第n次散射锥体底面圆的切线且与Λn垂直，沿着φn增大的方向；（xn+1？，yn+1？，zn+1？）坐标系与（xn，yn？，zn？）坐标系的关系是：将xnyn轴绕zn轴沿着φn增大的方向旋转π/2+φn的角度，然后将ynzn轴绕xn沿着θn？增大的方向旋转θn角度，经过这两步（xn，yn？，zn？）就转到了与（xn+1？，yn+1？，zn+1？）一致的方向；步骤四、基于蒙特卡洛方法，建立离子壁垒膜对图像噪声的影响评价方法①在时间Δ...
【技术特征摘要】
1.一种用于评价离子壁垒膜对图像噪声影响的模拟方法，其特征是包括以下步骤 步骤一、确定超低能电子与固体相互作用的基本过程针对低能电子与固体相互作用的特点选用Rutherford公式,并采用Joy修正公式,其中低能电子小于IOOOeV ；步骤二、确定低能电子在连续薄膜介质中的运行轨迹计算散射电子的空间坐标及能量分布，电子每次散射行为由四个变量决定，散射起点处的能量En、散射角θη、散射方位角Φη、散射步长An，其中散射角θη为第η次与第η-1 次散射运动方向的夹角；步骤三、建立动态坐标系令第η+1次散射的坐标系原点取在散射矢量的末端，Ζη+1与An方向一致，χη+1取第η次散射锥体底面圆的切线且与An垂直，沿着Φη增大的方向；(xn+i，yn+i，zn+1 )坐标系与(xn, yn , ζη )坐标系的关系是将xnyn轴绕ζη轴沿着Φη增大的方向旋转π/2+Φη的角度，然后将ynzn轴绕Xn沿着θη增大的方向旋转θη角度，经过这两步(xn，yn，zn )就转到了与(xn+1 , yn+1 , ζη+1 ) 一致的方向；步骤四、基于蒙特卡洛方法，建立离子壁垒膜对图像噪声的影响评价方法①在时间AT范围内以人眼时间分辨极限为单位划分出P个相同的时间间隔At1, At2，…，Ati，…，Atp，计算出Ati内、入射到离子壁垒膜上的单位体积内的电子个数I - At#(Δ(_) = ^^，Itl为实验测得的入射膜层前的电流值，q为单位电子电量；②N(Ati)个入射电子在x-y平面上的服从确定的统计分布GU1,Y1; X2, y2;…；xN, yN)，利用步骤一...
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