一种薄膜辐射剂量测试夹具制造技术

本发明专利技术涉及一种薄膜辐射剂量测试夹具，属于辐射测试领域。所述夹具为长方体，其中四个侧面为长方形，顶面和底面为正方形；在夹具上开有同轴的沉孔G与沉孔H、薄膜加持狭缝和夹装凹槽，测试时通过夹装凹槽将薄膜辐射剂量计放置在薄膜加持狭缝中。本发明专利技术克服了夹具在不同次测试时薄膜相对位置移动造成的误差，同时薄膜辐射剂量计在夹具中不受过大的加持力，处于自然延展状态，有利于提高测试精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种薄膜辐射剂量测试夹具，属于辐射测试领域。
技术介绍
薄膜辐射剂量计可用来测量粒子，伽马，电子束，X射线等辐射剂量，在辐射领域具有广泛应用。在航天器设计领域，由于电子器件、材料在空间辐射环境中的电离总剂量效应地面评估考核中采用的是剂量等效原理，因此，剂量测试的精度影响空间电离总剂量效应地面评估考核精度。薄膜辐射剂量计常见尺寸为I厘米宽、几十微米厚的方形薄膜片。根据薄膜辐射剂量计在辐照场中接收的剂量与薄膜辐射剂量计吸光度的变化一一对应的关系，可以测试材料器件在辐照场中吸收的剂量，因此薄膜辐射剂量计的吸光度测试精度直接影响剂量计的测试精度。薄膜辐射剂量计的吸光度采用分光光度计上测量，分光光度计的样品基座一般为一个方形深槽，因此薄膜辐射剂量计测试时需要特制的夹具，将其固定在方形深槽中。目前薄膜辐射剂量计测试夹具多采用弹簧夹型，这种方法的缺陷是由于夹具两片夹面的相对位置可活动，在不同次测量时夹具相对位置不固定，造成测试夹具多次测量的一致性较差。
技术实现思路
本专利技术提供了一种薄膜辐射剂量测试夹具，所述夹具将薄膜辐射剂量计安装在狭缝中，克服了由于夹具在不同次测试时相对位置移动造成的误差，有利于提高薄膜辐射剂量计吸光度测试精度。为实现上述目的，本专利技术的技术方案如下—种薄膜辐射剂量测试夹具，所述夹具为长方体，其中四个侧面为长方形，顶面和底面为正方形；所述四个侧面分别为A、B、C、D面，其中A面与C面相对，B面与D面相对；顶面和底面分别为E、F面；所述夹具尺寸与分光光度计的样品槽相匹配；在夹具内取与E、F面平行的平面S，所述S面位于夹具高度的1/2 1/3位置，S面与A、B、C、D面分别交于a、b、c、d线；以S面的中心为原点O设空间直角坐标系，所述坐标系的X轴与A面垂直，y轴与D面垂直，z轴与E面垂直，以原点O到A面的方向为x轴的正方向，以原点O到D面的方向为y轴的正方向，以原点O到E面的方向为z轴的正方向，反之为负方向；在所述夹具的A面上沿X轴负方向开有沉孔H，在所述夹具的C面上沿X轴正方向开有沉孔G ;所述沉孔G与沉孔H同轴，轴线与X轴重合；沉孔H的内径大于沉孔G的内径，且沉孔H的长度大于沉孔G的长度；在沉孔G底端沿y轴方向开有贯穿BD面的薄膜加持狭缝，所述狭缝分别与沉孔G和沉孔H贯通；在所述狭缝的B面端部开有夹装凹槽，用于将薄膜辐射剂量计放置在薄膜加持狭缝中。优选所述夹具长、宽均为I. 2cm (即为E、F面的边长)，夹具高度至少比分光光度计的样品槽深度大于Icm ;沉孔H的内径为8mm，沉孔G的内径为5mm ;薄膜夹持狭缝沿z轴方向的高度为I. 2cm，沿X轴方向的宽度为Imm;夹装凹槽沿z轴方向的高度为I. 2cm，沿y轴方向的长度为4mm。使用时将薄膜辐射剂量计从夹装凹槽中塞入到薄膜加持狭缝中，将薄膜辐射剂量计固定在薄膜加持狭缝中；光路通过沉孔H射入后，从沉孔G中射出。有益效果本专利技术将薄膜辐射剂量计安装在狭缝中，克服了由于夹具不同次测试时相对位置移动造成的误差，同时薄膜辐射剂量计在夹具中不受过大的加持力，处于自然延展状态，更有利于提闻测试精度。附图说明图I为本专利技术所述的薄膜辐射剂量测试夹具的正视图；图2为在图I所示正视图上设立的空间直角坐标系；图3为本专利技术所述的薄膜辐射剂量测试夹具的左视图；图4为本专利技术所述的薄膜辐射剂量测试夹具的俯视图；图5为本专利技术所述的薄膜辐射剂量测试夹具与弹簧夹型夹具测试结果比较；图6为薄膜辐射剂量计类型，左为全透型，右为中孔型。其中，I-沉孔G、2_沉孔H、3-薄膜夹持狭缝、4_夹装凹槽。具体实施例方式下面通过实施例，对本专利技术作进一步说明。如图I所示，用硬铝材料制成薄膜辐射剂量计测试夹具，所述夹具为长方体，其中四个侧面为长方形，顶面和底面为正方形；所述四个侧面分别为A、B、C、D面，其中A面与C面相对，B面与D面相对；顶面和底面分别为E、F面；所述夹具尺寸与分光光度计的样品槽相匹配；在夹具内取与E、F面平行的平面S，所述S面位于夹具高度的1/2 1/3位置，S面与A、B、C、D面分别交于a、b、c、d线；以S面的中心为原点O设空间直角坐标系，所述坐标系的X轴与A面垂直，y轴与D面垂直，z轴与E面垂直，以原点O到A面的方向为x轴的正方向，以原点O到D面的方向为y轴的正方向，以原点O到E面的方向为z轴的正方向，反之为负方向；在所述夹具的A面上沿X轴负方向开有沉孔H2，在所述夹具的C面上沿x轴正方向开有沉孔Gl ;所述沉孔Gl与沉孔H2同轴，轴线与X轴重合；沉孔H2的内径大于沉孔Gl的内径，且沉孔H2的长度大于沉孔Gl的长度；所述沉孔Gl与沉孔H2可限制杂散光进入光路，特别是沉孔Gl可以保证夹具既适用于中孔型，也适用于全透型薄膜辐射剂量计，如图5所示。在沉孔Gl底端沿J轴方向开有贯穿BD面的薄膜加持狭缝3，所述狭缝3分别与沉孔Gl和沉孔H2贯通；在所述狭缝3的B面端部开有夹装凹槽4，用于将薄膜辐射剂量计放置在薄膜加持狭缝3中。所述薄膜辐射剂量测试夹具的尺寸如下所述夹具长、宽均为I. 2cm (即为E、F面的边长)，夹具高度至少比分光光度计的样品槽深度大于Icm ;沉孔H2的内径为8mm，沉孔Gl的内径为5mm ;薄膜夹持狭缝3沿z轴方向的高度为I. 2cm，沿X轴方向的宽度为Imm;夹装凹槽4沿z轴方向的高度为I. 2cm，沿y轴方向的长度为4mm。将所述夹具用于薄膜辐射剂量计吸光度的测试，测试在分光光度计上进行，步骤如下a.打开分光光度计电源开关,让分光光度计预热30分钟。b.按下A/T/C纽选择需要的功能(比如选择A，为吸收的意思)，设置光波波长。c.将夹具放入分光光度计的样品盒，合上样品盒的盖子。d.按下 O ABS/100%T，设置空白。e.将夹具取出，把薄膜辐射剂量计放入夹具的薄膜夹持狭缝3中，合上样品盒的盖子。f.在仪器显示器上读出吸光度值，根据剂量计的吸光度-剂量表读出剂量。将弹簧夹型夹具重复步骤a f，将测试结果与本专利技术所述夹具比较，结果如图4所示。说明本专利技术所述的薄膜辐射剂量测试夹具自身的吸光度变化较小，能较为准确地测试薄膜辐射剂量计的吸光度。综上所述，以上仅为本专利技术的较佳实施例而已，并非用于限定本专利技术的保护范围。凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种薄膜辐射剂量计测试夹具，其特征在于：所述夹具为长方体，其中四个侧面为长方形，顶面和底面为正方形；所述四个侧面分别为A、B、C、D面，其中A面与C面相对，B面与D面相对；顶面和底面分别为E、F面；在夹具内取与E、F面平行的平面S，所述S面位于夹具高度的1/2~1/3位置，S面与A、B、C、D面分别交于a、b、c、d线；以S面的中心为原点O设空间直角坐标系，所述坐标系的x轴与A面垂直，y轴与D面垂直，z轴与E面垂直，以原点O到A面的方向为x轴的正方向，以原点O到D面的方向为y轴的正方向，以原点O到E面的方向为z轴的正方向，反之为负方向；在所述夹具的A面上沿x轴负方向开有沉孔H（2），在所述夹具的C面上沿x轴正方向开有沉孔G（1）；所述沉孔G（1）与沉孔H（2）同轴，轴线与x轴重合；沉孔H（2）的内径大于沉孔G（1）的内径，且沉孔H（2）的长度大于沉孔G（1）的长度；在沉孔G（1）底端沿y轴方向开有贯穿BD面的薄膜加持狭缝（3），所述狭缝（3）分别与沉孔G（1）和沉孔H（2）贯通；在所述狭缝（3）的B面端部开有夹装凹槽（4）。

【技术特征摘要】
1.一种薄膜辐射剂量计测试夹具，其特征在于所述夹具为长方体，其中四个侧面为长方形，顶面和底面为正方形；所述四个侧面分别为A、B、C、D面，其中A面与C面相对，B面与D面相对；顶面和底面分别为E、F面； 在夹具内取与E、F面平行的平面S，所述S面位于夹具高度的1/2 1/3位置，S面与A、B、C、D面分别交于a、b、c、d线；以S面的中心为原点O设空间直角坐标系，所述坐标系的x轴与A面垂直，y轴与D面垂直，z轴与E面垂直，以原点O到A面的方向为x轴的正方向，以原点O到D面的方向为y轴的正方向，以原点O到E面的方向为z轴的正方向，反之为负方向； 在所述夹具的A面上沿X轴负方向开有沉孔H(2),在所述夹具的C面上沿X轴正方向开有沉孔G (I);所述沉孔G ...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯展祖，杨生胜，傅丹膺，李存惠，薛玉雄，陈罗婧，史亮，高欣，田海，柳青，袁春柱，陈磊，
申请(专利权)人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所，航天东方红卫星有限公司，
类型：发明
国别省市：