一种薄膜辐射剂量测试夹具制造技术

本发明专利技术涉及一种薄膜辐射剂量测试夹具，属于辐射测试领域。所述夹具为长方体，其中四个侧面为长方形，顶面和底面为正方形；在夹具上开有同轴的沉孔G与沉孔H、薄膜加持狭缝和夹装凹槽，测试时通过夹装凹槽将薄膜辐射剂量计放置在薄膜加持狭缝中。本发明专利技术克服了夹具在不同次测试时薄膜相对位置移动造成的误差，同时薄膜辐射剂量计在夹具中不受过大的加持力，处于自然延展状态，有利于提高测试精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种薄膜辐射剂量测试夹具，属于辐射测试领域。
技术介绍
薄膜辐射剂量计可用来测量粒子，伽马，电子束，X射线等辐射剂量，在辐射领域具有广泛应用。在航天器设计领域，由于电子器件、材料在空间辐射环境中的电离总剂量效应地面评估考核中采用的是剂量等效原理，因此，剂量测试的精度影响空间电离总剂量效应地面评估考核精度。薄膜辐射剂量计常见尺寸为I厘米宽、几十微米厚的方形薄膜片。根据薄膜辐射剂量计在辐照场中接收的剂量与薄膜辐射剂量计吸光度的变化一一对应的关系，可以测试材料器件在辐照场中吸收的剂量，因此薄膜辐射剂量计的吸光度测试精度直接影响剂量计的测试精度。薄膜辐射剂量计的吸光度采用分光光度计上测量，分光光度计的样品基座一般为一个方形深槽，因此薄膜辐射剂量计测试时需要特制的夹具，将其固定在方形深槽中。目前薄膜辐射剂量计测试夹具多采用弹簧夹型，这种方法的缺陷是由于夹具两片夹面的相对位置可活动，在不同次测量时夹具相对位置不固定，造成测试夹具多次测量的一致性较差。
技术实现思路
本专利技术提供了一种薄膜辐射剂量测试夹具，所述夹具将薄膜辐射剂量计安装在狭缝中，克服了由于夹具在不同次测试时相对位置移动本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种薄膜辐射剂量计测试夹具，其特征在于：所述夹具为长方体，其中四个侧面为长方形，顶面和底面为正方形；所述四个侧面分别为A、B、C、D面，其中A面与C面相对，B面与D面相对；顶面和底面分别为E、F面；在夹具内取与E、F面平行的平面S，所述S面位于夹具高度的1/2~1/3位置，S面与A、B、C、D面分别交于a、b、c、d线；以S面的中心为原点O设空间直角坐标系，所述坐标系的x轴与A面垂直，y轴与D面垂直，z轴与E面垂直，以原点O到A面的方向为x轴的正方向，以原点O到D面的方向为y轴的正方向，以原点O到E面的方向为z轴的正方向，反之为负方向；在所述夹具的A面上沿x轴负方向开有沉孔H（2），在所述夹具...

【技术特征摘要】
1.一种薄膜辐射剂量计测试夹具，其特征在于所述夹具为长方体，其中四个侧面为长方形，顶面和底面为正方形；所述四个侧面分别为A、B、C、D面，其中A面与C面相对，B面与D面相对；顶面和底面分别为E、F面； 在夹具内取与E、F面平行的平面S，所述S面位于夹具高度的1/2 1/3位置，S面与A、B、C、D面分别交于a、b、c、d线；以S面的中心为原点O设空间直角坐标系，所述坐标系的x轴与A面垂直，y轴与D面垂直，z轴与E面垂直，以原点O到A面的方向为x轴的正方向，以原点O到D面的方向为y轴的正方向，以原点O到E面的方向为z轴的正方向，反之为负方向； 在所述夹具的A面上沿X轴负方向开有沉孔H(2),在所述夹具的C面上沿X轴正方向开有沉孔G (I);所述沉孔G ...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯展祖，杨生胜，傅丹膺，李存惠，薛玉雄，陈罗婧，史亮，高欣，田海，柳青，袁春柱，陈磊，
申请(专利权)人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所，航天东方红卫星有限公司，
类型：发明
国别省市：