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光干涉法测量气体浓度的装置制造方法及图纸

技术编号:8321946 阅读:284 留言:0更新日期:2013-02-13 21:28
本发明专利技术提出一种光干涉法测量气体浓度的装置,包括光源、劈尖形气体室、光电传感器、显示装置和提示装置,它们均装在一个密闭外壳中。所述光源包括点光源发生器和平行光扩束器,所述平行光扩束器设置在点光源发生器的出射光路上,在平行光扩束器前方设置劈尖形气体室,在劈尖形气体室的反射光汇聚处设置光电传感器,光电传感器通过信号线连接显示器和提示装置。本发明专利技术利用光波在不同浓度的气体中折射率不同而产生的光程差,引起不同的干涉条纹,通过检测干涉条纹,实现对气体浓度的测定,其优点是准确度高,测量范围广,设备简单、坚固耐用,校正容易。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光学测量技术,具体涉及一种光学气体测量仪器。
技术介绍
光波可以通过不同的方式产生等倾干涉条纹,其主要应用于微小长度和折射率的测量。气体浓度的测量在工业生产和实验室中的需求很广泛,尤其是对于有害气体的测量。例如,我国的煤矿生产安全检测系统,需要对煤矿中的有毒气体进行检测。迄今为止的产品大多数也都是针对大型煤矿设计的,而且自身尚存一些亟待解决的问题,如设备造价高,系统体积庞大,运行维护费用高,传感器测量稳定性差,调校频繁,使用寿命短,设备测量精度有限,必须依赖专业人员维护。
技术实现思路
针对上述不足,本申请人利用劈尖干涉原理,设计出一种应用于测量气体(例如瓦斯气体)浓度的装置,用以克服现有技术设备复杂、测量不稳定、使用不方便的问题。本专利技术的技术方案如下 一种光干涉法测量气体浓度的装置,包括光源、劈尖形气体室、光电传感器、显示装置和提示装置,它们均装在一个密闭外壳中,防止外来光的影响,光源发出的光不能从非需要的方向进入光电传感器影响测量结果。所述光源包括点光源发生器和平行光扩束器,所述平行光扩束器设置在点光源发生器的出射光路上,在平行光扩束器前方设置劈尖形气本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光干涉法测量气体浓度的装置,其特征在于:其包括光源、劈尖形气体室(2)、光电传感器(3)、显示器(4)和提示装置(5),它们均装在一个密闭外壳(9)中;所述光源包括点光源发生器(1)和平行光扩束器(6),所述平行光扩束器(6)设置在点光源发生器(1)的出射光路上,在平行光扩束器(6)前方设置劈尖形气体室(2),在劈尖形气体室的反射光汇聚处设置光电传感器(3),光电传感器(3)通过信号线连接显示器(4)和提示装置(5)。

【技术特征摘要】
1.一种光干涉法测量气体浓度的装置,其特征在于其包括光源、劈尖形气体室(2)、光电传感器(3)、显示器(4)和提示装置(5),它们均装在一个密闭外壳(9)中;所述光源包括点光源发生器(I)和平行光扩束器(6),所述平行光扩束器(6)设置在点光源发生器(I)的出射光路上,在平行光扩束器(6)前方设置劈尖形气体室...

【专利技术属性】
技术研发人员:马星科杜政伟朱敏邹新政张婷陈雅慧
申请(专利权)人:西南大学
类型:发明
国别省市:

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