用于确定不同技术系统的坐标系统之间的偏差的方法技术方案

本发明专利技术涉及一种用于确定多种技术系统的坐标系统之间的偏差的方法，包括以下步骤：确定测试对象（26）的参考特征（32）在所述技术系统中第一技术系统的坐标系统（u，v）中的坐标位置；将至少一个测试特征（34）附到所述测试对象，其中所述测试特征被附到所述技术系统中第二技术系统的坐标系统中根据所确定的所述参考特征（32）的坐标位置而建立的坐标位置处；确定所述至少一个测试特征（34）和/或根据所述至少一个测试特征导出的至少一个特征（36）在所述第一技术系统的坐标系统（u，v）中的坐标位置；并且至少基于以下内容确定所述第一技术系统的坐标系统与所述第二技术系统的坐标系统之间的偏差：a）所确定的所述至少一个测试特征（34）和/或根据所述至少一个测试特征导出的至少一个特征（36）在所述第一技术系统的坐标系统（u，v）中的坐标位置，和b）所述参考特征（32）在所述第一技术系统的坐标系统（u，v）中的坐标位置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：马利奥·阿布拉罕，约阿希母·麦奇尼格，约翰尼斯·阿格滕，马利奥·克拉夫基，
申请(专利权)人：威孚莱有限公司，
类型：
国别省市：