一种超宽谱脉冲幅值的自校准测量方法技术

技术编号:8300206 阅读:197 留言:0更新日期:2013-02-07 02:58
本发明专利技术提出了一种超宽谱脉冲幅值的自校准测量方法,包括超宽谱脉冲源、多个衰减器组合和示波器构成的测量系统,通过接入不同的衰减器组合,在示波器上得到不同的测量值,由此精确计算出各衰减器组合中每个衰减器的衰减量,从而精确计算出超宽谱脉冲源的输出脉冲幅值。本发明专利技术解决了衰减器对于不同超宽谱脉冲衰减量不同的问题,有效地克服了衰减器采用频域标定结果所导致的测量误差,可显著提高超宽谱脉冲的测量精度,并能准确标定衰减器的衰减系数,而且使用的衰减器个数越多,测量的精度会越高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种超宽谱脉冲幅值的测量方法,尤其是一种基于串联衰减器组实现的超宽谱脉冲幅值的自校准精确测量方法。
技术介绍
超宽谱电磁脉冲是指脉冲前沿为亚纳秒量级、脉冲宽度为纳秒级的电磁脉冲信号,在通讯、环保、医疗以及军事等领域有着广泛的应用,其中超宽谱脉冲测量是这项技术中的基础。一般采用经过标定后的电容分压器、电阻分压器、衰减器等器件对被测超宽谱脉冲进行测量。测量前,先用矢量网络分析仪标定测量所用衰减器的衰减量,再利用输出脉冲与被测脉冲波形相似而幅度较低的脉冲源和标定后的衰减器对分压器进行标定。但这种超宽谱脉冲测量方法存在的问题是分压器、衰减器等器件的衰减系数与 所测脉冲的波形及频带直接相关,难以按照衰减器等器件的标称值并结合示波器的显示结果得到真实的超宽谱脉冲幅值,操作复杂且容易产生较大的测量误差。
技术实现思路
本专利技术目的是克服超宽谱脉冲幅值测量中存在的衰减器标称衰减系数值难以直接应用,导致测量误差大等不足,提供一种高精确测量超宽谱脉冲幅值的方法。本专利技术的具体实现方法为,其特殊之处在于包括以下步骤I在待测量超宽谱脉冲源和示波器之间串联接入Al、A2……An共计η只衰减器,示波器测得电压信号V ;所述衰减器数量不少于3只;2去掉步骤I中的衰减器Al,测量得到η-I只串联衰减器时的电压信号Vl;3去掉步骤I中的衰减器Α2,测量得到η-I只串联衰减器时的电压信号V2;4按照步骤2和步骤3的规律依次测量得到电压信号V3至Vn;5按照公式ki= V/Vi计算得到每只衰减器的衰减系数,其中ki是第i只衰减器的衰减系数,i取值为I至η;6按照公式U= kl*k2*……*kn*V,计算得到待测量的脉冲源信号幅值U。上述衰减器的频带大于3GHz,承受脉冲电压IOV 50kV,衰减量3dB 40dB。上述示波器带宽大于3GHz,采样率大于10GS/s。上述超宽谱脉冲源的脉冲幅值为IOV 50kV,脉冲前沿不小于O. 3ns,脉冲半高宽度为 O. 3ns 10ns。本专利技术的超宽谱脉冲幅值的自校准测量方法的优点是I、本专利技术将不同衰减器组合接入超宽谱脉冲测量,在示波器上得到不同的测量值,通过计算得到衰减器的衰减量,精确计算出超宽谱脉冲幅值,测量方法简单可靠,只需要示波器经过校准即可,对仪器和设备要求不高。2、本专利技术超宽谱脉冲幅值测量精度高。本专利技术采用时域来标定时域,有效地克服了衰减器采用频域标定结果所导致的测量误差,可显著提高超宽谱脉冲的测量精度。3、本专利技术不需要对测量所用衰减器进行事先标定,而且也不需要考虑衰减器系数与所测脉冲的波形及频带的相关性。4、本专利技术的测量方法可以推广至其他电磁频谱中,应用范围较广。附图说明图I为本专利技术采用三只衰减器组合测量超宽谱脉冲幅值的原理示意图.具体实施例方式下面结合附图对本专利技术的超宽谱脉冲高精度自校准测量方法做进一步描述,图 中以三只衰减器组合为例说明超宽谱脉冲幅值的测量方法。第一步,按照附图,在待测量超宽谱脉冲源和示波器之间串联接入Al、A2、A3共计3只衰减器,即将超宽谱脉冲源的输出端连接衰减器Al的输入端,衰减器Al的输出端连接衰减器A2的输入端,衰减器A2的输出端连接衰减器A3的输入端,衰减器A3的输出端连接示波器的输入端,测量得到示波器的电压信号V ;第二步,去掉第一步I中的衰减器Al,即将超宽谱脉冲源的输出端连接衰减器A2的输入端,衰减器A2的输出端连接衰减器A3的输入端,衰减器A3的输出端连接示波器的输入端,测量得到A2和A3串联衰减器时的电压信号Vl ;第三步,去掉第一步I中的衰减器A2,即将超宽谱脉冲源的输出端连接衰减器Al的输入端,衰减器Al的输出端连接衰减器A3的输入端,衰减器A3的输出端连接示波器的输入端,测量得到Al和A3串联衰减器时的电压信号V2 ;第四步,去掉第一步I中的衰减器A3,即将超宽谱脉冲源的输出端连接衰减器Al的输入端,衰减器Al的输出端连接衰减器A2的输入端,衰减器A2的输出端连接示波器的输入端,测量得到Al和A2串联衰减器时的电压信号V3 ;第五步,按照下列公式计算得到三个衰减器的衰减系数kl、k2、k3 ; r kl=V/Vl■< k2=¥/V2 k3=¥/V3第六步,按照公式U = kl*k2*……*kn*V,计算得到待测量的脉冲源信号幅值U。本实施例的超宽谱脉冲源输出脉冲峰值电压约为7 O O V、脉冲半高宽度约为I. 5ns,所使用衰减器数量为3只,衰减器一的标称衰减量10,衰减器二的标称衰减量10,衰减器三的标称衰减量31. 62,示波器为Tektronix公司的TDS7404,工作带宽为5GHz,采样率为 20GS/s。当采用现有标定方法时用矢量网络分析仪Angilent N5244A对衰减器一进行标定,衰减器一在频率IOOMHz时衰减量为9. 87,在频率300MHz时衰减量为9. 92,在频率600MHz时衰减量为9. 98,在频率900MHz时衰减量为10. 05,在频率1200MHz时衰减量为10. 16,衰减器一的衰减量取平均值 kl' =10.00。用矢量网络分析仪Angilent N5244A对衰减器二进行标定,衰减器二在频率IOOMHz时衰减量为9. 94,在频率300MHz时衰减量为10. 02,在频率600MHz时衰减量为10. 06,在频率900MHz时衰减量为10. 12,在频率1200MHz时衰减量为10. 19,衰减器二的衰减量取平均值k2' =10.06。用矢量网络分析仪Angilent N5244A对衰减器三进行标定,衰减器三在频率IOOMHz时衰减量为31. 55,在频率300MHz时衰减量为31. 83,在频率600MHz时衰减量为32. 19,在频率900MHz时衰减量为32. 44,在频率1200MHz时衰减量为32. 67,衰减器三的衰减量取平均值k3' =32.14。采用矢量网络分析仪标定值测量到脉冲幅值U' =711V。当采用本专利技术方法时 接入衰减器一、衰减器二、衰减器三组合时测量值O. 22V。接入衰减器一、衰减器二组合时测量值Vl = 7. 13V。接入衰减器一、衰减器三组合时测量值V2 = 2. 21V。接入衰减器二、衰减器三组合时测量值V3 = 2. 19V。计算得衰减器一的衰减量为kl = 9. 95,衰减器二的衰减量为k2 = 10. 05,衰减器三的衰减量为k3 = 32. 41。测量得超宽谱脉冲的幅值U=713V。对比两种测量方法得到的结果可知,衰减器一的测量误差为O. 5%,衰减器二的测量误差为O. 1%,衰减器三的测量误差为O. 8%,脉冲幅值测量误差为O. 3%。本实施例中的衰减器数量可以推广至更多数量,而且根据误差分配原则,衰减器的数量越多,测量得到的超宽谱脉冲的幅值越准确。权利要求1.,其特征在于包括以下步骤 I在待测量超宽谱脉冲源和示波器之间串联接入Al、A2……An共计η只衰减器,示波器测得电压信号V ;所述衰减器数量不少于3只; 2去掉步骤I中的衰减器Al,测量得到η-i只串联衰减器时的电压信号Vl ; 3去掉步骤I中的衰减器Α2,测量得到η-i只串联衰减器时的电压信号V2 ; 4按照步骤2和步骤3的规律依次测量得到电压信号V3至Vn本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种超宽谱脉冲幅值的自校准测量方法,其特征在于:包括以下步骤:【1】在待测量超宽谱脉冲源和示波器之间串联接入A1、A2……An共计n只衰减器,示波器测得电压信号V;所述衰减器数量不少于3只;【2】去掉步骤1中的衰减器A1,测量得到n?1只串联衰减器时的电压信号V1;【3】去掉步骤1中的衰减器A2,测量得到n?1只串联衰减器时的电压信号V2;【4】按照步骤2和步骤3的规律依次测量得到电压信号V3至Vn;【5】按照公式ki=V/Vi计算得到每只衰减器的衰减系数,其中ki是第i只衰减器的衰减系数,i取值为1至n;【6】按照公式U=k1*k2*……*kn*V,计算得到待测量的脉冲源信号幅值U。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘锋王希波袁雪林邵贤忠郝文析万可友郑翠薇周世友
申请(专利权)人:西北核技术研究所
类型:发明
国别省市:

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