一种全自动多参数宽量程低成本的RLC测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种全自动多参数宽量程低成本的RLC测试装置，包括单片机和多个阻值互不相同的分压电阻，以及用于接入待测RLC器件的第一插口和第二插口；所述多个分压电阻分别与单片机的多个IO口相连；多个分压电阻的另一端连接在一起后与二极管D1的正极相连，二极管D1的负极与电容C1相连；所述第一插口与二极管D1的正极相连，第二插口接地。本发明专利技术仅由多个电阻(R0-R7)、一个二极管(D1)和一个电容(C1)加上单片机组成，电路结构非常简单，成本低廉；本发明专利技术利用单片机IO管脚的高阻特性，使多个（比如8个）电阻能生成更多种（比如256种）组合，在保证低成本的同时，大大提高了电阻测试和电容测试的量程。可作为万用表的一个模块使用。

【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于RLC测试领域，具体涉及一种全自动多参数宽量程低成本的RLC测试>J-U ρ α装直。
技术介绍
在电子系统的组成中，除了微计算机专用集成电路等功能部件外，一般都需要独立RLC元件。RLC元件的质量是决定电子系统性能的一个重要因素。RLC参数测试是电子行业最基本的参数测试，RLC测试技术已经是相当成熟的技术，测试方法繁多，各有优缺点，主要方法的优缺点如下· I)电桥法，精度最高，但电路复杂，全量程自动测试困难。2)谐振法，测量精度较高，但电路复杂，全量程自动测试困难。3)扫频法精度高，但电路复杂，全量程自动测试困难。4)伏安法(即V-I法)，电路简单，全量程自动测试困难，但测试电感不理想。上述各方法构成的全量程RLC自动测试装置，电路复杂,成本高。目前，高档的万用表是电子行业的最基本仪器，都带有RLC测试装置，这类仪器销量巨大，对成本要求极高。但是传统的万用表功能单一，性价比不高。
技术实现思路
本专利技术针对上述现有技术的不足，提供了一种全自动多参数宽量程低成本的RLC测试装置；该RLC测试装置可以测试电阻、电容及电感的多种参数、量程宽、电路结构简单、成本低廉、性价比高本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种全自动多参数宽量程低成本度的RLC测试装置，其特征在于，包括单片机和多个阻值互不相同的分压电阻，以及用于接入待测RLC器件的第一插口和第二插口；所述多个分压电阻分别与单片机的多个IO口相连；多个分压电阻的另一端连接在一起后与二极管D1的正极相连，二极管D1的负极与电容C1相连；所述第一插口与二极管D1的正极相连，第二插口接地。

【技术特征摘要】
1.一种全自动多参数宽量程低成本度的RLC测试装置，其特征在于，包括单片机和多个阻值互不相同的分压电阻，以及用于接入待测RLC器件的第一插口和第二插口 ；所述多个分压电阻分别与单片机的多个IO 口相连；多个...

【专利技术属性】
技术研发人员：王建平，
申请(专利权)人：浙江工贸职业技术学院，
类型：发明
国别省市：