检测午-黑二氏综合征的基因芯片制造技术

本发明专利技术属基因芯片领域，涉及一种检测午-黑二氏综合征的基因芯片。本发明专利技术所述的基因芯片，包括片基和探针，所述的探针固定在片基上；其中，所述的探针为SEQ?ID?NO.1-50所示的核苷酸序列，所述的片基为载玻片、硅片、膜、高分子材料中的一种。本发明专利技术所述的基因芯片操作步骤简单、检测特异性高、稳定性好、时间短、成本低，可快速、低成本、大通量和自动化检测午-黑二氏综合征基因突变。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种生物
的基因芯片，更具体的，本专利技术是一种检测午-黑二氏综合征(Wolf-Hirschhorn综合征)的基因芯片。
技术介绍
午-黑二氏综合征(Wolf-Hirschhorn综合征)是由包括4ρ16· 3在内的4号染色体末端缺失而导致的一种罕见的染色体疾病。大部分为新发缺失，只有约10% -15%的患者是由父母的染色体平衡易位而导致，新生儿发生率约为1/50000-1/20000。WHS主要的临床表现包括典型的面部特征(希腊头盔样外观)、智力障碍、宫内或生后生长发育迟缓、肌张力低下、癫痫发作等。有的患者还合并小头畸形、牙齿发育不良、耳前皮赘、小领及内脏器官崎形等。患者临床表现的差异与4ρ缺失片段的大小有关。当缺失小于3. 5Mb时,患者只有较轻的临床表型，当缺失5-18Mb时，临床表型比较典型，当缺失超过22-25Mb时，患者临床表型非常严重以至于难以诊断其为WHS。WHS关键区定位于4pl6. 3 一个200kb范围的区域,距4p末端约I. 9Mb，包括WHSCRl和WHSCR2两个可能的关键区，其内有WHSCRl和WHSCR2两个候选基因，绝大多数患者本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测午？黑二氏综合征的基因芯片，其特征在于，包括片基和探针，所述的探针固定在片基上，所述的探针为SEQ？ID？NO.1？50所示的核苷酸序列，

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李笑天，贺林，郭奇桑，秦胜营，龚小会，吴茜，
申请(专利权)人：复旦大学附属妇产科医院，
类型：发明
国别省市：