一种光配向液晶面板光学检测的方法及其检测设备技术

本发明专利技术公开一种光配向液晶面板光学检测的方法及其检测设备。所述光配向液晶面板光学检测的方法包括步骤：A、根据光配向液晶面板的一个合格的预设的检测单元的内部影像生成模式影像；B、以预设的检测单元为单位，获取待检的光配向液晶面板的检测单元的内部影像生成待检影像，跟模式影像进行比对；生成比对结果。本发明专利技术根据预设的检测单元为基准的比对单位，将检测单元的内部影像纳入模式影像，相比简单以子像素边框影像作为模式影像的做法，对比的特征更多，覆盖的范围也更广，这样在比对的时候有了更多的参考细节，可以有效减少影像比对误判，增强拦检成功率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示领域，更具体的说，涉及一种光配向液晶面板光学检测的方法及其检测设备。
技术介绍
在液晶显示器中，以三原色为基础，对应有一个子像素，然后由至少3个分别跟三原色对应的子像素构成ー个显示像素。子像素中填充有液晶，为了提高液晶分子的响应速度，一般都需要将液晶分子预先设置一定的角度。图I所示为ー种采用光配向技术设置液晶分子的预倾角的エ艺流程，所谓光配向技术是指在给基板印加电压的情况下，通过紫外线(UV)光照射促使面板内的取向剂(monomer)反应，从而达到液晶配向的目的。目前，光配 向液晶面板技术已广泛应用于高世代TFT-LCD行业中，在光配向液晶面板时，为了及时发现不合格的产品，需要在紫外线照射(UVM)设备后配置光自动光学(AOI)检查机，专门检查经过UVM设备照射完成后基板的配向影像(LC影像)是否有异常。AOI设备能及时拦检配向异常，避免因UVM设备印加装置-探头栏(Probe bar)连接(Contact)不良造成大量报废。AOI检查配向异常的方式为LC影像检查，是在给基板印加电压的情况下，由摄像装置取得LC影像，经由检查程序预先建立好的模式(Model)影本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光配向液晶面板光学检测的方法，包括步骤：A、根据光配向液晶面板的预设的一个合格的检测单元的内部影像生成模式影像；B、以预设的检测单元为单位，获取待检的光配向液晶面板的检测单元的内部影像生成待检影像，跟模式影像进行比对；生成比对结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：莫圣鹏，江文彬，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：