一种多源干扰对TDICCD成像质量影响分析测试系统技术方案

一种多源干扰对TDICCD成像质量影响分析测试系统，可分为误差源干扰及其等效子系统、TDICCD成像子系统及光学靶标、姿态误差及其干扰测量子系统、信号采集及处理子系统和无线通讯及地面综合处理子系统。误差源干扰及其等效子系统用于模拟卫星在空间环境中由于太阳帆板＼控制力矩陀螺系统（CMGs）和卫星平台产生的干扰。测量子系统用于测量卫星平台姿态角和振动线速度；信号采集及处理子系统对各敏感器信息进行采集，并进行相应的处理和分析计算。本发明专利技术实现了在地面模拟空间环境中卫星运动误差对TDICCD成像质量的主要干扰，结合卫星姿态动力学测试分析的气浮转台实现了多源干扰对TDICCD成像质量影响分析。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种多源干扰对TDICCD(TimeDelayed Integration Charge CoupledDevice)成像质量影响分析测试系统，适用于模拟以磁悬浮CMGs为执行机构的敏捷机动卫星对TDICXD遥感成像造成的多源干扰。
技术介绍
二十一世纪，由于空间科学任务的牵引、机动卫星能力的提升和遥感载荷快速发展，使得利用单个TDICCD相机捷联安装在敏捷机动卫星上进行大宽幅、高精度多层次立体成像成为可能。然而，由于TDIC⑶对平台稳定性的要求和卫星在轨运行时经历的复杂空间动力学的影响使基于TDICCD的高分辨观测面临着巨大的挑战。目前一些相机公司利用 小型陀螺仪来检测CCD相机的振动，但其研究方法仅局限CCD相机的振动检测及地面人工拍摄，并未涉及到TDIC⑶相机和敏捷机动卫星对地成像的地面模拟。另外ー些机构对星载TDICXD相机的成像进行了地面试验分析，但并未就卫星平台对TDICXD相机成像造成的多源干扰做具体分别的测量尤其是CMGs对卫星平台造成的对成像质量影响较大的高频干扰。
技术实现思路
本专利技术解决的技术问题是设计出一种多源干扰对TDICCD成像质量影响分析本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多源干扰对TDICCD成像质量影响分析测试系统，其特征在于：包括误差源干扰及其等效子系统、TDICCD成像子系统及光学靶标、姿态误差及其干扰测量子系统、信号采集及处理子系统、无线通讯及地面综合处理子系统；其中误差源干扰及其等效子系统实现对太阳帆板、控制力矩陀螺系统CMGs和卫星平台产生干扰源的模拟；TDICCD成像子系统及光学靶标把采集到的成像数据传送到信号采集及处理子系统；姿态误差及其干扰测量子系统把测量到的卫星平台姿态角和线振动加速度信息以及CMGs的线振动加速度信息传送给信号采集及处理子系统；信号采集及处理子系统与姿态误差及其测量子系统相连接收姿态误差及其测量子系统测量的平台姿态角和...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨照华，王浩，刘鸣鹤，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：