基于散斑相关度的OCT图像分析方法技术

本发明专利技术公开了一种基于散斑相关度的OCT图像分析方法，首先，获取同一成像对象在不同波长段的相对应的若干幅OCT图像；或者采用同一光源获得同一成像对象在不同角度的相对应的若干幅OCT图像；对上述不同的OCT图像，在每幅OCT图像中的同一位置分别取相同尺寸的处理窗口；然后，计算处理窗口内像素强度并通过相关函数的计算进行相关性分析；同步移动处理窗口，直至遍历整个OCT的图像；根据若干幅OCT图像中各个部分相关度的分析，重建散斑分析后的图像，获取成像对象的微结构信息。在早期的疾病诊断，需要分别分辨细胞内精细结构的变化如亚微米量级，采用本发明专利技术的OCT图像分析方法可提取亚微米量级的细胞层次的变化。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学图像层析法获得图像的散斑的统计分析，更具体地说，是涉及一种基于散斑相关度的OCT图像分析方法。
技术介绍
光学图像层析法(Optical Coherence Tomography)简称OCT,是基于白光干涉的成像方法。OCT的原理可以类比于超声成像。在超声中，图像是通过测量声波脉冲被不同深度的组织反射强度和延迟时间重建得来的。由于光速很快，我们目前没有能力直接测量光脉冲的延迟，然而我们可以通过干涉仪来测量光的相对延迟，从而实现层析图像。OCT的水平分辨率取决于成像臂光学的有效数值孔径，而轴向分辨率取决于光源的带宽。虽然目前 OCT的分辨率可以到几个微米，然而对于很多应用，需要得到超过分辨率的信息，但OCT物理上不能辨别小于系统分辨率的结构。
技术实现思路
针对现有技术中存在的OCT的分辨率可以到几个微米，然而对于很多应用，需要得到超过分辨率的信息，但OCT物理上不能辨别小于系统分辨率的结构的问题，本专利技术的目的是提供一种基于散斑相关度的OCT图像分析方法，基于散斑分析，能够获取超分辨率的微结构信息。为达到上述目的，本专利技术采用如下的技术方案一种基于散斑相关度的OC本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于散斑相关度的OCT图像分析方法，其特征在于：该成像方法包括以下步骤：A．在同一位置获取同一成像对象在不同波长段的相对应的若干幅OCT图像；或者采用同一光源获得同一成像对象在不同角度的相对应的若干幅OCT图像；B．对上述不同的OCT图像，在每幅OCT图像中的同一位置分别取相同尺寸的处理窗口；C．计算处理窗口内像素强度并通过相关函数的计算进行相关性分析；D．同步移动处理窗口，重复步骤C，直至遍历整个OCT的图像；E．根据若干幅OCT图像中各个部分相关度的分析，重建散斑分析后的图像，获取成像对象的微结构信息。

【技术特征摘要】
1.一种基于散斑相关度的OCT图像分析方法,其特征在于 该成像方法包括以下步骤 A.在同一位置获取同一成像对象在不同波长段的相对应的若干幅OCT图像； 或者采用同一光源获得同一成像对象在不同角度的相对应的若干幅OCT图像； B.对上述不同的OCT图像，在每幅OCT图像中的同一位置分别取相同尺寸的处理窗Π ； C.计算处理窗口内像素强度并通过相关函数的计算进行相关性分析； D.同步移动处理窗口，重复步骤C，直至遍历整个OCT的图像； E.根据若干幅OCT图像中各个部分相关度的分析，重建散斑分析后的图像，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王笑梅，
申请(专利权)人：上海师范大学，
类型：发明
国别省市：