一种10G网卡的PCIE转接测试卡制造技术

技术编号:8122195 阅读:286 留言:0更新日期:2012-12-22 12:26
本实用新型专利技术提供一种10G网卡的PCIE转接测试卡,其结构包括用于测试10G网卡的PCIE转接卡,在PCIE转接卡的表面垂直设置有PCIE总线接口,所述PCIE总线接口通过布线连接有金手指接口,该金手指接口设置在PCIE转接卡的一长侧边上。该一种10G网卡的PCIE转接测试卡和现有技术相比,具有设计合理、结构简单、使用方便等特点,有效提高产品的竞争力,安装过程方便,极大减少了测试时间,有效减少研发时间,提高产品性能。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及计算机
,具体的说是一种结构简单、IOG网卡专用的PCIE转接测试卡。
技术介绍
IOG网卡是非标准、定制化的PCIE设备,往往都是和相应的机器绑定的,仅仅在特定的环境下测试,具有很大的局限性首先测试时必须在特定机器上进行,无法任意选择机器;其次是安装测试过程较为麻烦,测试时间长,增加研发时间,测试效果一般。
技术实现思路
本技术的技术任务是解决现有技术的不足,提供一种可在任意机器上测试、 测试时间短的IOG网卡专用PCIE转接测试卡。本技术的技术方案是按以下方式实现的,该一种IOG网卡的PCIE转接测试卡,其结构包括用于测试IOG网卡的PCIE转接卡,在PCIE转接卡的表面垂直设置有PCIE总线接口,所述PCIE总线接口通过布线连接有金手指接口,该金手指接口设置在PCIE转接卡的一长侧边上。这样的结构设置使得PCIE转接卡上同时兼备非标的高密高速接口和标准的PCIE总线接口,方便在任意机器上使用,减少测试时间。作为优选,所述PCIE总线接口是指PCIE X8接口或PCIE X16接口。这种结构涵盖了现有技术中最常用到的PCIE总线接口,使得本技术具有极高的应用性。本技本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种10G网卡的PCIE转接测试卡,其结构包括用于测试10G网卡的PCIE转接卡,其特征在于:在PCIE转接卡的表面垂直设置有PCIE总线接口,所述PCIE总线接口通过布线连接有金手指接口,该金手指接口设置在PCIE转接卡的一长侧边上。

【技术特征摘要】
1.一种IOG网卡的PCIE转接测试卡,其结构包括用于测试IOG网卡的PCIE转接卡,其特征在于在PCIE转接卡的表面垂直设置有PCIE总线接口,所述PCIE总线接口通过布线连接有金手指...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘宜龙张雁鹏王林
申请(专利权)人:浪潮电子信息产业股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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