一种10G网卡的PCIE转接测试卡制造技术

本实用新型专利技术提供一种10G网卡的PCIE转接测试卡，其结构包括用于测试10G网卡的PCIE转接卡，在PCIE转接卡的表面垂直设置有PCIE总线接口，所述PCIE总线接口通过布线连接有金手指接口，该金手指接口设置在PCIE转接卡的一长侧边上。该一种10G网卡的PCIE转接测试卡和现有技术相比，具有设计合理、结构简单、使用方便等特点，有效提高产品的竞争力，安装过程方便，极大减少了测试时间，有效减少研发时间，提高产品性能。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及计算机
，具体的说是一种结构简单、IOG网卡专用的PCIE转接测试卡。
技术介绍
IOG网卡是非标准、定制化的PCIE设备，往往都是和相应的机器绑定的，仅仅在特定的环境下测试，具有很大的局限性首先测试时必须在特定机器上进行，无法任意选择机器；其次是安装测试过程较为麻烦，测试时间长，增加研发时间，测试效果一般。
技术实现思路
本技术的技术任务是解决现有技术的不足，提供一种可在任意机器上测试、 测试时间短的IOG网卡专用PCIE转接测试卡。本技术的技术方案是按以下方式实现的，该一种IOG网卡的PCIE转接测试卡，其结构包括用于测试IOG网卡的PCIE转接卡，在PCIE转接卡的表面垂直设置有PCIE总线接口，所述PCIE总线接口通过布线连接有金手指接口，该金手指接口设置在PCIE转接卡的一长侧边上。这样的结构设置使得PCIE转接卡上同时兼备非标的高密高速接口和标准的PCIE总线接口，方便在任意机器上使用，减少测试时间。作为优选，所述PCIE总线接口是指PCIE X8接口或PCIE X16接口。这种结构涵盖了现有技术中最常用到的PCIE总线接口，使得本技术具有极高的应用性。本技术与现有技术相比所产生的有益效果是本技术的一种IOG网卡的PCIE转接测试卡具有结构简单、使用方便、构思巧妙等特点，本技术的转接卡具有极高的应用性，IOG网卡经过该卡转接后，可以放在任意机器上测试，只要具备标准的PCIE x8或者PCIE xl6接口即可；安装过程方便，极大减少了测试时间，可以在短时间内在多款机器上验证IOG网卡的功能和性能，减少研发时间，提闻广品性能。附图说明附图I是本技术的结构示意图。附图中的标记分别表示UPCIE总线接口，2、PCIE转接卡，3、金手指接口。具体实施方式以下结合附图对本技术的一种IOG网卡的PCIE转接测试卡作以下详细说明。如附图I所示，该一种IOG网卡的PCIE转接测试卡，其结构包括用于测试IOG网卡的PCIE转接卡2，在PCIE转接卡2的表面垂直设置有PCIE总线接口 1，所述PCIE总线接口 I通过布线连接有金手指接口 3，该金手指接口 3设置在PCIE转接卡2的一长侧边上；所述PCIE总线接口 I是指PCIE X8接 口或PCIE X16接口。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种10G网卡的PCIE转接测试卡，其结构包括用于测试10G网卡的PCIE转接卡，其特征在于：在PCIE转接卡的表面垂直设置有PCIE总线接口，所述PCIE总线接口通过布线连接有金手指接口，该金手指接口设置在PCIE转接卡的一长侧边上。

【技术特征摘要】
1.一种IOG网卡的PCIE转接测试卡，其结构包括用于测试IOG网卡的PCIE转接卡，其特征在于在PCIE转接卡的表面垂直设置有PCIE总线接口，所述PCIE总线接口通过布线连接有金手指...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘宜龙，张雁鹏，王林，
申请(专利权)人：浪潮电子信息产业股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：