一种DSP芯片功能测试装置制造方法及图纸

技术编号:8121714 阅读:206 留言:0更新日期:2012-12-22 11:56
本实用新型专利技术公开了一种DSP芯片功能测试装置,其用于检测待测DSP芯片的功能,其包括电路板以及安装在电路板上的DSP芯片插座、FPGA芯片、SDRAM芯片、FLASH芯片、功能合格的DSP芯片以及故障指示灯,DSP芯片插座插接待测DSP芯片,待测DSP芯片的四个链路口分别与功能合格的DSP芯片的四个链路口电性连接,两个DSP芯片均通过地址总线和数据总线与FPGA芯片、SDRAM芯片、FLASH芯片连接,故障指示灯与FPGA芯片连接。本实用新型专利技术的优点在于:可以对ADSP-TS201器件自动进行功能测试,从而可以判定器件可不可以正常工作,提早发现有问题的器件,可以缩短产品开发周期、降低成本。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及ー种测试装置,尤其是涉及ー种DSP芯片功能测试装置,特别是ー种适用于ADI公司的DSP芯片ADSP-TS201功能测试装置。
技术介绍
数字信号处理器(DSP,Digital Signal Processor)芯片,是专门为快速实现各种数字信号处理算法而设计的,具有特殊结构,进行高速实时处理的专用微处理器。DSP典型的特征是每个处理周期能够处理多条乘加操作,具有实时运算能力和实时的仿真能力和实时的模拟能力,具有很强的通用性、很高的可靠性,因此非常适合用干与数字信号处理有关的各个领域,如军事、无线通信、语音识别、图形/图像、仪器仪表、エ业控制、医疗、家用电器等。业内人士甚至断言DSP将成为未来集成电路领域发展最快的产品。 市场的需求催生了一大批DSP芯片研发、生产、应用企业。例如,DSP芯片的其中一款芯片TS201是ー款高性能的静态超标量处理器,其内核工作频率高达600MHz。TS201的静态超标量结构使DSP每周期能够执行多达4条指令,24个16位定点运算和6个浮点运算。DSP结构主要包括双运算块、程序控制器、双整型ALU、数据对齐缓冲器和中断控制器;集成I/O接ロ,包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种DSP芯片功能测试装置,其用于检测待测DSP芯片的功能,其特征在于,其包括电路板以及安装在电路板上的DSP芯片插座、FPGA芯片、SDRAM芯片、FLASH芯片、功能合格的DSP芯片以及故障指示灯,DSP芯片插座插接待测DSP芯片,待测DSP芯片的四个链路口分别与功能合格的DSP芯片的四个链路口电性连接,两个DSP芯片均通过地址总线和数据总线与FPGA芯片、SDRAM芯片、FLASH芯片连接,故障指示灯与FPGA芯片连接。

【技术特征摘要】
1.一种DSP芯片功能测试装置,其用于检测待测DSP芯片的功能,其特征在于,其包括电路板以及安装在电路板上的DSP芯片插座、FPGA芯片、SDRAM芯片、FLASH芯片、功能合格的DSP芯片以及故障指示灯,DSP芯片插座插接待测DSP芯片,待测DSP芯片的四个链路口分别与功能合格的DSP芯片的四个链路口电性连接,两个DSP芯片均通过地址总线和数据总线与FPGA芯片、SDRAM芯片、FLASH芯片连接,故障指示灯与FPGA芯片连接。2.如权利要求I所述的一种DSP芯片功能测试装置,其特征在于,DSP芯片功能测试装置还包括安装在电路板上的时钟驱动电路模块,时钟驱动电路模块与SDRAM芯片、以及两个DSP芯片均连接。3.如权利要求I或2所述的一种DSP芯片功能测试装置,其特征在于,DSP芯片...

【专利技术属性】
技术研发人员:潘勇先刘丽
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第三十八研究所
类型:实用新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1