受光透镜的配置方法及光学位移传感器技术

光学位移传感器（10）具有：投光模块（9）；受光元件（13），其用于接收来自投光模块（9）的光被测定对象物（16）反射的反射光；受光透镜（14），其位于测定对象物（16）和受光元件（13）之间，用于将反射光成像在受光元件（13）上。光在测定对象物（16）上的反射位置，在投光模块（9）的光轴（L1）上位于从离光源（11）近的第一位置（PN1）到离光源（11）远的第二位置（PF1）为止的规定的范围（W1）内。而且，以使从第一位置（PN1）入射至受光透镜（14）的反射光的入射角（θ1）与从第二位置（PF1）入射至受光透镜（14）的反射光的入射角（θ2）变为相同角度的方式配置受光透镜（14）。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种受光透镜的配置方法以及光学位移传感器，尤其是涉及一种基于三角测量原理来对测定对象物的位移进行测定的光学位移传感器以及在这样的光学位移传感器中使用的受光透镜的配置方法。
技术介绍
例如，在JP特开2008-145160号公报(专利文献I)中公开了一种现有的光学位移传感器。图7是示出了专利文献I所公开的现有的光学位移传感器100的图。如图7所不，光学位移传感器100具有投光模块101,其包括激光二极管IOla以及投光透镜IOlb,该激光二极管IOla用于将光照射至测定对象物106，该投光透镜IOlb用于对来自激光二极管IOla的光进行会聚；CCD103，其受光面103a接收特定反射光，该特定反射光是指，来自投光模块101的光被测定对象物106反射的反射光；受光透镜104,其用于使反射光成像在 CCD103的受光面103a上。在光学位移传感器100中，激光二极管IOla将光照射至测定对象物106，所照射的光被测定对象物106反射，经过受光透镜的该反射光被CCD103的受光面103a接收，由此能够基于接收到的该反射光的像的位置，来测定出测定对象物106的位移。而且，投光模本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.09.30 JP 2010-2222391.一种受光透镜的配置方法，该受光透镜使用于光学位移传感器中，其特征在于， 上述光学位移传感器具有 投光模块，其用于将光照射至测定对象物， 受光元件，其用于接收来自上述投光模块的光被上述测定对象物反射的反射光；上述受光透镜位于上述测定对象物和上述受光元件之间，用于将上述反射光成像在上述受光元件上， 上述投光模块、上述受光元件和上述受光透镜配置为满足交线条件， 光在上述测定对象物上的反射位置，在上述投光模块的光轴上位于从离上述投光模块近的第一位置到离上述投光模块远的第二位置为止的规定的范围内， 在上述配置方法中，以使从上述第一位置入射至上述受光透镜的反射光的入射角与从上述第二位置入射至上述受光透镜的反射光的入射角变为相同的角度的方式配置上述受光透镜。2.如权利要求I所述的受光透镜的配置方...

【专利技术属性】
技术研发人员：山川健太，一柳星文，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：
国别省市：