触控感测方法及触控感测装置制造方法及图纸

技术编号:8105451 阅读:157 留言:0更新日期:2012-12-21 03:51
一种触控感测方法,适于一触控面板。触控感测方法包括如下步骤。在一第一帧期间内,计算一触控物体在触控面板上所产生的一触控平均值。在一第二帧期间内,基于触控平均值,计算触控物体在触控面板上所产生的一触控振幅值。基于触控振幅值,判断触控物体是否为一欲检测的目标物。另外,一种触控感测装置亦被提出。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种感测方法及其装置,且特别是有关于一种触控感测方法及其>J-U ρ α装直。
技术介绍
在现今信息时代中,人类对于电子产品的依赖性与日俱增。笔记本型计算机、移动电话、个人数字助理器(personal digital assistant, PDA)、数字随身听等电子产品均已成为现代人生活及工作中不可或缺的应用工具。上述的电子产品均具有一输入接口,用以输入使用者所须指令,以使电子产品的内部系统自动执行此项指令。目前使用最广泛的输入接口装置包括键盘(keyboard)以及鼠标(mouse)。对于使用者来说,使用键盘、鼠标等传统的输入接口在部分的场合无疑会造成相当大的不便。为了解决这样的问题,制造商便开始电子装置上配置一个例如是触控板(touch pad)或触控面板(touch panel)等的触控输入接口,进而通过触控板或触控面板来取代键盘或鼠标的功能。就触控输入接口而言,目前使用者大都是利用手指或触控笔与触控输入接口之间所产生的接触或感应行为来进行点选动作。以触控面板而言,电容式触控输入接口通常相当敏锐。在进行触控感测时,触控物体的油溃及其它脏污的影响总是无可避免。因此,如何使触控感测装置适切地判断该触控物体是否为一欲检测的目标物乃当前重要的课题之
技术实现思路
本专利技术提供一种触控感测方法,其利用物体特性的不同,使触控感测装置可适切地判断触控物体是否为一欲检测的目标物。本专利技术提供一种触控感测装置可适切地判断触控物体是否为一欲检测的目标物。本专利技术提供一种触控感测方法,用于一触控面板。触控感测方法包括如下步骤。在一第一帧期间内,计算一触控物体在触控面板上所产生的一触控平均值。在一第二帧期间内,基于触控平均值,计算触控物体在触控面板上所产生的一触控振幅值。基于触控振幅值,判断触控物体是否为一欲检测的目标物。在本专利技术的一实施例中,上述的判断触控物体是否为欲检测的目标物的步骤包括如下步骤。判断触控振幅值是否大于一预设振幅值,以判断触控物体是否为欲检测的目标物。在本专利技术的一实施例中,上述的触控感测方法还包括如下步骤。判断触控物体在触控面板上所产生的多个触控值是否大于一预设临界值。当触控值大于预设临界值时,在第一帧期间内,计算触控物体的触控平均值。在本专利技术的一实施例中,上述的触控感测方法还包括如下步骤。计数触控面板的帧数,以分别定义第一帧期间及第二帧期间。本专利技术提供一种触控感测装置,用于一触控面板。触控感测装置包括一计算单元以及一判断单元。计算单元在一第一帧期间内,计算一触控物体在触控面板上所产生的一触控平均值。计算单元在一第二帧期间内,基于触控平均值,计算触控物体在触控面板上所产生的一触控振幅值。判断单元基于触控振幅值,判断触控物体是否为一欲检测的目标物。在本专利技术的一实施例中,上述的判断单元判断触控振幅值是否大于一预设振幅值,以判断触控物体是否为欲检测的目标物。在本专利技术的一实施例中,上述的判断单元判断触控物体在触控面板上所产生的多个触控值是否大于一预设临界值。当触控值大于预设临界值时,计算单元在第一帧期间内,计算触控物体的触控平均值。在本专利技术的一实施例中,上述的触控值是触控物体在触控面板上所产生的电容变化值。在本专利技术的一实施例中,上述的触控振幅值是触控物体在触控面板上所产生的电 容变化值的峰对峰值。在本专利技术的一实施例中,上述的第一帧期间及第二帧期间分别包括多个帧数。在本专利技术的一实施例中,上述的计算单元包括一计数单元。计数单元计数触控面板的帧数,以分别定义第一帧期间及第二帧期间。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂,下文特举实施例,并配合所附图式作详细说明如下。附图说明图IA及图IB分别绘示同一触控面板在不同的情况下,其感测通道的电容变化值。图2绘示本专利技术一实施例的触控感测系统的功能方块图。图3A及图3B分别绘示同一触控面板在不同的情况下,其感测通道的电容变化值。图4绘示本专利技术一实施例的触控感测方法的步骤流程图。[主要元件标号说明]100 :触控感测系统110:触控面板112、114:感测通道120 :触控感测装置122 :计算单元123 :计数单元124 :判断单元200 :脏污Tl :第一帧期间T2 :第二帧期间TH:预设临界值AV1、AV2 :触控平均值API、AP2 :触控振幅值S400、S402、S404、S406、S408、S410、S412、S414、S416、S418、S420 :触控感测方法的步骤具体实施例方式图IA及图IB分别绘示同一触控面板在不同的情况下,其感测通道的电容变化值。请参照图IA及图1B,一般而言,触控面板110通常包括多个沿着X方向排列的感测通道112及多个沿着Y方向排列的感测通道114。感测通道112、114分别用以感测触控面板110上因触控物体所产生的电容变化值。图IA所绘示者是使用者尚未对触控面板110进行触控操作,因此无论是感测通道112或114,其所感测的电容变化值皆未超过X临界值及Y临界值。此时,触控面板110会回传并未检测到触控物体的结果。另一方面,图IB所绘示者是触控面板110因触控物体的油溃及其它脏污的影响而产生的电容变化值。如图IB所示,在脏污200所覆盖的区域,触控面板110上对应的感测通道112、114会产生电容值的变化。因此,当该电容值的变化均超过X临界值及Y临界值时,触控面板110会据此回传脏污200的坐标值。然而,触控物体的油溃及其它脏污通常并非触控面板110所欲检测的目标物。因此,本专利技术的范例实施例提供一种触控感测方法,其可使触控感测装置适切地判断触控物体是否为一欲检测的目标物。在本专利技术的范例实施例中,相较于使用者的手指或触控笔,触控物体的油溃及其它脏污并非触控面板110所欲检测的目标物。图2绘示本专利技术一实施例的触控感测系统的功能方块图。图3A及图3B分别绘示 同一触控面板在不同的情况下,其感测通道的电容变化值。图3A所绘示者是使用者对触控面板110进行触控操作。图3B所绘示者是触控面板110因触控物体的油溃及其它脏污的影响而产生的电容变化值。请参考图2至图3B,本实施例的触控感测系统100包括触控面板110及触控感测装置120,其中触控感测装置120包括一计算单元122及一判断单元124,且计算单元122包括一计数单元123。在本实施例中,计数单元123用以计数触控面板110的帧数,以分别定义第一帧期间Tl及第二帧期间T2。在此,第一帧期间Tl例如包括8个帧数,第二帧期间T2例如包括12个帧数。以图3A为例,当触控物体300接触触控面板110时,触控物体300会在触控面板110上产生的触控值。在本实施例中,该触控值是触控物体300在触控面板110上所产生的电容变化值,其随时间而扰动。图3A所绘示的扰动情形是沿着X方向排列的感测通道112的电容变化值。另外,在图3A中,触控物体300例如是以使用者的手指为例,但本专利技术并不限于此。接着,判断单元124判断触控物体300在触控面板110上所产生的电容变化值是否大于一预设临界值TH。当电容变化值大于预设临界值TH时,计算单元122在第一帧期间Tl内,计算触控物体300的电容变化值的平均值AVl。之后,计算单元110在第二帧期间T2内,基于电容变化值的平均值AVl,计算触控物本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控感测方法,用于一触控面板,该触控感测方法包括:在一第一帧期间内,计算一触控物体在该触控面板上所产生的一触控平均值;在一第二帧期间内,基于该触控平均值,计算该触控物体在该触控面板上所产生的一触控振幅值;以及基于该触控振幅值,判断该触控物体是否为一欲检测的目标物。

【技术特征摘要】
1.一种触控感测方法,用于一触控面板,该触控感测方法包括 在一第一帧期间内,计算一触控物体在该触控面板上所产生的一触控平均值; 在一第二帧期间内,基于该触控平均值,计算该触控物体在该触控面板上所产生的一触控振幅值;以及 基于该触控振幅值,判断该触控物体是否为一欲检测的目标物。2.根据权利要求I所述的触控感测方法,其中判断该触控物体是否为该欲检测的目标物的该步骤包括 判断该触控振幅值是否大于一预设振幅值,以判断该触控物体是否为该欲检测的目标物。3.根据权利要求I所述的触控感测方法,还包括 判断该触控物体在该触控面板上所产生的多个触控值是否大于一预设临界值, 其中当该触控值大于该预设临界值时,在该第一帧期间内,计算该触控物体的该触控平均值。4.根据权利要求3所述的触控感测方法,其中该多个触控值是该触控物体在该触控面板上所产生的电容变化值。5.根据权利要求4所述的触控感测方法,其中该触控振幅值是该触控物体在该触控面板上所产生的该电容变化值的峰对峰值。6.根据权利要求I所述的触控感测方法,其中该第一帧期间及该第二帧期间分别包括多个帧数。7.根据权利要求6所述的触控感测方法,还包括 计数该触控面板的该多个帧数,以分别定义该第一帧期间及该第二帧期间。8.一种触控感测装置,用于...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘叡明戴绅峰
申请(专利权)人:奇景光电股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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