粒状体分选装置制造方法及图纸

提供能够高精度地进行判别是否是成为分离对象的粒状体的粒状体判别处理的粒状体分选装置。装备有：反射光受光组件（5A）、在粒状体的移送方向上观察时相对于计量对象部位位于一侧、接受反射光，另一侧的反射光受光组件（5B）、相对于计量部位（J）位于另一侧、接受反射光，透过光受光组件（5C）、位于计量部位（J）的另一侧、接受透过光，一侧照明组件（4A）、对反射光计量部位（J1）进行照明，另一侧照明组件（4B）、在粒状体的移送方向上观察时相对于计量对象部位（J）位于另一侧、对反射光计量部位进行照明，基于一侧的反射光受光组件（5A）、另一侧的反射光受光组件（5B）、透过光受光组件（5C）各自的检测信息执行粒状体判别处理。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种粒状体分选装置，该装置设有将粒状体群通过计量对象部位地移送的移送组件，接受来自上述计量对象部位的粒状体的光的受光组件，对上述计量对象部位进行照明的照明组件，以及基于上述受光组件的受光信息执行判别是否是成为分离对象的粒状体的粒状体判别处理的评价处理组件。
技术介绍
作为上述粒状体分选装置，以往以来有如下构成的装置。S卩，作为上述照明组件，具备在粒状体的移送方向上观察时相对于计量对象部位位于一侧(具体地说相对于计量对象部位为装置前部一侧)的一侧照明组件，和在粒状体的移送方向上观察时相对于计量对象部位位于与上述一侧的部位180度不同的另一侧(具体地说相对于计量对象部位为装置后部一侧)的另一侧照明组件，作为上述受光组件，具备在粒状体的移送方向上观察时相对于计量对象部位位于一侧(装置前部一侧)、接受来自粒状体的反射光的一侧的受光组件，和在粒状体的移送方向上观察时相对于计量对象部位位于与上述一侧的部位180度不同的另一侧(装置后部一侧)、接受反射光的另一侧的受光组件，一侧照明组件和另一侧照明组件为一起动作的状态，在一侧受光装置以及另一侧受光装置的每一个中切换成第I计量状态或第2计量状态，所述第I计量状态接受由位于计量对象部位的粒状体反射的光，基于该受光信息执行粒状体判别处理，所述第2计量状态使一侧照明组件和另一侧照明组件中的某一个为非动作状态，由一侧受光装置和另一侧受光装置中的某一个受光装置接受透过粒状体的透过光，由另一侧受光装置接受粒状体所反射的光，基于这些受光信息执行粒状体判别处理(例如参照日本国特开2007-330880号公报)。上述结构能够在第I计量状态下作为成为分离对象的粒状体检测出光反射率偏离了适当范围的粒状体，能够在第2状态下作为成为分离对象的粒状体检测出光通过率偏离了适当范围的粒状体。在上述以往的结构中，为了检测出上述那种光反射率偏离了适当范围的粒状体或光透过率偏离了适当范围的粒状体，必须要切换成上述那样不同的两种计量状态中的每一种，分别进行一边通过移送组件使粒状体群移送一边执行粒状体判别处理的作业，存在导致作业效率降低的缺点。若进行说明，则例如通过切换成第I计量状态，由一侧受光装置以及另一侧受光装置的某一个接受由粒状体反射的光，执行粒状体判别处理，从而检测出光反射率偏离了适当范围的粒状体。接着切换成第2计量状态，将在第I计量状态下光反射率未偏离适当范围的粒状体群作为对象，通过由某一个受光装置接受透过粒状体的透过光，执行粒状体判别处理，从而检测出光透过率偏离了适当范围的粒状体。这样，必须要切换成第I计量状态和第2计量状态进行粒状体判别处理，存在导致作业效率降低的缺点。但是，虽考虑取代上述这样的结构，例如，作为照明组件仅具备一侧照明组件和另一侧照明组件中的某一个，一侧受光装置和另一侧受光装置中的某一个接受由位于计量对象部位的粒状体反射的光，另一个接受透过位于计量对象部位的粒状体的光，基于一侧受光装置和另一侧受光装置各自的受光信息执行粒状体判别处理的结构，但在这种结构中，由于仅是一侧受光装置和另一侧受光装置中的某一个受光装置计量来自粒状体的反射光，所以得不到来自粒状体的表面中在粒状体的移送方向上观察时相对于计量对象部位为一侧的表面或者另一侧的表面中的某一侧的反射光的信息，存在不能够高精度地进行判别是否是成为分离对象的粒状体的粒状体判别处理的缺点。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种粒状体分选装置，能够以不会导致作业效率降低的状态高精度地进行判别是否是成为分离对象的粒状体的粒状体判别处理。本专利技术所涉及的粒状体分选装置设有移送组件，将粒状体群通过计量对象部位地移送；受光组件，接受来自上述计量对象部位的粒状体的光；照明组件，对上述计量对象 部位进行照明；以及评价处理组件，执行基于上述受光组件的受光信息判别是否是成为分离对象的粒状体的粒状体判别处理；作为上述计量对象部位，以在粒状体的移送方向上位置不同的状态设定用于计量由粒状体的表面反射的反射光的反射光计量部位，和用于接受透过粒状体的透过光的透过光计量部位；上述受光组件具备一侧的反射光受光组件、在粒状体的移送方向上观察时相对于上述计量对象部位位于一侧、接受上述反射光，另一侧的反射光受光组件、在粒状体的移送方向上观察时相对于上述计量部位位于与上述一侧的部位180度不同的另一侧、接受上述反射光，以及透过光受光组件、位于上述计量部位的一侧或者另一侧的某一侧、接受上述透过光；上述照明组件具备一侧照明组件、在粒状体的移送方向上观察时相对于上述计量对象部位位于上述一侧、对上述反射光计量部位进行照明，另一侧照明组件、在粒状体的移送方向上观察时相对于上述计量对象部位位于上述另一侧、对上述反射光计量部位进行照明，以及透过光照明组件、位于上述计量对象部位的一侧或者另一侧中与上述透过光受光组件相反一侧、对透过光计量部位进行照明；上述评价处理组件基于上述一侧的反射光受光组件，上述另一侧的反射光受光组件，以及上述透过光受光组件各自的检测信息执行上述粒状体判别处理。即，一侧照明组件以及另一侧照明组件中与透过光受光组件所在一侧相反一侧的照明组件作为透过光照明组件对透过光计量部位进行照明，透过光受光组件接受来自透过光计量部位的光，通过遮光部件的遮光作用，防止一侧照明组件以及另一侧照明组件中透过光受光组件所在一侧的照明组件对反射光计量部位进行照明并由透过光受光组件接受从反射光计量部位的粒状体反射的光，及阻止一侧照明组件以及另一侧照明组件中透过光受光组件所在一侧的照明组件的照明光到达透过光计量部位，从而能够以反射光计量部位与透过光计量部位在粒状体群的移送方向上接近的状态进行反射光或透过光的粒状体判别处理。也就是说，一侧照明组件的照明光及另一侧照明组件的照明光投射成沿着粒状体群的移送方向的宽度越接近反射光计量部位越窄的光束状，有效地对反射光计量部位进行照明，除了反射光计量部位之外使透过光计量部位也位于一侧照明组件的照明光及另一侧照明组件的照明光的投射区域内，能够以反射光计量部位与透过光计量部位在粒状体群的移送方向上接近的状态进行反射光及透过光的粒状体判别处理。若加以说明，则在进行反射光及透过光的粒状体判别处理时，如果使反射光计量部位与透过光计量部位沿着粒状体群的移送方向充分离开，则能够避免一侧照明组件以及另一侧照明组件中与透过光受光组件所在一侧相反一侧的照明组件对透过光计量部位进行照明，而且能够避免因一侧照明组件以及另一侧照明组件中透过光受光组件所在一侧的照明组件对反射光计量部位进行照明而由透过光受光组件接受从反射光计量部位的粒状体反射的光，及避免一侧照明组件与另一侧照明组件中透过光受光组件所在一侧的照明组件的照明光到达透过光计量部位。但是，在这种情况下，不仅存在难以谋求装置的紧凑化的不良情况，由于因在设置从粒状体群中分离出成为分离对象的粒状体的分离组件时，要分别设置与反射光计量部位相对应的分离组件，和与透过光计量部位相对应的分离组件等，装置结构有可能复杂，所以希望反射光计量部位与透过光计量部位在粒状体群的移送方向上接近。 因此，根据上述结构，能够以反射光计量部位与透过光计量部位在粒状体群的移送方向上接近的状态进行反射光或透过光的粒状体判别处理。在上述结构中，设有对上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种粒状体分选装置，设有：移送组件，将粒状体群通过计量对象部位地移送；受光组件，接受来自上述计量对象部位的粒状体的光；照明组件，对上述计量对象部位进行照明，以及评价处理组件，执行基于上述受光组件的受光信息判别是否是成为分离对象的粒状体的粒状体判别处理；其特征在于，作为上述计量对象部位，以在粒状体的移送方向上位置不同的状态设定用于计量由粒状体的表面反射的反射光的反射光计量部位，和用于接受透过粒状体的透过光的透过光计量部位；上述受光组件具备：一侧的反射光受光组件、在粒状体的移送方向上观察时相对于上述计量对象部位位于一侧、接受上述反射光，另一侧的反射光受光组件、在粒状体的移送方向上观察时相对于上述计量部位位于与上述一侧的部位180度不同的另一侧、接受上述反射光，以及透过光受光组件、位于上述计量部位的一侧或者另一侧的某一侧、接受上述透过光；上述照明组件具备：一侧照明组件、在粒状体的移送方向上观察时相对于上述计量对象部位位于上述一侧、对上述反射光计量部位进行照明，另一侧照明组件、在粒状体的移送方向上观察时相对于上述计量对象部位位于上述另一侧、对上述反射光计量部位进行照明，以及透过光照明组件、位于上述计量对象部位的一侧或者另一侧中与上述透过光受光组件相反一侧、对透过光计量部位进行照明；上述评价处理组件基于上述一侧的反射光受光组件，上述另一侧的反射光受光组件，以及上述透过光受光组件各自的检测信息执行上述粒状体判别处理。...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：池田直人，山原成晃，松井昭男，
申请(专利权)人：株式会社久保田，
类型：发明
国别省市：