一种X光源点与成像平面相对位置测量器，包括上层测定板和下层测定板，上层测定板和下层测定板平行间隔相连，在下层测定板上设有一个第一钢球和四个第二钢球，在上层测定板上设有多个第三钢球。采用本实用新型专利技术的X光源点与成像平面相对位置测量器对C形臂X光锥进行测定，根据测定结果再配合计算即可得出在不同C形臂姿态下其X光源点与成像平面之间的相对位置关系。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种检测器械，尤其涉及一种X光源点与成像平面相对位置测量器。
技术介绍
C形臂X光机在医院临床应用中用途广泛，例如在骨科的整骨、复位、打钉、椎间盘造影和消融以及经皮穿刺中，在肿瘤科的多部位肿瘤介入治疗等传统手术过程或是手术导航系统均离不开C形臂X光机。C形臂X光机在成像过程中，其X光源点与成像平面之间的相对位置关系会随C形臂姿态的不同而有所变化，这将直接影响到所获取的2D投影图像，并进而影响整个手术导 航系统的性能，因此必须对C形臂X光源点与成像平面之间的相对位置关系进行测定。经对现有技术的文献检索发现，专利号为200610027964. 0的中国技术专利《可转离式C形臂校准靶》以及专利号为200610027963.6的中国技术专利《可拆换式C形臂校准靶》中实现的校准靶可以在多类计算机辅助外科手术导航系统中实现C形臂位置跟踪、图像变形校正及C形臂相机校准，在手术导航系统中提高了患者解剖图像的质量，其不足在于，仅能实现变形校正，而不能得到对不同C形臂姿态下其X光源点与成像平面之间的相对位置关系。
技术实现思路
本技术的目的，就是为了解决上述问题，提供一种X光源点与成像平面相对位置测量器。为了达到上述目的，本技术采用了以下技术方案一种X光源点与成像平面相对位置测量器，包括上层测定板和下层测定板，上层测定板和下层测定板平行间隔相连，在下层测定板上设有一个第一钢球和四个第二钢球，在上层测定板上设有多个第三钢球。所述的上层测定板的周边设有三个固定定位爪，三个固定定位爪之间形成用于容置C形臂影像增强器的空间。所述的多个第三钢球采用正交方式排列，并且其中心钢球位于X光源点与成像平面相对位置测量器的中轴线上，多个第三钢球的中心与上层测定板的上表面处于同一平面。所述的下层测定板包括一个中部圆盘和连接在圆盘周向的三个外伸脚，下层测定板通过三个外伸脚与上层测定板平行间隔相连；所述的四个第二钢球均匀间隔设置在圆盘的边缘，所述的一个第一钢球设置在圆盘的中心并且位于X光源点与成像平面相对位置测量器的中轴线上；所述的第一钢球和四个第二钢球的中心与下层测定板的上表面处于同一平面。所述的三个固定定位爪上分别设有用于将上层测定板与C形臂影像增强器连接的螺钉孔。所述的上层测定板和下层测定板之间通过标准螺钉平行间隔相连，其间隔距离由套在标准螺钉上的标准套筒精确定位。所述的上层测定板和下层测定板用透明的高分子有机玻璃制作。本技术的X光源点与成像平面相对位置测量器结构简单，加工使用方便，材料易获得且价格适中，成本低。采用本技术的X光源点与成像平面相对位置测量器对C形臂X光锥进行测定，根据测定结果再配合计算即可得出在不同C形臂姿态下其X光源点与成像平面之间的相对位置关系。附图说明图I为本技术X光源点与成像平面相对位置测量器的总体结构示意图；图2为本技术中的上层测定板的结构示意图；图3为本技术中的下层测定板的结构示意图。具体实施方式参见图1，配合参见图2、图3，本技术一种X光源点与成像平面相对位置测量器，包括上层测定板I和下层测定板2，上层测定板I和下层测定板2之间通过标准螺钉平行间隔相连，其间隔距离由套在标准螺钉上的标准套筒3精确定位。上层测定板I和下层测定板2用透明的高分子有机玻璃制作。图I中所示，13为用于连接上层测定板I和下层测定板2的螺钉。配合参见图2，在上层测定板I的周边设有三个固定定位爪11，三个固定定位爪之间形成用于容置C形臂影像增强器的空间。在三个固定定位爪11上分别设有用于将上层测定板与C形臂影像增强器连接的螺钉孔111。在上层测定板I上设有多个第三钢球12，多个第三钢球12采用正交方式排列，并且其中心钢球位于X光源点与成像平面相对位置测量器的中轴线上，各第三钢球的中心与上层测定板I的上表面处于同一平面。在本实施例中，多个第三钢球12的数量为221个。配合参见图3，下层测定板2包括一个中部圆盘21和连接在圆盘周向的三个外伸脚22，下层测定板2通过三个外伸脚22与上层测定板I平行间隔相连；在下层测定板上2设有一个第一钢球23和四个第二钢球24，四个第二钢球24均匀间隔设置在圆盘21的的边缘，一个第一钢球23设置在圆盘21的中心并且位于X光源点与成像平面相对位置测量器的中轴线上；第一钢球和第二钢球的中心与下层测定板2的上表面处于同一平面。上述钢球均采用硅胶封堵在各钢球内。权利要求1.一种X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征在于包括上层测定板和下层测定板，上层测定板和下层测定板平行间隔相连，在下层测定板上设有一个第一钢球和四个第二钢球，在上层测定板上设有多个第三钢球。2.根据权利要求书I所述的X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征在于所述的上层测定板的周边设有三个固定定位爪，三个固定定位爪之间形成用于容置C形臂影像增强器的空间。3.根据权利要求书I所述的X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征在于所述的多个第三钢球采用正交方式排列，并且其中心钢球位于X光源点与成像平面相对位置测量器的中轴线上，多个第三钢球的中心与上层测定板的上表面处于同一平面。4.根据权利要求书I所述的X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征是，所述的下层测定板包括一个中部圆盘和连接在圆盘周向的三个外伸脚，下层测定板通过三个外伸脚与上层测定板平行间隔相连；所述的四个第二钢球均匀间隔设置在圆盘的边缘，所述的一个第一钢球设置在圆盘的中心并且位于X光源点与成像平面相对位置测量器的中轴线上；所述的第一钢球和四个第二钢球的中心与下层测定板的上表面处于同一平面。5.根据权利要求书2所述的X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征在于所述的三个固定定位爪上分别设有用于将上层测定板与C形臂影像增强器连接的螺钉孔。6.根据权利要求书I所述的X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征在于所述的上层测定板和下层测定板之间通过标准螺钉平行间隔相连，其间隔距离由套在标准螺钉上的标准套筒精确定位。7.根据权利要求书I所述的X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征在于所述的上层测定板和下层测定板用透明的高分子有机玻璃制作。专利摘要一种X光源点与成像平面相对位置测量器，包括上层测定板和下层测定板，上层测定板和下层测定板平行间隔相连，在下层测定板上设有一个第一钢球和四个第二钢球，在上层测定板上设有多个第三钢球。采用本技术的X光源点与成像平面相对位置测量器对C形臂X光锥进行测定，根据测定结果再配合计算即可得出在不同C形臂姿态下其X光源点与成像平面之间的相对位置关系。文档编号A61B6/03GK202553960SQ20122017461公开日2012年11月28日 申请日期2012年4月23日 优先权日2012年4月23日专利技术者周鹏程, 胡方遒, 闫士举 申请人:上海理工大学本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征在于：包括上层测定板和下层测定板，上层测定板和下层测定板平行间隔相连，在下层测定板上设有一个第一钢球和四个第二钢球，在上层测定板上设有多个第三钢球。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：周鹏程，胡方遒，闫士举，
申请(专利权)人：上海理工大学，
类型：实用新型
国别省市：
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