一种多量程集成压力传感器芯片制造技术

技术编号:8021301 阅读:212 留言:0更新日期:2012-11-29 03:37
本发明专利技术是一种多量程集成压力传感器芯片,包括硅衬底,在硅衬底上设置两个或两个以上不同量程压力传感器,由腐蚀孔、膜片、应变电阻构成;在膜片上表面设有四个互相对称的应变电阻,四个应变电阻通过导线连接成惠斯通电桥;膜片与硅衬底相连并构成腔体,膜片支撑边缘设置有腐蚀孔。本发明专利技术具有体积小、量程宽、低压灵敏度高、温漂系数小和制造工艺与集成电路工艺兼容的特点,本发明专利技术可用于汽车中多路压力测量、环境控制压力测量、航空系统以及石油化工等领域中的压力测量,适于推广应用。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种多量程集成压力传感器芯片,其特征在于:包括硅衬底(1),在硅衬底(1)上设置有不同量程压力传感器,称为小量程传感器(6)和大量程传感器(7),每个传感器由腐蚀孔(2)、膜片(3)、应变电阻(4)构成;在膜片(3)上面设有四个互相对称的应变电阻(4),四个应变电阻通过导线连接成惠斯通电桥,将压力转换成电压输出;膜片(3)与硅衬底(1)相连并构成腔体(8),膜片(3)支撑边缘设置有腐蚀孔(2)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:揣荣岩王健刘斌
申请(专利权)人:沈阳工业大学
类型:发明
国别省市:

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