本发明专利技术提供一种图像处理装置、射线照像图像捕获系统和图像处理方法。一种图像处理装置，其包括：层析图像生成部件，其获取生成层析图像；显示处理部件，其显示第二射线照像图像；以及，检测部件。如果在第二射线照像图像上指定关心区域，则检测部件通过将关心区域与作为与关心区域对应的层析图像中的区域的对应区域作比较来执行图像分析，并且检测包括与关心区域类似的对应区域的层析图像。如果在第二射线照像图像上指定关心位置，则检测部件通过将关心位置与作为对应于关心位置的层析图像中的位置的对应位置作比较来执行图像分析，并且检测包括与关心位置类似的对应位置的层析图像。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及，并且具体地涉及从通过使用来自不同角度的放射线来照射被摄体而捕获的射线照像图像产生断层(层析成像)图像的。
技术介绍
传统上已知执行放射成像以用于医疗诊断的目的的射线照像图像捕获装置。乳房X线照像机器已知作为这样的射线照像图像捕获装置之一，它将被摄体的乳房成像以用于包括病变(诸如肿瘤或钙化组织)的检测和观察的医疗检查的目的。在乳房X线照像中，已知一种技术，其中，通过从多个不同角度捕获被摄体的乳房的断层合成成像来获得多个射线照像图像，并且通过重建所捕获的多个射线照像图像来获得乳房的层析图像。当在断层合成成像中获得多个层析图像时，存在其中将诸如病变的关心物体成 像的层析图像；以及，其中，未将关心物体成像的层析图像。因此，相对于被摄体执行病变的检测或观察的诸如医生的用户需要通过逐个地转换多个层析图像来对它们进行读图或读取，这与读取二维图像的情况相比需要麻烦的操作，并且可能需要长时间来读图。在这一点上，已经提出了用于获得其中将关心物体成像的层析图像或射线照像图像的技术。例如，日本专利申请公开(JP-A) 2010-131170公开了用于基于从立体图像或超声图像获取的关心部位的位置信息来产生和显示包括关心部位的层析图像的技术。JP-ANo. 2010-162154公开了一种用于基于在已经被用户输入的射线照像图像中的关心区域的三维(3D)坐标来从多个射线照像图像识别与关心区域对应的区域的图像的技术。通常，通过对单个二维图像和通过断层合成成像获得的层析图像进行读图来执行使用通过断层合成成像而获得的层析图像的医疗检查。
技术实现思路
本专利技术提供了允许用户有效地对其中将关心物体成像的一个或多个层析图像进行读图的。本专利技术的一个方面是一种图像处理装置，其具有层析图像生成部件，其从射线照像图像检测器获取多个第一射线照像图像，所述多个第一射线照像图像通过由放射线照射部相对于在所述射线照像图像检测器上的被摄体从不同的角度照射放射线利用所述射线照像图像检测器来捕获，所述放射线照射部被设置使得面向所述射线照像图像检测器，并且所述层析图像生成部件通过使用所述射线照像图像检测器的检测面作为基准重建所述多个第一射线照像图像来生成所述被摄体的多个层析图像；显示处理部件，其在显示部件上显示通过由所述放射线照射部相对于在所述射线照像图像检测器上的所述被摄体从预定角度照射放射线而由所述射线照像图像检测器获取的第二射线照像图像；以及，检测部件，其(a)如果在所显示的第二射线照像图像上指定包括关心物体的关心区域，则通过将所述关心区域与作为与所述关心区域对应的所述多个层析图像中的区域的对应区域作比较来执行图像分析，并且基于所述图像分析的结果来检测出包括与所述关心区域类似的对应区域的层析图像，并且(b)如果在所述第二射线照像图像上指定所述关心物体的关心位置，则通过将所述关心位置与作为对应于所述关心位置的所述多个层析图像中的位置的对应位置作比较来执行图像分析，并且基于所述图像分析的结果来检测出包括与所述关心位置类似的对应位置的层析图像。通过从放射线照射部相对于在射线照像图像检测器上的被摄体从不同的角度照射放射线，射线照像图像检测器捕获多个第一射线照像图像，所述放射线照射部被设置使得面向所述射线照像图像检测器。层析图像生成部件通过使用射线照像图像检测器的检测面作为基准重建多个第一射线照像图像来产生被摄体的多个层析图像。显示处理部件使得在显示部件上显示第二射线照像图像，第二射线照像图像是通过使用由放射线照射部从预定角度的放射线照射在层析图像检测器上的被摄体而从射线照像图像检测器获得的。此夕卜，如果在显示的第二射线照像图像上指定包括关心物体的关心区域，则检测部件通过将关心区域与作为与关心区域对应的多个层析图像中的区域的对应区域作比较来执行图像分析，并且基于图像分析的结果来检测出包括与关心区域类似的对应区域的层析图像，并 且，如果在第二射线照像图像上指定关心物体的关心位置，则检测部件通过将关心位置与作为对应于关心位置的多个层析图像中的位置的对应位置作比较来执行图像分析，并且基于图像分析的结果来检测出包括与关心位置类似的对应位置的层析图像。在其中存在多个层析图像的情况下，诸如医生的用户可能需要通过将多个层析图像显示在显示部件上并且逐个地转换它们来对所述多个层析图像进行读图，这可能需要长时间用于该读图。然而，在上面的方面中，如果已经在作为二维图像的第二射线照像图像上指定了包括关心物体的关心区域，则检测部件通过将关心区域与作为对应于关心区域的多个层析图像中的区域的对应区域作比较来执行图像分析，并且基于图像分析的结果来检测出包括类似于关心区域的对应区域的层析图像。此外，如果已经指定了关心物体的关心位置，则检测部件通过将关心位置与作为对应于关心位置的多个层析图像中的位置的对应位置作比较来执行图像分析，并且基于图像分析的结果来检测包括类似于关心位置的对应位置的层析图像。因此，可以检测出和在显示部件上显示其中将关心物体成像的层析图像，由此，用户可以有效地对包括关心物体的层析图像进行读图。在上面的方面中，可以建立配置使得(al)如果所述关心区域的尺寸小于预定尺寸，则所述检测部件将其中各个像素的像素值等于或大于预定像素值的对应区域确定为与所述关心区域类似，并且(bl)如果指定所述关心位置，则所述检测部件将其中各个像素的像素值等于或大于所述预定像素值的对应位置确定为与所述关心位置类似。在上面的方面中，可以建立配置使得所述检测部件从检测结果排除在使用所述射线照像图像检测器的所述检测面作为基准重建的方向上相邻的层析图像。在上面的方面中，可以进行配置使得(a2)如果检测到包括类似于所述关心区域的所述对应区域的多个层析图像，则所述检测部件设置包括所述关心区域并且大于所述预定尺寸的检测区域，并且基于所述检测区域的像素的像素值和所述对应区域的像素的像素值来执行图像分析，并且(b2)如果检测到包括类似于所述关心位置的所述对应位置的多个层析图像，则所述检测部件设置包括所述关心位置的检测区域，并且基于所述检测区域的像素的像素值和所述对应位置的像素的像素值来执行图像分析。在上面的方面中，可以建立配置使得如果所述关心区域的尺寸等于或大于预定尺寸，则所述检测部件基于所述关心区域的像素的像素值和所述对应区域的像素的像素值来执行图像分析。在上面的方面中，可以建立配置使得如果所述检测部件的所述图像分析的结果指示没有与所述关心区域或所述关心位置类似的对应区域或对应位置，则所述层析图像生成部件减小用于产生层析图像的切片厚度，并且重新生成所述层析图像。在上面的方面中，可以建立配置使得所述显示处理部件在所述显示部件上显示所检测出的层析图像。在上面的方面中，可以建立配置使得如果所述检测部件检测到多个层析图像，则所述显示处理部件以从包括与所述关心区域或所述关心位置具有高度类似性的对应区域或对应位置的层析图像开始的顺序显示所检测出的层析图像。 在上面的方面中，可以进行配置使得所述预定角度是与所述射线照像图像检测器的所述检测面相交的方向的角度。本专利技术的第二方面是一种射线照像图像检测系统，其包括射线照像图像捕获装置，通过由放射线照射部相对于在射线照像图像检测器上的被摄体从不同角度照射放射线，所述射线照像图像捕本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种图像处理装置，其包括：层析图像生成部件，其从射线照像图像检测器获取多个第一射线照像图像，所述多个第一射线照像图像通过从被设置使得面向所述射线照像图像检测器的放射线照射部相对于在所述射线照像图像检测器上的被摄体从不同的角度照射放射线利用所述射线照像图像检测器来捕获，并且所述层析图像生成部件通过使用所述射线照像图像检测器的检测面作为基准重建所述多个第一射线照像图像来生成所述被摄体的多个层析图像；显示处理部件，其在显示部件上显示通过由所述放射线照射部相对于在所述射线照像图像检测器上的所述被摄体从预定角度照射放射线而由所述射线照像图像检测器获取的第二射线照像图像；以及，检测部件，其（a）如果在所显示的第二射线照像图像上指定包括关心物体的关心区域，则通过将所述关心区域与作为与所述关心区域对应的所述多个层析图像中的区域的对应区域作比较来执行图像分析，并且基于图像分析的结果来检测出包括与所述关心区域类似的对应区域的层析图像，并且（b）如果在所述第二射线照像图像上指定所述关心物体的关心位置，则通过将所述关心位置与作为对应于所述关心位置的所述多个层析图像中的位置的对应位置作比较来执行图像分析，并且基于图像分析的结果来检测出包括与所述关心位置类似的对应位置的层析图像。...
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：田岛崇史，
申请(专利权)人：富士胶片株式会社，
类型：发明
国别省市：
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