DDS检测结构及检测方法技术

本发明专利技术公开了一种DDS检测结构，包括：显示面板，在外围电路区中具有依次排列的若干数据线，每相邻两根数据线包括一根奇数线和一根偶数线；奇数总电路线，与所述数据线的所有奇数线连接，具有奇数电压输入端；偶数总电路线，与所述数据线的所有偶数线连接，具有偶数电压输入端；所述显示面板位于外围电路区的每根数据线上各设置有一个通断开关。本发明专利技术还公开了一种采用上述DDS检测结构进行DDS检测的方法。本发明专利技术能尽快的缩小DDS现象发生的位置和DDS的种类的查找范围，从而可以更快更准确的找到DDS现象发生的原因，提高产品良率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示装置检测
，尤其涉及一种DDS检测结构及检测方法。
技术介绍
目前薄膜场效应晶体管液晶显示器(TFT-IXD)产业阵列(Array)产线测试中需要检测数据线开路(Data Open)、DDS (数据线-数据线短路Data-Data Short)等,其电路测试的主要方法是在外围电路将所有数据线(Data线)的奇数线通过一条短路条(shortingbar)连成一条奇数总电路线D0，在外围电路将所有的偶数线通过一条短路条连成一条偶数总电路线DE ;当分别在所述奇数总电路线DO和偶数总电路线DE上加不同的电压时，如果没有发生短路，则电流顺利流走，如果不同的数据线之间发生短路，形成电路回路，进而检测到DDS。短路条的优势在于可以依照所检查的显示面板尺寸来弹性设计，并配合多次移动测试，如此可进行大尺寸显示面板的检测。但通过短路条进行的电路测试只是很笼统的测试，不能对DDS进行分类，从而使得以后的分析过程很繁琐，增加分析时间，不能更有效及时地确认不良的原因，进而提闻良率。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本专利技术要解决的技术问题是提供一种DDS检测结构，以尽量缩小D本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种DDS检测结构，包括：显示面板，在外围电路区中具有依次排列的若干数据线，每相邻两根数据线包括一根奇数线和一根偶数线；奇数总电路线，与所述数据线的所有奇数线连接，具有奇数电压输入端；偶数总电路线，与所述数据线的所有偶数线连接，具有偶数电压输入端；其特征在于，所述显示面板位于外围电路区的每根数据线上设置有通断开关。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：贾丕健，郝昭慧，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：