一种空间相机在轨辐射响应非均匀性校正方法技术

一种空间相机在轨辐射响应非均匀性校正方法属于空间相机在轨图像处理技术领域，解决了效果难校正，成本大的问题，同时，判读实时性的问题也得到了改善。该方法采用两点定标校正法：选取暗场灰度值点和半饱和灰度值点；在均匀光入射条件下，图像校正后各个像素点的灰度值一致；在暗场条件下，图像校正后各个像素点的灰度值基本为零，图像先后经过减运算和乘运算，运算结果再进行上限判定，完成该方法。本发明专利技术通过空间相机成像控制器的FPGA软件设计，完成空间相机辐射响应非均匀性校正功能。FPGA软件更改的限制较少，提高了校正实施的灵活性，可以取得更优的校正效果；下行的图像可以直接进行判读，提高了空间相机图像判读的实时性。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种空间相机在轨辐射响应非均匀性校正方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：步骤一：在暗场条件下定标室进行成像实验：设置成像条件受到轨道高度、太阳高度角和地面反射率影响下相机工作的行频和增益参数，改变TDI？CCD积分级数8、16、32、48、72、96级，在每个积分级数下采集500行图像数据，计算出第i列像素点灰度值的平均值；步骤二：在均匀光入射条件下定标室进行成像实验：设置成像条件受到轨道高度、太阳高度角和地面反射率影响下相机工作的行频和增益参数，改变TDI？CCD积分级数8、16、32、48、72、96级，在每个积分级数下调整积分球的亮度，使图像灰度值约为CCD饱和输出灰度值的一半并采集500行图像数据，计算出第i列像素点灰度值的平均值；步骤三：通过校正公式、非均匀性校正乘系数、暗场条件下第i列像素点灰度值的平均值、均匀光入射条件下第i列像素点灰度值的平均值和第i个像素点实际的量化值，在均匀光入射条件下，图像校正后各个像素点的灰度值一致；在暗场条件下，图像校正后各个像素点的灰度值基本为零；步骤四：将暗场条件下第i列像素点灰度值的平均值和非均匀性校正乘系数转换为二进制后按积分级数和像元顺序分区初始化到ROM中，ROM地址控制单元根据图像同步控制信号和积分级数控制信号读出暗场条件下第i列像素点灰度值的平均值和非均匀性校正乘系数，图像先后经过减运算和乘运算，运算结果再进行上限判定，完成空间相机在轨辐射响应非均匀性校正方法。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李丙玉，徐抒岩，王晓东，刘文光，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：