一种制备量子点场效应晶体管列阵的方法技术

技术编号:7899305 阅读:226 留言:0更新日期:2012-10-23 05:10
本发明专利技术公开了一种制备量子点场效应晶体管列阵的方法,包括:选择外延片,在外延片上涂光刻胶,对外延片腐蚀出台面,形成源漏沟道,其中同一行的源极在光刻时连在一起;在源极和漏极蒸镀电极,进行电极退火形成源漏与导电沟道的欧姆接触;蒸镀透明电极,在源漏电极之间光刻出栅条,其中同一行的栅条连在一起;在表面蒸镀绝缘层,并在外延片两端露出各行的源栅电极焊台;光刻并腐蚀绝缘层露出漏电极,然后蒸镀合金,并采用剥离技术使得同一列的漏电极连在一起;以及涂光刻胶,实现保护和表面钝化。利用本发明专利技术,解决了普通CCD无法有效进行弱光探测的问题,达到了低功耗、在微弱的光照条件下实现图像捕获的高增益弱光探测的目的。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种制备量子点场效应晶体管列阵的方法,其特征在于,包括:选择外延片,在外延片上涂光刻胶,对外延片腐蚀出台面,形成源漏沟道,其中同一行的源极在光刻时连在一起;在源极和漏极蒸镀电极,进行电极退火形成源漏与导电沟道的欧姆接触;蒸镀透明电极,在源漏电极之间光刻出栅条,其中同一行的栅条连在一起;在表面蒸镀绝缘层,并在外延片两端露出各行的源栅电极焊台;光刻并腐蚀绝缘层露出漏电极,然后蒸镀合金,并采用剥离技术使得同一列的漏电极连在一起;以及涂光刻胶,实现保护和表面钝化。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:聂诚磊杨晓红王秀平王杰刘少卿李彬杨怀伟尹伟红韩勤
申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
类型:发明
国别省市:

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