角度检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术的角度检测装置的目的在于：通过运算，去除受到温度变化造成的影响的因素，实施正确的角度测定。轴杆(12)的V形槽(14)的两条斜边在以中线N为中心的两侧，按照角度±φ倾斜，在两条斜边上，安装霍尔元件的传感器(15a，15b)。在均匀的磁通量密度B的磁场内，如果按照角度θ使轴杆(12)旋转，则对于传感器(15a，15b)的输出Va、Vb，在Ka、Kb表示霍尔系数、da、db表示厚度、I表示供给电流时，Va＝(Ka/da)·I·B·sin(φ+θ)＝(Ka/da)·I·B·(sinφ·cosθ+cosφ·sinθ)，Vb＝(Kb/d)·I·B·sin(φ-θ)＝(Kb/db)·I·B·(sinφ·cosθ-cosφ·sinθ)。(Va-Vb)/(Va+Vb)＝(cosφ·sinθ)/(sinφ·cosθ)＝tanθ/tanφ，tanθ＝tanφ·(Va-Vb)/(Va+Vb)，可在与Ka、Kb、da、db、I、B无关的情况下求出tanθ。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及采用霍尔元件的角度检测装置。
技术介绍
在采用霍尔元件的角度传感器中，基 本如图5所示，在由磁铁产生的均匀的磁通量密度B的磁场内设置霍尔元件1，供给规定的电流I，求解输出V，由此，计算磁通量方向和霍尔元件I所形成的角度0。在这种情况下，在霍尔元件I的霍尔系数为K、厚度为d、供给电流为I、磁通量密度为B的基础上，霍尔元件I的输出V通过下式获得。V = (K/d) I B sin 0. . . (I)另外，在专利文献I中公开有采用两个霍尔元件，检知旋转角的旋转角度检测器。现有技术文献专利文献专利文献I JP特开昭62-95402号文献
技术实现思路
一般来讲，霍尔元件，存在因周围的温度变化等，霍尔系数K等会发生变化，输出V会改变的危险。为此，为了求解下确的角度e，优选采用设置温度检测传感器等来进行温度修正运算。但是，在专利文献I的旋转角度检测器中，可采用两个霍尔元件在某种程度上抵消霍尔系数的温度的影响。该专利文献I的旋转角度检测器的目的在于普通的宽范围的角度检测，针对微小角度的检测，无法以良好的精度进行测定。在该专利文献I中，在应测定的角度0为0附近，一个霍尔元件本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种角度检测装置，在磁通量密度均匀的磁场内配置霍尔元件，通过该霍尔元件来检测角度θ，其特征在于，该角度检测装置具有：第1、第2传感器，沿相对与上述磁通量方向平行的中线以角度±φ倾斜的+φ轴和？φ轴而分别设置的由霍尔元件构成；检测电路，在相对上述磁通量方向上述中线相对倾斜角度θ的情况下，求解上述第1、第2传感器的输出Va、Vb；运算电路，根据该检测电路的输出对tanθ＝tanφ·(Va？Vb)/(Va+Vb)进行运算，求解角度θ。

【技术特征摘要】
2011.04.04 JP 2011-0825421.一种角度检测装置，在磁通量密度均匀的磁场内配置霍尔元件，通过该霍尔元件来检测角度e，其特征在于，该角度检测装置具有第I、第2传感器，沿相对与上述磁通量方向平行的中线以角度±0倾斜的+0轴和-0轴而分别设置的由霍尔元件构成；检测电路，在相对上述磁通量方向上述中线相对倾斜角度e的情况下，求解上述第I、第2传感器的输出Va、Vb ;运算电路,根据该检测电路的输出对tan 0 = tan (Va-Vb) / (Va+Vb)进行运算，求解角度...

【专利技术属性】
技术研发人员：嘉山长兴，荒井由太郎，上月健次，
申请(专利权)人：东京计装株式会社，
类型：发明
国别省市：