制备同轴波导法测试样件的模具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种制备同轴波导法测试样件的模具，它包括相互匹配的阳模和阴模，它还包括同轴外导体和同轴内导体，所述阳模包括阳模底座、同轴外导体定位柱和同轴内导体定位柱，所述阳模底座、同轴外导体定位柱和同轴内导体定位柱均为实心同轴圆柱体，所述阴模、同轴外导体和同轴内导体均为中空圆柱体，阴模沿轴向套在同轴外导体定位柱上，同轴外导体位于阳模和阴模构成的圆槽内，同轴内导体沿轴向套在同轴内导体定位柱上。采用本实用新型专利技术制备的测试样件重复性强，余料容易排出来，尺寸精度高，强度增大，不易变形，测试样件的质量有保证，彻底解决了“敲击法”和“拧紧法”制备的测试样件重复性差、尺寸精度差或变形影响测量精度的问题。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及微波材料检测领域，特别是涉及一种制备同轴波导法测试样件的模具。
技术介绍
电磁参数是用以表征介电或电磁双复损耗材料本质特性的重要方法之一。该参数多采用矩形波导法和同轴波导法进行测量。用同轴波导法测试材料的电磁参数时，需要两根同轴电缆，每根同轴波导测试电缆有两个端口 一个端口用来与矢量网络测量仪的输入或输出端口相连，另一个端口在测试时将被测材料放置在两个端口之间，这两个端口分别为母头和公头，将公、母两个端口对接后，可对材料进行电磁参数测量。同轴波导法测量对测试样件的尺寸要求较高。同轴波导法测试样件一般用模具成型的方式制备。此前用来制备同轴测试样件的模具有多种，但有两种模具用得较为普遍。一种模具是按照标准样件的尺寸分别制备阴模和阳模，在具体制备测试样件时，先将混合了粘接材料的粉体填入模具的凹腔(即阴模)，然后合上阳模，再用锤子等工具对阳模外表面进行敲击，使混合粉体材料受压成型。该方法的最大缺点在于混合粉体材料脱模后，制备好的测试样件因强度较低容易发生变形，测试样件放入同轴电缆内受压也容易变形，直接影响测量的准确性。采用敲击阳模外表面的方法制备测试样件还有一个难以克服的问题，即余料不易排出来，直接影响所制备的测试样件的质量。另外一种用来制备测试样件的模具，其原理与“敲击法”的模具相似，也是分为阴模与阳模，只是在具体制备测试样件时，将“敲击法”改为“拧紧法”，即用螺纹拧紧的方式制备测试样件。用该法制备的测试样件与“敲击法”制备的样件存在着相同的缺陷，这些缺陷对测试样件的电磁参数的精度有较大影响。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服上述
技术介绍
的不足，提供一种制备同轴波导法测试样件的模具，其制备的测试样件重复性强，余料容易排出来，尺寸精度高，强度增大，不易变形，测试样件的质量有保证，彻底解决了“敲击法”和“拧紧法”制备的测试样件重复性差、尺寸精度差或变形影响测量精度的问题。本技术提供的制备同轴波导法测试样件的模具，它包括相互匹配的阳模和阴模,它还包括同轴外导体和同轴内导体,所述阳模包括阳模底座、同轴外导体定位柱和同轴内导体定位柱，所述阳模底座、同轴外导体定位柱和同轴内导体定位柱均为实心同轴圆柱体，所述阴模、同轴外导体和同轴内导体均为中空圆柱体，阴模沿轴向套在同轴外导体定位柱上，同轴外导体位于阳模和阴模构成的圆槽内，同轴内导体沿轴向套在同轴内导体定位柱上。在上述技术方案中，所述同轴外导体和同轴内导体为垫片型中空圆柱体。在上述技术方案中，所述同轴外导体和同轴内导体均采用黄铜制成。在上述技术方案中，所述阴模、阳模底座、同轴外导体定位柱和同轴内导体定位柱均采用不锈钢材料制成。在上述技术方案中，所述阴模的外径=阳模底座的直径。在上述技术方案中，所述阴模的高度=同轴外导体定位柱的高度+同轴外导体的高度。在上述技术方案中，所述同轴外导体的外径=同轴外导体定位柱的直径，略小于阴模的内径，同轴内导体的外径 < 同轴外导体的内径 < 同轴外导体定位柱的直径。在上述技术方案中，所述同轴内导体定位柱的直径略小于同轴内导体的内径，同 轴内导体的内径< 同轴内导体的外径< 同轴外导体定位柱的直径。在上述技术方案中，所述同轴外导体的高度=同轴内导体的高度=同轴内导体定位柱的高度。在上述技术方案中，所述同轴外导体、同轴内导体和同轴内导体定位柱高度均为2.00±0. 01毫米，同轴外导体定位柱高度为20. 00±0. 01毫米，阴模高度为22. 00±0. 01毫米。与现有技术相比，本技术的优点如下采用本技术提供的模具制备的测试样件强度增大，不易变形，余料容易排出来，测试样件的质量有保证，彻底解决了“敲击法”和“拧紧法”制备的测试样件重复性差、尺寸精度差或变形影响测量精度的问题，可用于粉体介电或电磁双复损耗材料采用同轴波导法进行电磁参数测试时标准测试样件的制备。附图说明图I是本技术实施例的立体结构示意图。图2是本技术实施例的分解结构示意图。图中1-阳模，2-阴模，3-同轴外导体，4-同轴内导体，5-阳模底座，6_同轴外导体定位柱，7-同轴内导体定位柱。具体实施方式以下结合附图及实施例对本技术作进一步的详细描述。参见图I和2所示，本技术实施例提供的制备同轴波导法测试样件的模具，它包括相互匹配的阳模I、阴模2、同轴外导体3和同轴内导体4，阳模I包括阳模底座5、同轴外导体定位柱6和同轴内导体定位柱7，阳模底座5、同轴外导体定位柱6和同轴内导体定位柱7均为实心同轴圆柱体，阴模2、同轴外导体3和同轴内导体4均为中空圆柱体，同轴外导体3和同轴内导体4为垫片型中空圆柱体。阴模2沿轴向套在同轴外导体定位柱6上，同轴外导体3位于阳模I和阴模2构成的圆槽内，同轴内导体4沿轴向套在同轴内导体定位柱7上。同轴外导体3和同轴内导体4均采用黄铜制成，阴模2、阳模底座5、同轴外导体定位柱6和同轴内导体定位柱7均采用不锈钢材料制成。阴模2的外径=阳模底座5的直径=50. 00±0. 01毫米，同轴外导体3的外径=同轴外导体定位柱6的直径=14. 00±0. 01毫米，略小于阴模2的内径(15. 00±0. 01晕米)，同轴内导体4的外径(2. 50±0. 01晕米)< 同轴外导体3的内径(7. 00±0. 01晕米)< 同轴外导体定位柱6的直径(14. 00±0. 01毫米)。同轴内导体定位柱7的直径(I. 38±0· 01晕米)略小于同轴内导体4的内径(I. 50±0· 01晕米)，同轴内导体4的内径(I. 50±0· Ol毫米)<同轴内导体4的外径(2· 50±0· 01毫米)<同轴外导体定位柱6的直径(14. 00±0. 01毫米)。同轴外导体3的高度=同轴内导体4的高度=同轴内导体定位柱7的高度=2.00±0.01毫米，阴模2的高度(22.00±0.01毫米)=同轴外导体定位柱6的高度(20. 00±0.01毫米)+同轴外导体3的高度(2. 00±0.01毫米)，阳模底座5的高度=10. 00土O. 01 晕米。本技术实施例中增加了用于精确控制被测材料尺寸的同轴内导体4和同轴外导体3，同轴内导体4和同轴外导体3均由导电性良好的黄铜制备。同轴外导体3的尺寸与N型同轴测试电缆端口(母头)内表面完全相同，同轴内导体4的尺寸则与N型同轴测试电缆端口(公头)完全相同，并恰好允许公头插入。被测材料样件的厚度和直径由阳模I、阴模2、同轴外导体3和同轴内导体4共同确定。具体做法是先将阴模2套在阳模I的同轴外导体定位柱6上，接着将同轴外导体3放置入模阳模I和阴模2构成的圆槽内，最后将同轴内导体4插入阳模I的同轴内导体定位柱7(即Rl. 38圆柱)上。 制样时，将经过预处理的被测材料用专用工具填入同轴外导体3和同轴内导体4的空隙、压实，将填充好的被测材料外表面用专用工具刮至与同轴外导体3的外表面一样平整，再将同轴外导体3、同轴内导体4和填充在其内的被测材料与一并取出，并对另一面按照同样的方法刮平。到此，标准测试试件制备完毕，可以将制备好的标准测试试件放入7mm的标准同轴电缆进行测量。按上述方法制备的标准测试件彻底解决了 “敲击法”和“拧紧法”制备的样件重复性差、尺寸精度差或本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种制备同轴波导法测试样件的模具，它包括相互匹配的阳模(I)和阴模(2)，其特征在于它还包括同轴外导体⑶和同轴内导体(4)，所述阳模⑴包括阳模底座(5)、同轴外导体定位柱(6)和同轴内导体定位柱(7)，所述阳模底座(5)、同轴外导体定位柱(6)和同轴内导体定位柱⑵均为实心同轴圆柱体,所述阴模(2)、同轴外导体(3)和同轴内导体(4)均为中空圆柱体，阴模(2)沿轴向套在同轴外导体定位柱(6)上，同轴外导体(3)位于阳模⑴和阴模⑵构成的圆槽内，同轴内导体⑷沿轴向套在同轴内导体定位柱⑵上。2.如权利要求I所述的制备同轴波导法测试样件的模具，其特征在于所述同轴外导体(3)和同轴内导体(4)为垫片型中空圆柱体。3.如权利要求I所述的制备同轴波导法测试样件的模具，其特征在于所述同轴外导体⑶和同轴内导体(4)均采用黄铜制成。4.如权利要求I所述的制备同轴波导法测试样件的模具，其特征在于所述阴模(2)、阳模底座(5)、同轴外导体定位柱(6)和同轴内导体定位柱(7)均采用不锈钢材料制成。5.如权利要求I所述的制备同轴波导法测试样件的模具，其特征在于所述阴模(2)的外径=阳模底座(5)的直径...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁芝金，王晋华，王莉，
申请(专利权)人：航天科工武汉磁电有限责任公司，
类型：实用新型
国别省市：