LCD模组的电压和透过率的关系曲线的交流测试方法和系统技术方案

本发明专利技术提供了一种Module?V-T的交流测试方法和系统，包括：A.确定电压源需要在各个测试周期输出的方波交流电压的实际电压值；B.在第N个测试周期内，将第N个实际电压值发送给电压源，控制电压源输出对应的方波交流电压对LCD模组(Module)的Data信号进行加压；C.在第N个测试周期结束时，测量并读取LCD模组的亮度值，并根据第N个实际电压值和读取的亮度值绘制第N个测试周期对应的V-T曲线；D.使N＝N+1，返回步骤B；N为正整数。通过本发明专利技术，能够实现Module?V-T的交流测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示器(LCD, Liquid Crystal Display)模组(Module)测试技术，特别是指一种LCD模组的电压和透过率的关系曲线(Module V-T)的交流测试方法和系统。
技术介绍
Module V_T测试是测量LCD模组(Module)的Data信号的电压(V)和此时所对应的IXD面板(Panel)的透过率(T)的曲线关系，其中，透过率(T) = IXD模组测量亮度/LCD模组最大亮度，LCD模组最大亮度也是测量得到的。 Module V-T测试时，Data信号的电压是由电压源提供，Gate信号的电压是由模组本身的PCB提供。通过电压源输出电压的改变来改变Data信号的电压，从而改变模组亮度；通过测量模组亮度来求得IXD Panel的透过率，从而得到V-T曲线。Module V-T测试的背光源是模组本身提供的，Data信号的电压是直流电压。Module V_T测试已经是液晶产业进行伽玛调谐(Gamma Tuning)不可缺少的部分，依据Module V-T曲线，使加载到Data信号上的电压以正确的灰阶显示；并且，此灰阶与透过率的关系符合一定的Gamma曲线。在现阶段的测试中，已经实现了利用Excel的VBA (Visual Basic For Application)技术实现直流 Module V-T 的自动测试，而 ModuleV-T的交流测试却难以实现。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的主要目的在于提供一种Module V-T的交流测试方法和系统，以解决Module V-T的交流测试难以实现的问题。为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的本专利技术提供了一种Module V-T的交流测试方法，该方法包括A、确定电压源需要在各个测试周期输出的方波交流电压的实际电压值；B、在第N个测试周期内，将第N个所述实际电压值发送给所述电压源，控制所述电压源输出对应的方波交流电压对液晶显示器(LCD)模组(Module)的Data信号进行加压；C、在所述第N个测试周期结束时，测量并读取LCD模组的亮度值，并根据所述第N个实际电压值和读取的亮度值绘制所述第N个测试周期对应的V-T曲线；D、使 N = N+1，返回步骤 B ;其中，所述N为正整数。其中，在所述步骤A之前，该方法还包括对确定所述实际电压值所需的基准电压值、电压偏差值、初始电压值和电压变化步长进行初始化；所述初始电压值为所述基准电压值和所述电压偏差值之和。所述实际电压值包括高电压值和低电压值；所述高电压值和低电压值相对所述初始电压值对称。所述步骤A包括确定测试周期的总个数为Int (初始电压值/电压变化步长)+1 ；设置第I个测试周期的实际电压值为所述高电压值等于所述初始电压值，所述低电压值等于所述初始电压值；确定第2个到第Int(初始电压值/电压变化步长)+1个测试周期各自对应的实际电压值为所述高电压值以所述初始电压值为基础根据所述电压变化步长进行按测试周期递增，所述低电压值以所述初始电压值为基础根据所述电压变化步长进行按测试周期递减。·所述N的最大值为Int (初始电压值/电压变化步长)+1。所述步骤B中将第N个实际电压值发送给电压源，为步骤B11，将第N个实际电压值的高电压值发送给所述电压源；步骤B12，等待预设的时间间隔；步骤B13，将第N个实际电压值的低电压值发送给所述电压源；步骤B14，等待所述预设的时间间隔；或者，步骤B21，将第N个实际电压值的低电压值发送给所述电压源；步骤B22，等待预设的时间间隔；步骤B23，将第N个实际电压值的高电压值发送给所述电压源；步骤B24，等待所述预设的时间间隔。该方法还包括在第N个测试周期内，根据预设的循环次数，重复执行所述步骤Bll至步骤B14、或重复执行所述步骤B21至步骤B24。所述步骤B中控制电压源输出对应的方波交流电压，为步骤B31，所述电压源根据接收的第N个实际电压值的高电压值，输出对应的方波交流电压，并持续所述预设的时间间隔；步骤B32，所述电压源根据接收的第N个实际电压值的低电压值，输出对应的方波交流电压，并持续所述预设的时间间隔；或者，步骤B41，所述电压源根据接收的第N个实际电压值的低电压值，输出对应的方波交流电压，并持续所述预设的时间间隔；步骤B42，所述电压源根据接收的第N个实际电压值的高电压值，输出对应的方波交流电压，并持续所述预设的时间间隔。该方法还包括在第N个测试周期内，所述电压源根据预设的循环次数，重复执行所述步骤B31至步骤B32、或重复执行所述步骤B41至步骤B42。本专利技术还提供了一种Module V-T的交流测试系统，包括VBA功能模块、电压源和色彩分析仪；其中，所述VBA功能模块，用于确定所述电压源需要在各个测试周期输出的方波交流电压的实际电压值；在第N个测试周期内，所述VBA功能模块，还用于执行操作A :将第N个实际电压值发送给所述电压源，控制所述电压源输出对应的方波交流电压；所述电压源，用于执行操作B:根据所述VBA功能模块发送的实际电压值，输出对应的方波交流电压对LCD模组(Module)的Data信号进行加压；所述色彩分析仪，用于执行操作C : 在第N个测试周期结束时，测量并读取LCD模组的亮度值，并将所述亮度值提供给所述VBA功能模块；所述VBA功能模块，还用于执行操作D :第N个测试周期结束时，根据所述色彩分析仪提供的LCD模组的亮度值以及所述实际电压值绘制第N个测试周期对应的V-T曲线；在第N个测试周期结束时，所述VBA功能模块、所述电压源和所述色彩分析仪，还用于执行第N = N+1个测试周期对应的所述操作A至操作D。其中，所述VBA功能模块，还用于对确定所述实际电压值所需的基准电压值、电压偏差值、初始电压值和电压变化步长进行初始化；所述初始电压值为所述基准电压值和所述电压偏差值之和。所述实际电压值包括高电压值和低电压值；所述高电压值和低电压值相对所述初始电压值对称。所述VBA功能模块，还用于确定测试周期的总个数为Int (初始电压值/电压变化步长)+1 ;还用于，设置第I个测试周期的实际电压值为所述高电压值等于所述初始电压值，所述低电压值等于所述初始电压值；确定第2个到第Int(初始电压值/电压变化步长)+1个测试周期各自对应的实际电压值为所述高电压值以所述初始电压值为基础根据所述电压变化步长进行按测试周期递增，所述低电压值以所述初始电压值为基础根据所述电压变化步长进行按测试周期递减。所述N的最大值为Int (初始电压值/电压变化步长)+1。所述VBA功能模块，还用于根据预设的循环次数，重复执行以下步骤Bll至步骤B14、或重复执行以下步骤B21至步骤B24 步骤B11，将第N个实际电压值的高电压值发送给所述电压源；步骤B12，等待预设的时间间隔；步骤B13，将第N个实际电压值的低电压值发送给所述电压源；步骤B14，等待所述预设的时间间隔；或者，步骤B21，将第N个实际电压值的低电压值发送给所述电压源；步骤B22，等待预设的时间间隔；步骤B23，将第N个实际电压值的高电压值发送给所述电压源；步骤B24，等待所述预设的时间间隔。所述电压源，还用于根据所述预设的循环次数，重复执行以下步骤B31至步骤B32、或重复本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种Module V-T的交流测试方法,其特征在于,该方法包括 A、确定电压源需要在各个测试周期输出的方波交流电压的实际电压值； B、在第N个测试周期内，将第N个所述实际电压值发送给所述电压源，控制所述电压源输出对应的方波交流电压对液晶显示器(LCD)模组(Module)的Data信号进行加压； C、在所述第N个测试周期结束时，测量并读取LCD模组的亮度值，并根据所述第N个实际电压值和读取的亮度值绘制所述第N个测试周期对应的V-T曲线； D、使N= N+1，返回步骤B ; 其中，所述N为正整数。2.根据权利要求I所述ModuleV-T的交流测试方法，其特征在于，在所述步骤A之前，该方法还包括 对确定所述实际电压值所需的基准电压值、电压偏差值、初始电压值和电压变化步长进行初始化； 所述初始电压值为所述基准电压值和所述电压偏差值之和。3.根据权利要求2所述ModuleV-T的交流测试方法，其特征在于，所述实际电压值包括高电压值和低电压值； 所述高电压值和低电压值相对所述初始电压值对称。4.根据权利要求3所述ModuleV-T的交流测试方法，其特征在于，所述步骤A包括 确定测试周期的总个数为=Int (初始电压值/电压变化步长)+1 ； 设置第I个测试周期的实际电压值为所述高电压值等于所述初始电压值，所述低电压值等于所述初始电压值； 确定第2个到第Int (初始电压值/电压变化步长)+1个测试周期各自对应的实际电压值为所述高电压值以所述初始电压值为基础根据所述电压变化步长进行按测试周期递增，所述低电压值以所述初始电压值为基础根据所述电压变化步长进行按测试周期递减。5.根据权利要求4所述ModuleV-T的交流测试方法，其特征在于，所述N的最大值为Int (初始电压值/电压变化步长)+1。6.根据权利要求4或5所述ModuleV-T的交流测试方法，其特征在于，所述步骤B中将第N个实际电压值发送给电压源，为 步骤B11，将第N个实际电压值的高电压值发送给所述电压源； 步骤B12，等待预设的时间间隔； 步骤B13，将第N个实际电压值的低电压值发送给所述电压源； 步骤B14，等待所述预设的时间间隔； 或者， 步骤B21，将第N个实际电压值的低电压值发送给所述电压源； 步骤B22，等待预设的时间间隔； 步骤B23，将第N个实际电压值的高电压值发送给所述电压源； 步骤B24，等待所述预设的时间间隔。7.根据权利要求6所述ModuleV-T的交流测试方法，其特征在于，该方法还包括在第N个测试周期内，根据预设的循环次数，重复执行所述步骤Bll至步骤B14、或重复执行所述步骤B21至步骤B24。8.根据权利要求7所述ModuleV-T的交流测试方法，其特征在于，所述步骤B中控制电压源输出对应的方波交流电压，为 步骤B31，所述电压源根据接收的第N个实际电压值的高电压值，输出对应的方波交流电压，并持续所述预设的时间间隔； 步骤B32，所述电压源根据接收的第N个实际电压值的低电压值，输出对应的方波交流电压，并持续所述预设的时间间隔； 或者， 步骤B41，所述电压源根据接收的第N个实际电压值的低电压值，输出对应的方波交流电压，并持续所述预设的时间间隔； 步骤B42，所述电压源根据接收的第N个实际电压值的高电压值，输出对应的方波交流电压，并持续所述预设的时间间隔。9.根据权利要求8所述ModuleV-T的交流测试方法，其特征在于，该方法还包括在第N个测试周期内，所述电压源根据预设的循环次数，重复执行所述步骤B31至步骤B32、或重复执行所述步骤B41至步骤B42。10.一种Module V-T的交流测试系统，其特征在于，包括VBA...

【专利技术属性】
技术研发人员：张智，陈维涛，张新宇，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：