【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种电子元件参数测量装置，具体为一种电阻阻值测定实验装置。
技术介绍
目前，测量电阻的方法主要有伏安法和万用表电阻档测量法。前者需要同时测量电压和电流，由于受到伏特表或安培表内阻的影响，测量精度受限；后者由于受到电池内阻的影响，测量结果也不够准确。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种测量结果较为准确的电阻阻值测定实验装置。为了实现上述目的，本专利技术采取以下技术方案一种电阻阻值测定实验装置，包括可调电阻、被测电阻、第一开关、第二开关、电压表、电源和限流电阻，所述被测电阻与所述第一开关串联连接构成第一支路，所述可调电阻与所述第二开关串联连接构成第二支路；所述第一支路、所述第二支路、所述电压表并联连接；由所述第一支路、所述第二支路、所述电压表并联连接的电路再与所述电源和所述限流电阻串联连接构成闭合电路。进一步的，所述可调电阻为标准电阻箱。实际测量分为两步，第一步闭合所述第一开关、断开所述第二开关，读取所述电压表的读数。第二步断开所述第一开关、闭合所述第二开关，调节所述可调电阻的阻值，使所述电压表的读数与第一步测量的读数相同。此时所述可调电阻的阻值与所述被测电阻的阻值相等，由此测得所述被测电阻的阻值。本专利技术由于采用上述设计，克服了传统电阻测量法的不足，其结构简单，实用方便，有利于电阻值的准确测量。附图说明下面结合附图对本专利技术作进一步说明。图I是本专利技术的电路原理图。图中1.可调电阻，2.被测电阻，3.第一开关，4.第二开关，5.电压表，6.电源，7.限流电阻。具体实施例方式如图I所示，本专利技术的电阻阻值测定实验...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电阻阻值测定实验装置，其特征在于包括可调电阻(I)、被测电阻(2)、第一开关(3)、第二开关(4)、电压表(5)、电源(6)和限流电阻(7)，所述被测电阻⑵与第一开关(3)串联连接构成第一支路，所述可调电阻(I)与第二开关(4)串联连接构成第二支路；...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。