电子元件处理器制造技术

一种用于测试和拣选随机排列的平行管状的陶瓷元件（２）的处理器，每个元件具有至少一套位于对向边的金属端子（６），包括旋转入料轮（１６），其安装在中心轴上，包括上表面，用于接收随机排列的元件（２），与入料轮共面并间隔安装的旋转运输盘（１０）具有向上凸出的圆周壁（１２），圆周壁包括一系列的测试座槽，其间隔排列并邻接对准入料轮（１６）的空腔，第一真空压力装置（３６），用于使元件（２）移入测试座槽，第二真空压力装置（８６），用于将所述元件固定在其中；测试装置（２２），包括至少一个辊子组件（６２），它安排用于接触元件的端子（６），排出装置，用于从所述的测试座槽（１４）个别地排出元件。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
专利技术的背景本专利技术主要涉及通常称为“处理器”的设备，其用于接收在电子电路中应用的大量元件，例如陶瓷电容器，并将它们送入用于参数测试的测试器，继而根据测试结果拣选元件。在此所用的术语“元件”是指陶瓷电容器和任何其它具有允许采用本专利技术来处理的形状的电子或电气装置。本专利技术所述的处理器比现有技术有重大的进步。它避免了为了测试的目的进行手工安插元件以及后来的手工拣选。与现有技术相比，它每单位时间可以处理更多的元件。它处理带有多对对向端子的元件。它随机地排列的大量的元件，将它们合适地定向并送到测试电流接触器中，并提供根据测试结果个别地拣选测试元件的装置。本专利技术的其它的优点和特征如下所述本专利技术的目的还在于提供一种比现有技术中的处理器提高产量的元件处理器。本专利技术的目的还在于提供一种可以接收随机排列成串的元件的元件处理器并自动地(1)将每个元件安插到各自的用于测试的适当排列的测试座上，(2)同时，将每个定位的元件的一系列的端子同测试器电连接，(3)继而根据测试结果取下和拣选测试过的元件。本专利技术的目的还在于提供如上所述的可以将大量元件排列成串的元件处理器。本专利技术的目的还在于提供如上所述的一种元件处理器，其包括一装载机构用于接收成串的元件并单个地安插到由一旋转运输机围成的环形座上，环形座以旋转轴为中心。本专利技术的目的还在于提供如上所述的一种元件处理器，其同时可以把一系列的安插后的元件送向一系列的电流接触器。通过元件处理器可以实现这些目的以及在说明书中表述或包含的其它目的，所述的元件处理器具有环状排列的、相同的、用于安插单个元件的测试座或者槽、使环分度旋转的驱动装置、在旋转环轨道上的用于接收成串元件并将它们安插到环上的装载站、在旋转环轨道上的用于充分地电接触每个安插的元件而测试这些元件的一系列测试站、在旋转环轨道上的用于把测试后的元件从其测试插座上排出并拣选它们的排出站。最好是，测试座环被可旋转的运输盘的垂直凸出环状壁所限制，每个测试座为在壁上的元件尺寸大小的槽。测试座被定向排列使得在壁的对应侧露出元件的对应接头。在运输盘下是邻接于壁的平底的固定盘。固定盘含有真空通道，真空通道在壁下运行并从装载站至少扩展到最后一个排出站。在真空通道运行的全过程中，它通过壁所包含的各真空端口与测试插座相通并通过壁从通道扩展到测试座。真空通道与真空源相通并通过端口使测试座导通真空以把元件保持在测试座中。在最优实施例中，测试座的壁倾斜一定角度，最好是约45度，它与共面的入料轮切向邻接。所要解释的，切向邻接点为装载站。入料轮包括一系列的相同的单个结构，其沿轮的外围一致地成角度地安置。单个的结构随机地把歪斜的元件引导到各自的在入料轮的周围一致成角度地安置的入料座中。所要解释的是，在装载站，元件被单个地从入料座运送到测试座。每个单个结构包括一个上部打开的槽口，在旋转轮的轴的径向运行，其槽口的开始处离轮边缘有一段距离，开口的末端排列有较深的空腔，即“入料座”，其开口侧对着盘边缘。槽口和入料座一起形成朝下的圆形的“L”形凹槽，它用于适当地安置元件以便将元件从入料轮运送到运输盘。最好是槽口的长度足以容纳直线排列的两个或更多的元件，而宽度狭窄到仅可容纳下其边缘。元件在重力的作用下进入槽口，在入料轮随意地摇动的帮助下最终从槽口落入相应的入料座中，每个入料座只能容纳一个元件。如果元件被适当地安置，每个入料座仅能容纳一个元件，即端部站立，元件的端子边缘之一侧朝外，也就是朝向入料座开口一侧。处理器还包括把元件倾倒到入料轮的装置。运输环形座被一致成角度地安置。最好环是步进式旋转，旋转的增量为在相邻座间所间隔的角度。在壁的两侧有一系列的滚筒式接触器用于将元件同测试器连接。所有的接触器是可以容易地替换的。测试后的元件通过由一系列排出孔限定的排出集流箱，每当环旋转一个角度，所述的一系列的排出孔与一系列的座对准。排出管与排出孔接通。元件被选择性启动的各个气动阀的气流从它们的座上排出来。根据测试结果，气流和重力通过管道将排出的元件送入拣选箱。处理器还包括用于检测没有排出的元件的传感器。附图说明图1是本专利技术处理的举例的元件的示意图；图2是本专利技术的总体示意图；图3是入料盘的视图；图4是表示运输盘的部分剖视图，其显示了元件座的壁，一些座中含有元件；图5是根据本专利技术表示装载站的部分剖视图；图6是本专利技术的固定盘的平面视图；图7是表示本专利技术的非排出元件传感器的剖视图；图8是本专利技术的一系列滚筒式接触器的平面视图；图9A是本专利技术的滚筒式接触器的示意图；图9B是图9A的滚筒式接触器的俯视图；图9C是滚筒式接触器的部分主视图；图10是本专利技术的排出站的示意图；图11是说明元件从其插座中排出的过程的剖视图；图12是表示原件在测试座槽中滑动并被4个内辊子和4个外辊子接触的剖视图；图13A是本专利技术中使用的微调设备的左视图；图13B是本专利技术中使用的微调设备的右视图；图13C是本专利技术中使用的微调设备的俯视图；图13D是本专利技术中使用的微调设备的仰视图；最优实施例的说明参见图1，表示了本专利技术所处理的元件2的例子。此元件是具有4对金属端子的4位电容器。它最好是具有相对面4A和4B的平行管形状，通常有4个相对细的边。举例元件的对应的端子6被安置在元件的对应的长细侧，元件的端部为短细侧。在文件中，关于元件所用的术语“边缘”，表示元件的细边，不是一个面，术语“端子边缘”是指安放端子的元件的细长边。参见图2，基座8支撑倾斜的(最好45度)、可旋转的运输盘10。以运输盘的旋转轴为中心的直立的圆形壁12从运输盘凸出。槽14，即设在壁上的测试座，在壁周围一致成角度地排列，每个测试座的尺寸可以容纳一个测试的元件。最好是运输盘10以及壁12围绕中心进行旋转分度使得运输盘(被一未显示的驱动装置)按固定角度的步调转动，每个步调为相邻的测试座间的平均角度。如图所示，漏斗20给滑槽18提供堆积的元件，然后，入料轮16从摇动的滑槽18接收一组元件。要解释的是，入料轮16把元件装载到测试座槽14。如图所示，运输盘10以箭头的方向顺时针旋转以便当元件2被装载到运输盘壁12上时，他们顺时针旋转到标号为22的测试装置器，其包括一系列的接触器24。接触器24使元件的端子和参数测试器之间导通。在测试完元件2后，它们继续被顺时针旋转到标号为26排出系统，排出系统排出元件并根据测试结果将元件向下送到一系列的排出管。参见图2、3和5，入料轮16为圆形，有许多长条状的、放射状的轮毂28，它们在入料轮16周围均匀排列。每对相邻的轮毂构成一个槽30，它引导其中的元件2朝向入料轮16的边缘，在那里它们成个地落入元件大小的空腔32中，即由轮16限制的“入料座”，所述的每个空腔32有向外的开口侧。槽30的长度最好可以容纳排成直线的两个或更多的元件，但是宽度最好仅可卡住元件的边。入料座的尺寸设置成仅允许适当地使一个元件定向排列、末端直立、端子边缘朝向入料座的开口侧或者，换句话说，端子的一侧从运输机壁12朝外，其对面的端子侧朝从运输机壁12朝内。如图所示，每个槽30和其各自的入料座或空腔32形成一朝下的，圆“L”型的凹槽。槽30和入料座或空腔32一起构成一体化结构以单个地和适当地引导元件2翻滚到空腔32内，因为入料轮随运输盘同时转动一定的角度并与水平面倾斜，使元件翻本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于接收大量的随机排列的平行管状的陶瓷元件的高速处理器，每个此类型的元件具有至少一套位于其对向侧的金属端子，按照控制的方向将它们成个地放入用于电参数测试的座中，并根据它们的测试结果拣选它们，包括：ａ）旋转入料轮，安装在中轴上，被以所 述的中轴为中心轴的外轮缘所限制，所述的轮倾斜于水平面，包括用于接收大量随机排列的陶瓷元件的上表面；ｂ）一系列的放射状、间隔排列的凹槽，它们在所述的轮的上表面向上和向外凸出，在邻接所述的外轮缘的轮的末端形成元件大小的空腔，其用于接收被特别 成个地排列的陶瓷元件；ｃ）旋转运输盘，与所述的入料轮共面安装并与所述的入料轮隔离，入料轮有向上凸出的圆周形的壁，其与所述的入料轮切向邻接并有同步的线速度；ｄ）所述的圆周壁包括一系列的间隔排列的测试座槽，并与所述的入料轮的空腔、一定大 小和形状的槽邻接对准以便接收陶瓷元件使其对向的端子分别朝向所述壁的内壁和外壁；ｅ）第一真空压力装置，用于使陶瓷元件从所述空腔朝所述测试座槽径向移动，第二真空压力装置，用于在所述的运输盘进一步旋转时将所述元件固定在所述测试座槽内；ｆ） 测试装置，包括至少一个辊子组件，它设置用于当元件移入所述运输盘上的所述测试座时接触陶瓷元件的端子；ｇ）用于从所述的测试座槽个别地排出陶瓷元件并根据测试结果将它们运送到个别的位置的装置。...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：道格拉斯J加西亚，马丁J特威特，
申请(专利权)人：电子科学工业公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]