连排式电子器件的测试分选方法和装置制造方法及图纸

连排式电子器件的测试分选方法，对连排式电子器件进行步进位置传动，每次按照相临两个器件的间距进行步进，向预切工位输送，当到达预切脚工位，留一引脚在连接片上，切除其它引脚，然后向测试工位运送，再进行检测，通过伸缩器件带动测试盒动作，将检测电极与相应引脚可靠接触并进行检测，获得器件参数，再送到终切工位进行粘连引脚的切除，送入相应的下料分选装置。本发明专利技术机械传动精度高，自动化程度高，操作方便，调整简单，采用多个光电传感器和行程开关进行多点检测，定位准确，故障判断准确、识别率高，基本避免了产生卡死或造成被测器件损坏等严重故障的产生，极大地提高了分选速度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种带引线脚电子器件的测试分选方法和装置，尤其是对带有两个及两个以上引线脚的陶瓷电子元件及其相关器件的测试分选方法和装置。
技术介绍
具有引线脚的陶瓷电子元件及其相关器件，如电容、电感、二极管、三极管、稳压管、谐振器、滤波器、陷波器等分立式器件是目前用量极大的电子器件，尤其是连排式陶瓷谐振器、滤波器及其相关器件。本申请人已经申请的连排式陶瓷谐振器、滤波器及其相关电子器件的测试分选方法和装置用于对陶瓷片制作封装成的电子器件，如谐振器、滤波器等进行检测和分选。由于具有引脚的陶瓷谐振器、滤波器及其相关器件在使用时有极性或对电性能参数有一定的要求，一般微型器件检测方法并不适用这种器件。在生产加工过程中需要对陶瓷片的参数如谐振频率、谐振电阻、静电容、带宽、损耗等做检测和分类，当然也需要对制成的陶瓷器件进行分选。如本申请人的01127151.5压电陶瓷片及器件的静态测频分选方法和装置和03278890.8分立式压电陶瓷元件及相关器件自动定位测试分选装置均为类似的方法和装置。因此，陶瓷片和器件的参数(主要是谐振频率、谐振电阻、反谐振频率、反谐振电阻、静电容、带宽、损耗等)自动分选本文档来自技高网...

【技术保护点】
连排式电子器件的测试分选方法，其特征是对连排式电子器件进行步进位置传动，每次按照相临两个器件的间距进行步进，向预切工位输送，当到达预切脚工位，留一引脚在连接片上，切除其它引脚，然后向测试工位运送，再进行检测，通过伸缩器件带动测试盒动作，将检测电极与相应引脚可靠接触并进行检测，获得器件参数，再送到终切工位进行粘连引脚的切除，送入相应的下料分选装置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈晓争，黄义，张轶，
申请(专利权)人：南京熊猫仪器仪表有限公司，
类型：发明
国别省市：84[中国|南京]