基于天空可见光图像的日照时数测量方法技术

本发明专利技术公开一种基于天空可见光图像的日照时数测量方法，包括：利用图像获取设备以预定时间间隔获取一系列天空可见光图像；对于每一个天空可见光图像，搜索其预定区域内的高亮度像素，并对高亮度像素数量进行计数；对于每一个天空可见光图像，判断是否表示有日照；当天空可见光图像的高亮度像素的数量大于或等于一高亮度像素数量阈值时，表示有日照，否则表示无日照；根据时间间隔的大小以及表示有日照的天空可见光图像的数量来计算日照时数。本发明专利技术通过拟合分析在天空可见光图像与太阳直接辐射强度之间建立起关联，从而提供了一种新颖的通过图像处理和分析的方式来探测或测量太阳直接辐射强度的方法。这为日照时数的测量提供了一种新的可选方案。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及气象探测领域，尤其涉及一种。
技术介绍
太阳辐射是影响大气环流和气候变化的重要因素。太阳直接辐射是太阳总辐射的重要组成部分。从观测或测量角度来讲，太阳直接辐射通常包括垂直太阳表面(视角约0.5° )的辐射和太阳周围很窄的环形天空的散射辐射(环日散射)。对太阳直接辐射强度或者说辐照度的测量在气象探测、太阳能利用以及其它与太阳辐射相关的领域中有重要的价值，因此太阳直接辐射强度是气象部门的常规监测数据。目前，太阳直接辐射强度的直接测量是利用太阳直接辐射表。太阳直接辐射表通常主要由进光筒、感应件和跟踪装置构成。在工作时，进光筒对准太阳；感应件吸收太阳直接辐射并将其转换成可测量的电信号；跟踪装置则用于支撑进光筒并能够跟踪太阳的移动，从而使进光筒准确跟踪并对准太阳。对于这样的太阳直接辐射表，跟踪装置的微小跟踪偏差将产生较大的系统偏差。这样，为了消除系统跟踪误差的影响，则要求太阳直接辐射表能够实时、快速、可靠地跟踪太阳。这对跟踪装置的要求极高，而且使用和维护也很复杂。太阳直接辐射表的一个应用是对日照时数的观测和测量。日照是太阳辐射最直观的表现。日照时数则是指太阳在一地实际照射的时数本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于天空可见光图像的日照时数测量方法，包括 图像获取步骤利用图像获取设备以预定的时间间隔获取一系列天空可见光图像； 高亮度像素计数步骤对于每一个天空可见光图像，搜索其预定区域内的高亮度像素，并对高亮度像素的数量进行计数； 日照判断步骤对于每一个天空可见光图像，判断其是否表示有日照；其中，当所述天空可见光图像的高亮度像素的数量大于或等于一高亮度像素数量阈值时，表示有日照；当所述天空可见光图像的高亮度像素的数量小于所述高亮度像素数量阈值时，表示无日照； 日照时数计算步骤根据所述时间间隔的大小以及表示有日照的天空可见光图像的数量来计算日照时数。2.根据权利要求I所述的日照时数测量方法，其特征在于，还包括高亮度像素数量阈 值确定步骤基于预先确定的天空可见光图像中所述预定区域内的高亮度像素的数量与太阳直接辐射强度之间的拟合关系，根据一预定的太阳直接辐射强度阈值计算对应的高亮度像素数量阈值。3.根据权利要求I或2所述的日照时数测量方法，其特征在于，所述预定区域为所述天空可见光图像中太阳及其周围预定范围内的区域。4.根据权利要求1-3中任一项所述的日照时数测量方法，其特征在于，所述预定区域为从所述天空可见光图像中的太阳...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨俊，吕伟涛，马颖，姚雯，
申请(专利权)人：中国气象科学研究院，
类型：发明
国别省市：