LED的老化试验工装制造技术

技术编号:7837244 阅读:356 留言:0更新日期:2012-10-12 01:30
本发明专利技术公开了一种LED的老化试验工装,其包括有LED、风扇、第一电源及第二电源,第一继电器K1和第二继电器K2,所述第一继电器K1通电线圈的两端分别并联连接在所述第一电源的正极和负极上,所述第一继电器K1的常开点的一端与所述第二继电器K2通电线圈的一端电连接,所述第一继电器K1的常开点的另一端组成所述第二继电器K2通电线圈的另一端接入,且第二继电器K2通电线圈的两端以并联方式接入市电上;所述第二继电器K2的常开点的一端与所述第二电源的正极和负极电连接,所述第二继电器K2的常开点的另一端与市电连接。本发明专利技术能够避免在给风扇供电的电源故障的情况下,给LED供电的电源继续工作,而引起LED被烧坏,影响LED的老化试验的结果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及ー种LED的试验エ装,尤其是指ー种LED的老化试验エ装。
技术介绍
在大功率LED的老化试验中,要考虑到LED的散热情况,通常采用风扇来散热,这样就会有风扇的散热电源和提供LED的电源,由于LED工作的电压与风扇工作电压不同,不能同时使用ー个电源,就需要两个电源分别给LED和电源供电,这时就会出现安全隐患;如果给风扇供电的电源坏,风扇则停止工作;而给LED供电的电源工作正常,这样会造成LED因升温很快而烧坏,这样,就会发生由于非LED本身的故障而导致LED被烧坏,故而,就得不出LED光衰规律和本身的老化其他问题,就会造成无法挽回的损失
技术实现思路
本专利技术提供ー种LED的老化试验エ装,其能够避免在给风扇供电的电源故障的情况下,给LED供电的电源继续工作,而引起LED被烧坏,影响LED的老化试验的結果。本专利技术是这样实现的ー种LED的老化试验エ装,其包括有LED、风扇、第一电源及第ニ电源,所述风扇并联连接在所述第一电源的正极和负极,所述LED并联连接在所述第二电源的正极和负扱,该老化试验エ装还包括有第一继电器K1和第二继电器K2,所述第一继电器K1通电线圈的两端分别本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.ー种LED的老化试验エ装,其包括有LED、风扇、第一电源及第ニ电源,所述风扇并联连接在所述第一电源的正极和负极,所述LED并联连接在所述第二电源的正极和负极,其特征在干,该老化试验エ装还包括有第一继电器K1和第二继电器K2,所述第一继电器K1通电线圈的两端分别并联连接在所述第一电源的正极和负极上,所述第一继电器K1的常开点的一端与所述第二继电器K2通电线圈的一端电连接,所述第一继电器K1的常开点的另一端组成所述第二继电器K2通电线圈的另一端接入,且所述第二继电器K2通电线圈的两端以并联方式接入市电上;所述第二继电器K2的常开点的一端与所述第二电源的正极和负极电连接,所述第二继电器K2的常开点的另一端与市电串联连接。2.如权利要求I所述的LED的老化试验エ装,其特征在于,所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员:周明杰赵永川
申请(专利权)人:海洋王照明科技股份有限公司深圳市海洋王照明工程有限公司
类型:发明
国别省市:

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