用于检测残像的液晶模组检测装置、检测评定系统及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于检测残像的液晶模组检测装置、检测评定系统及方法，涉及液晶模组检测技术领域。该装置包括：密封隔热透明容器，用于容纳待测液晶模组；温度控制模块，用于对所述容器内的温度进行调节；信号发生模块，用于为所述待测液晶模组提供驱动信号。本发明专利技术的装置、系统及方法通过对待测液晶模组定制密闭、绝热特性好的透明容器，使用模组自身背光和面板所发出的热量来形成测试所需的温度环境，减小了装置体积，降低了成本；将信号发生模块和温度控制模块集成在容器内，可进一步减小装置体积，使其方便携带，有利于液晶模组检测评定的实时监控。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶模组检测
，尤其涉及ー种。
技术介绍
薄膜晶体管液晶显不器(ThinFilm Transistor-Liquid Crystal Display,TFT-IXD)具有体积小、功耗低、无辐射等特点，已经广泛地应用于人们的生产和生活当中，这其中包括TV、Monitor、以及便携式的电子显示产品等，各大面板厂商都在努力提高产品 的性能，例如降低能耗，増大视角，减小响应时间等。这其中对于显示面板残像的改善尤为重要，因为它直接影响了显示画面的品质。残像是指长时间驱动特定停止画像后，变换为其他画像时留有原来画像的图案的现象。残像是发生在液晶盒内部的ー种现象，由于长时间显示静止画面后，改变为其他图像时，液晶分子不能即时完全的发生偏转以适应新的画面，从而影响了显示效果。残像依据发生的形态不同可以分为面残像(area image sticking)和线残像(line image sticking)两种。对残像机理的研究表明，产生残像的主要原因是残留电荷的影响，这包括外加电场作用下在液晶盒内部产生的极化电荷以及在液晶盒内部杂质电荷的不同分布。这些残留的电荷会影响液晶在液晶盒顶部本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.ー种用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，该装置包括 密封隔热透明容器，用于容纳待测液晶模组； 温度控制模块，用于对所述容器内的温度进行调节； 信号发生模块，用于为所述待测液晶模组提供驱动信号。2.如权利要求I所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述温度控制模块包括温度控制单元和温度调节单元，其中， 所述温度控制单元用于感应所述容器内的温度，井根据感应到的温度开闭所述温度调节单元; 所述温度调节单元与所述温度控制单元相连，用于对所述容器内的温度进行调节。3.如权利要求2所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述温度控制単元集成于所述容器内。4.如权利要求2所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述温度调节单元集成于所述容器内。5.如权利要求I所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述信号发生模块集成于所述容器内。6.如权利要求2所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述温度控制単元包括温度...

【专利技术属性】
技术研发人员：张培林，柳在健，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：