本发明专利技术提供一种起偏器保护膜，该保护膜具有在反射图像鲜明度测定试验中的反射图像鲜明度Cn(％)的总和值Rc满足以下的式(1)的关系且总雾度(haze)值H满足以下的式(2)的关系的光扩散层。总和值Rc是所述光梳的宽度n(mm)分别为0.5、1、2时的反射图像鲜明度C0.5、C1、C2的总和值。120≤Rc≤185式(1)40≤H≤60式(2)。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及具有光扩散层的起偏器保护膜。
技术介绍
在液晶显示器或等离子显示面板、布劳恩管(阴极射线管CRT)显示器、有机电致发光(EL)显示器等图像显示装置的显示面上，为了防止表面的划伤，一般设置具有高硬度性能的保护膜。 具有高硬度性能的保护膜一般在基材膜上设置硬涂层而制成(例如，參照日本特开平8-197670号公报(专利文献I))。作为基材膜，从机械強度、耐久性、成本方面优异考虑，例如，优选使用由聚酯系树脂形成的膜。
技术实现思路
如上所述的保护膜中，由于硬涂层是薄层，所以有时在硬涂层和空气的界面的反射光与在硬涂层和基材膜的界面的反射光发生干渉，从而产生彩虹斑，存在图像显示装置的显示品质和外观品质降低的问题。特别是在像将由聚酯系树脂形成的膜作为基材膜使用的保护膜那样的基材膜和硬涂层的折射率差大的保护膜中，存在以下问题由于在硬涂层和基材膜的界面的反射光的强度大，所以容易产生由反射光引起的彩虹斑。专利文献I中，记载了通过使基材膜的形成有硬涂层的面的表面平均粗糙度为O. 01 5. O μ m,从而使在硬涂层和基材膜的界面的反射光的行进方向散乱，防止与在硬涂层和空气的界面的反射光发生干渉。然而，因为一般通过离线加工向基材膜表面赋予凹凸形状，所以有时成本高。本专利技术是不需要繁杂的制作エ序的构成，其目的在于提供ー种抑制由反射光引起的彩虹斑、视觉辨认度良好的起偏器保护膜。本专利技术是发现由反射光引起的彩虹斑的发生也与反射图像鲜明度相关而进行的。本专利技术包含以下内容。[I] 一种起偏器保护膜，具有光扩散层，在反射图像鲜明度測定试验中的反射图像鲜明度Cn(% )的总和值R。满足以下的式(I)的关系、且总雾度值H满足以下的式(2)的关系，上述反射图像鲜明度測定试验使来自试验片的反射光的光量通过与反射光的光线轴正交的、以速度10mm/min移动的宽度n(mm)的光梳来进行測定，上述反射图像鲜明度cn(% )在上述反射图像鲜明度測定试验中将光线轴上有上述光梳的透过部分时的反射光量的最高值设为Mn、光线轴上有上述光梳的遮光部分时的反射光量的最小值设为mn时，由下述式(3)算出，上述总和值R。是上述光梳的宽度n(mm)分别为O. 5、1、2时的反射图像鲜明度Ca5、C1^C2的总和值。120 彡 Rc 彡 185 式(I)40 ^ H ^ 60 式(2)Cn = {(Mn-mn) / (Mn+mn)} X 100 式(3)[2]根据[I]所述的起偏器保护膜，其中，层叠基材膜和上述光扩散层，上述基材膜和上述光扩散层的折射率差为O. 03以上。[3]根据[2]所述的起偏器保护膜，其中，上述基材膜的折射率为I. 59以上。[4]根据[2]或[3]所述的起偏器保护膜，其中，上述基材膜以聚酯系树脂作为主成分。[5]根据[2] [4]中任一项所述的起偏器保护膜，其中，上述基材膜的厚度为50 μ m以下。[6]根据[I] [5]中任一项所述的起偏器保护膜，其中，上述光扩散层含有透光性树脂和透光性微粒。[7]根据[6]所述的起偏器保护膜，其中，上述光扩散层的厚度为ΙΟμπι 20μπι。[8]根据[6]或[7]所述的起偏器保护膜，其中，上述透光性微粒含有重均粒径为3 5. 5 μ m的第I透光性微粒和重均粒径为7. 2 9 μ m的第2透光性微粒。[9]根据[6] [8]中任一项所述的起偏器保护膜，其中，上述光扩散层通过具有下述エ序的方法形成涂布含有上述透光性树脂和上述透光性微粒的涂布液而形成涂布层的涂布エ序，将平坦面推抵在上述涂布层的表面而压缩上述涂布层的压缩エ序以及将上述涂布层固化的固化工序。[10]根据[6] [9]中任一项所述的起偏器保护膜，其中，上述光扩散层的上述透光性微粒的体积填充率为40%以上。利用本专利技术的起偏器保护膜，能够构成抑制由反射光引起的彩虹斑的发生、表面有光泽、外观品质、显示品质良好的图像显示装置。附图说明图I是表示本专利技术的起偏器保护膜的优选例的示意截面图。具体实施例方式[起偏器保护膜]本专利技术的起偏器保护膜具有光扩散层。光扩散层例如层叠在基材膜上。起偏器保护膜可以具有上述光扩散层和基材膜以外的其它层。图I是表示本专利技术保护膜的优选例的示意截面图。本专利技术涉及的图I所示的起偏器保护膜100具有基材膜101、和层叠于基材膜101上的光扩散层102。光扩散层102是以透光性树脂103为基材的层，透光性微粒104分散在透光性树脂103中而成。以下，进ー步对本专利技术的起偏器保护膜进行详细说明。<起偏器保护膜的光学特性>本专利技术的起偏器保护膜在反射图像鲜明度測定试验中的反射图像鲜明度Cn(% )的总和值艮(％ )满足以下的式(I)的关系，且总雾度值H(% )满足以下的式(2)的关系。120 ^ Rc ^ 185 式(I)40 ^ H ^ 60 式(2)、上述反射图像鲜明度測定试验使试验片(起偏器保护膜)的反射光的光量通过与反射光的光线轴正交的、以速度101111]1/1]1；[11移动的宽度11(1111]1)的光梳来进行測定。具体而言，使用映射性測定器(Suga试验机(株)制)进行測定。映射性測定器由使透过狭缝的光作为平行光线垂直入射到试验片，使该反射光通过移动的光梳进行检测的光学装置，和将检测的光量的变动作为波形来记录的測量系装置构成。光梳的明部和暗部的宽度比为I : 1，其宽度n(mm)为O. 5、1、2三种，移动速度为10mm/min。对于反射图像鲜明度Cn(% )，在反射图像鲜明度測定试验中，将光线轴上有光梳的透过部分(明部)时的反射光量的最高值设为Mn、光线轴上有光梳的遮光部分(暗部)时的反射光量的最小值设为mn时，由下述式(3)算出。Cn = {(Mn-mn) / (Mn+mn)} X 100 式(3)总和值Re(%)是光梳的宽度n(mm)分别为O. 5、1、2时的3个反射图像鲜明度C0.5(% ),^(% ),C2(% )的总和值，因此，能够取得的最大值是300%。 通过使总和值艮(％ )满足上述式(I)的关系，总雾度值H(% )满足上述式(2)的关系，从而能够提供表面有光泽、并且抑制由反射光引起的彩虹斑的发生的起偏器保护膜。在此，“总雾度值”由表示向起偏器保护膜照射光而透过的光线的总量的总光线透过率Tt和被起偏器保护膜扩散而透过的扩散光线透过率Td之比利用以下的式(4)求出。总雾度(%) = (Td/Tt) X 100 式(4) 总光线透过率Tt是与入射光同轴地透过的平行光线透过率Tp和扩散光线透过率Td之和。总光线透过率Tt和扩散光线透过率Td是基于JIS K 7361测定的值。起偏器保护膜的总雾度值具体地如下进行測定。即，首先，为了防止膜的翘曲，对于起偏器保护膜，以光扩散层102成为表面的方式使用光学透明的粘合剂将基材薄膜101侧贴合在玻璃基板上，制成试验片，对该试验片測定总雾度值。总雾度值使用基于JIS K7136的雾度透过率计(例如，(株)村上色彩技术研究所制的Haze Meter “HM-150”)，测定总光线透过率Tt和扩散光线透过率(Td)，根据上述式(4)计算。<光扩散层>图I所示的起偏器保护膜100具有层叠于基材膜101上的光扩散层102。光扩散层102是以透光性树脂103本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
2011.03.18 JP 2011-0610701.一种起偏器保护膜，具有光扩散层， 在反射图像鲜明度测定试验中的反射图像鲜明度Cn的总和值R。满足下述式(I)的关系、且总雾度值H满足下述式(2)的关系，所述Cn以％计， 所述反射图像鲜明度测定试验使来自试验片的反射光的光量通过与反射光的光线轴正交的、以速度10mm/min移动的宽度n的光梳来进行测定,所述n的单位是mm, 在所述反射图像鲜明度测定试验中以光线轴上存在所述光梳的透过部分时的反射光量的最高值为Mn、光线轴上存在所述光梳的遮光部分时的反射光量的最小值为mn时，所述反射图像鲜明度Cn由下述式(3)算出，所述Cn以％计， 所述总和值R。是所述光梳的宽度n分别为0. 5、1、2时的反射图像鲜明度Ca5X1X2的总和值，所述n的单位是mm， 120 ≤ Rc ≤185 式(I) 40 ≤H ≤ 60式(2)Cn = {(Mn-mn) / (Mn+mn)} X 100 式(3)。2.根据权利要求I所述的起偏器保护膜，其中，层叠基材膜和所...
【专利技术属性】
技术研发人员：福浦知浩，
申请(专利权)人：住友化学株式会社，
类型：发明
国别省市：
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